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【求助】原子力显微镜做kelvin probe 模式的问题求解~~

扫描探针显微镜SPM/AFM

  • 请问我用原子力显微镜做kelvin probe 模式扫描时候, 和表面形貌同时得到的图,是称为表面电势图像吗? 它所表示的是表面电势, 还是样品的功函数差??? 还是其他的呢??
    表面电势和功函数的概念到底这么理解??
    谢谢大家~
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  • rapido

    第1楼2007/09/20

    根据KPFM原理,样品的功函数是针尖功函数减去样品的表面电势。如果你针尖的功函数是已知的,那么你就可以得到样品的功函数。如果针尖的功函数不知道(例如,你的探针是合金涂层的),则需要标定,一般使用新揭开的HOPG,或者新蒸镀的金,多次扫描取均值。

    另外,功函数对于表面吸附是很敏感的,所以如果要求精确,需要在高真空环境下做KPFM.(从我的经验来看,对于金,大气和真空中相差0.3eV左右)

    此外,研究表明(光电子能谱,KPFM)不同的晶面功函数是不同的,Ashcroft 的 Solid state physics有比较详细的解释。

    KPFM,在研究电子结构方面是一种有力的工具,但对于实验数据的解释却不容易,常常需要考虑探针的影响,如针尖展宽效应等。另外对于无机半导体,含还需要考虑表面态,即费米能级在表面态的钉扎现象。

    以上是是本人的一点体会,希望多多交流,共同进步。

    30521991 发表:请问我用原子力显微镜做kelvin probe 模式扫描时候, 和表面形貌同时得到的图,是称为表面电势图像吗? 它所表示的是表面电势, 还是样品的功函数差??? 还是其他的呢??
    表面电势和功函数的概念到底这么理解??
    谢谢大家~

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