PP-TOFMS Depth Profiling of ZnO Thin layers co-doped with Rare Earths for Photonic Materials

2016/10/12   下载量： 6 次

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等离子体分析飞行时间质谱仪结合了辉光放电等离子体的溅射速度和时间飞行质谱的快速以及高灵敏度，实现了高分辨率和高灵敏度条件下固体材料的快速化学深度剖析。

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等离子体分析飞行时间质谱仪结合了辉光放电等离子体的溅射速度和时间飞行质谱的快速以及高灵敏度，实现了高分辨率和高灵敏度条件下固体材料的快速化学深度剖析。


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文献贡献者

HORIBA（中国）
白金会员 丨 第22年
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