非接触方块电阻测试仪

非接触方块电阻测试仪

参考价:¥5万 - 10万
型号: 20J3
产地: 美国
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载德半导体技术有限公司
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非接触无损方块电阻测试仪

产地:美国


原理和技术:

非接触方块电阻测量仪使用涡电流(Eddy Current)的测试原理。涡电流(也称为感应电流)可产生一个磁场,当磁场与导电材料接触时,会在材料中感应到涡流。根据感应涡流的电流大小,可以计算得到该材料的面电阻(方块电阻)。


该技术的优势:

  1. 是一种非接触、无损的测量方式,不破坏材料;

  2. 可以测量密封在绝缘层内的导电层;

  3. 每秒采样次数高达数万次,测量速度快;


测量范围:

配备不同的测试头可以测量不同范围的面电阻。

10X测试头:5 ~ 100,000 (Ohms/sq) ;

1X测试头:0.5 ~ 10,000(Ohms/sq) ; 

0.1X测试头:0.05 ~ 1,000(Ohms/sq);

0.01X测试头:0.005 ~ 100(Ohms/sq);


应用领域:

- 防静电/导电薄膜;

- 天线;

- 汽车;

- 电池;

- 装饰薄膜/纸张;

- 显示器;

- 花线电路和柔性电路板;

- 电镀;

- 玻璃窗;

- 金属化电容用箔;

- 金属化标签;

- 微波感应器;

- 包装;

- 雷达吸波材料;

- 反射和反光材料;

- 半导体;

- 太阳能;

- 透明导电薄膜;


载德半导体技术有限公司为您提供非接触方块电阻测试仪20J3,null20J3产地为美国,属于其他,除了非接触方块电阻测试仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其他,载德半导体客服电话400-860-5168转3241,售前、售后均可联系。

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