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Spot View/Spot View-FL亚微米级表面检测系统工作原理

  • Ins_fbe04b68
    2024/05/20
  • 私聊

红外光谱(IR)

  • Spot View/Spot View-FL系统利用光学显微镜原理,结合高精度的照明和成像技术,能够检测到亚微米级别的表面特征。系统通过调整照明角度和聚焦深度,捕捉样品表面的微小变化,生成清晰的图像。随后,图像数据通过算法分析,识别和量化表面的颗粒、划痕和其他缺陷,为质量控制和材料研究提供数据支持。
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