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涂层侧厚仪的校准方法

迪斯凯瑞123

2019/01/11

　　1、涂层侧厚仪的校准方法
　　基底校准
　　把仪器稳当的，贴合的放在两个(铁基只有一个、基底上测试如果测试结果都是0，那么可直接拿校准片进行测试，或者直接测试客户产品;如果测试基底结果是有数值的，按“ZERO(开关机键左边、”键归零后再测试基底(不能放在校准片上校准，否则出现负数、，测试基底显示为0说明校准成功。如果仍然有数值，可重复以上归零步骤，直到校准值为0.
　　例子：在铁或者铝基底上测试3.0(或其他任何数值、，然后按“ZERO”归零后再放在对应的铁或者铝的基底上测试，如果是0，说明校准成功，有数值请重复以上步骤，直到测试基底为0
　　2、了解影响精度的因素
　　基体金属磁性质
　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
　　(a) 基体金属电性质
　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
　　(b) 基体金属厚度
　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
　　(c) 边缘效应
　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
　　(d) 曲率
　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
　　(e) 试件的变形
　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上不能测出可靠的数据。
　　(f) 表面粗糙度
　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
　　(g) 磁场
　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
　　(h) 附着物质
　　本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
　　(i) 探头压力
　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
　　(j) 探头的取向
　　测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

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