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afm原子力显微镜原理

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2024/10/22

综合仪器讨论

原子力显微镜（AFM）是一种用于表面纳米级成像的技术，其原理是利用一个尖锐的探针在样品表面扫描。探针连接在一个微型的悬臂上，当探针与样品表面相互作用时，悬臂会发生偏转或震动，这种变化会被激光反射系统或其他位移传感器检测到，并转化为电信号记录下来。通过分析这些信号的变化，可以构建出样品表面的三维轮廓图，从而实现纳米尺度的高精度表面形貌测量。AFM不仅可以用于导电材料，也可以用于绝缘材料，是材料科学、纳米技术和生命科学等领域的重要研究工具。

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