超高真空X射线光电子能谱仪

DA0084

特长

通过半球形能量分析仪和黑白X射线进行高分辨率光电子能谱分析。
可与MBE装置对接,在不破坏超高真空环境的环境下,对样品进行分析测定。


规格

分析室 付镍铁合金屏蔽罩
样品尺寸 10mm×10mm
角度分辨率 0.05°
样品操纵装置 4轴马达控制装置(X, Y, Z, θ)
排气系统 IP / TSP,TMP,SP



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