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『请教』如何手动扣样品空白?

原子荧光光谱(AFS)

  • 这次我在北京参加培训的时候,问了工程师一个问题
    没有得到确切的答案。
    问题是这样的
    原子荧光仪器设计的时候,就给了两个空白的位置。
    要么取其中一个,要么取平均作为样品空白
    样品值如果小于样品空白,计算浓度均为0

    而在实际工作中,由于工作的需要,三个甚至更多的样品空白或者重复
    那该怎么办?(培训讲课的齐老师就说他处理污染事故的时候,经常做五六个重复的。)

    我想了个方法
    就是在做完标准曲线以后,不接着做样品空白。
    将样品空白当作其他样品一样放在样品的位置测量
    得到相应的荧光强度和这个荧光强度对应的浓度值

    然后,我认为将样品测得浓度值减去空白样品的浓度值就是样品的真实浓度值;
    但是这个想法没有得到两个工程师的确认
    两个工程师认为如果对应的荧光强度想减后,
    再手动查荧光强度和浓度的曲线得到的浓度肯定没有问题
    但是如果用仪器计算的浓度就不一定了
    因为计算浓度的时候将空白值带入计算的话,会有误差。

    我说都是线性一次拟合的话,用仪器自己计算出的浓度来相减
    也不会有问题的。第三个工程默认了我的观点。

    到底我的方法如何?请指教
    谢谢。
    +关注 私聊
  • 第1楼2004/11/08

    应助工程师

    假如是线性过原点,两种方式都是等效的,假如是其他拟合方式,就要先把荧光强度相减!

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    +关注 私聊
  • 第2楼2005/03/19

    极是极是
    我有一次就范了在没有研究标线的情况下,直接用浓度来减的错误!!!

    iluvm 发表:假如是线性过原点,两种方式都是等效的,假如是其他拟合方式,就要先把荧光强度相减!

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