方案摘要
方案下载应用领域 | 材料 |
检测样本 | 天然高分子材料 |
检测项目 | |
参考标准 | / |
在本申请说明中,具有35μm宽的硅图案的样品以14μm的间隔排列在钛基板上。当硅在空气中被氧化时,形成SiO2膜,并在获得反射光谱后分析这些膜的厚度。 关键词:MSV-5200显微分光光度计,VWML-791多层分析程序,材料
MSV-5000系列显微分光光度计适用于从紫外到近红外的宽波长范围内的透射和反射测量。内置的高分辨率相机可以精确测量直径小至10μm的样品区域,因此最适合具有微观结构的样品。
HPLC 中的采样频率、响应时间和柱外效应
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