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奥林巴斯 Vanta 手持式X射线荧光分析仪工作原理

X射线荧光光谱仪（XRF）

  • Vanta分析仪利用X射线荧光原理来测定样品中的元素组成。当X射线照射到样品上时，原子内的电子会被激发至较高能级，随后返回基态时释放出特征X射线。这些特征X射线的能量与元素种类相对应，Vanta通过探测和分析这些X射线，能够快速准确地识别样品中的元素及其含量。
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