【求助】FTIR显微ATR红外光谱和XPS做表面分析有何异同？各有什么优劣？

XPS测试的是材料表面的电子结构、元素组成以及化学状态，而红外光谱得到的是表面的电子振动结构信息，可以知道表面的吸附成键等情况。
您具体提到的显微红外光谱我没有接触过，从字面应该可以用来红外成像，研究表面的形貌。XPS对表面形貌还无能为力。近年来也逐渐发展起了光电子成像技术，如PEEM.
XPS技术的优点在于灵敏度高，可以得到材料电子结构方面的一些本征信息，因为这种技术要求在超高真空系统测试，要求样品表面清洁处理，从而排除外界吸附杂质的干扰。而光谱多半没有超高真空的限制，实验过程相对简单方便。
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◎是这样的。电子振动谱，又叫声子振动谱。红外光谱就是测的声子振动，能量范围为meV，而电子能谱大约是10～1000eV的能量范围。应用上也有差别，红外谱的发展比电子能谱早，有些电子能谱教科书中有时举例硫代硫酸钠样品的两种技术的测试结果，说明XPS价态分析的优越性。供参考。

本质区别在于取样深度。FTIR-ATR的取样深度为1-2微米。XPS的取样深度在10nm之内。

我感觉ATR-FTIR(衰减全反射红外光谱)的灵敏性不如XPS，我对我的表面改性样品分别进行了ATR-FTIR和XPS表征，结果好多次ATR-FTIR都没看到改性效果，而XPS的数据有明显的效果。

ATR-FTIR 也是表面分析的一种技术，但严格说还不能算是表面分析技术，其信息深度可能在微米级别，而且一般对有机物 比较有效。一般用于有机物的定性和结构鉴定

xps是典型的表面分析仪器，对表面非常灵敏，可以进行表面元素的定性 定量和化学态等的分析，其信息深度在几个纳米以内，对无机物分析很有效，对有机物的分析还比较有限，一般只能对简单的有机物进行定性或辅助结构鉴定，如有些功能团鉴定

根据自己的经验，很多xps能够测到表面有有机物存在的时候，红外测不出来，显然xps的表面灵敏度远高于红外。