【求助】电镜照片出现横条纹，是探头脏了么？

会不会是coating的问题，造成图像over-charge？建议改变coating条件（coating时间和电流强度）再试一下。

怪我没有表达清楚，使用的是公司提供的标准样品金颗粒。所以，应该排除样品的因素。

这种问题比较麻烦，多种可能性，只能一样一样排除，闪烁体污染、探头高压、光电倍增管、电源干扰、地线干扰.......

闪烁体污染、探头高压、光电倍增管、电源干扰、地线干扰.......

工程师说应该不是高压引起的（其引起的是图像扭曲），电源和地线干扰的可能性不大，可能就真是探头脏了。。。

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您的安装工程师水平太差了， 对着探头吹气真是太可笑了， 看来FEI只知道卖SEM， 技术服务实在难以恭维。
SEMUSER朋友的五种推测是相当准确的。

还可以再试试背散射图象以便进一步确认,本人感觉像探头高压或光电倍增管电压不稳,电路板上图象处理部分也有可能出问题,只能一点点查了

谢谢大家的支持！谢谢！

高倍率下看样品图像的边界有明显的波纹,我用的HITACHI 的S-5200 SEM 也出现过类似的症状, 叫HITACHI的上海办事处的工程师过来处理,也没有处理好, 后还是把在日本总部的专家找来才解决, 楼主应该从分子泵的安装状态进行检查,检查分子泵是否安装紧,分子泵工作时的轻微震动会引起图像出现毛刺波纹.

从现在的图像上看，主要是横向贯穿图像的条纹，应该和图像采集系统相关，分子泵震动应该是引致图像的锯齿状干扰，应该不会引起条纹。