四探针测试系统（for 300/450mm wafer）

四探针测试系统（for 300/450mm wafer）

参考价：面议
型号： SR5000N
产地： 其他
品牌： AIT
评分：
核心参数
南京伯奢咏怀电子科技有限公司
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产品详情

产品简介：

SR5000N是一款用于测量硅片和太阳能电池片的面电阻和电阻率的系统。该系统是为便于个人计算机操作而设计的，具有多种数据分析、绘图等功能.


技术参数：

- Z大可测样品尺寸：Φ300mm 或 210×210mm

面电阻测量：1mΩ/sq ～ 2MΩ/sq

- 测量模式 : 接触式 4-探针

电阻率测量：10.0 μΩ·cm ～ 200.0 KΩ·cm

- 测量模式 : 接触式 4-探针 (需输入厚度)


软件系统：

- Recipe 测试：根据使用者设定的 Recipe 直接测试 

- 标准测试：ASTM、SEMI 

- Pattern 测试：49，81，121，225 点等 

- 数据分析：2D、3D、数据图谱、统计等

- 数据 & mapping 可打印


主要特点：

- X,R,Z轴全自动控制系统

- 自动& 手动范围可选

- 通过PC进行控制

- 更大尺寸（Φ450mm 或 315 x 315mm）可选


南京伯奢咏怀电子科技有限公司为您提供AIT四探针测试系统（for 300/450mm wafer）SR5000N，AITSR5000N产地为其他，属于四探针方阻测试仪，除了四探针测试系统（for 300/450mm wafer）的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供null、null、null,McScience中国代表处客服电话400-860-5168转1730，售前、售后均可联系。

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