UV~NIR钙钛矿LED寿命测试系统
OLED 瞬态EL & 瞬态PL变温测试系统
OLED/钙钛矿LED 角度PL测试系统
产品简介:
M6000 PIXX 影像式 钙钛矿LED/OLED 寿命衰减机理分析系统
主要用于OLED / 钙钛矿LED / QLED / 柔性电子器件,喷墨印刷工艺开发等器件的寿命衰减机理研究,微区电致发光成像监测
主要客户:香港大学,南京理工大学......
经典型 OLED 寿命测试系统
OLED I-V-L测试系统
OLED 光电&寿命综合测试系统
OLED TOF测试系统
面议
高性能有机材料金(III)配合物设计发光器件
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