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x荧光光谱仪做As的曲线

分子荧光光谱

  • 仪器是理学四型x荧光光谱仪，端窗铑靶，在用国家一级标准物质(GSD和 GSS)做曲线时发现，低含量的As的强度比高含量的还要大，因此在曲线上体现出低含量的点位于高含量点上面，虽然线性很好，但不敢直接拿来测样品，不知道出现这种情况是因为什么，本人刚接触x荧光不久，想向各位专家请教一下，由衷感谢
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