MDPpro 晶圆片/晶锭少子寿命检测仪
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MDPpro 晶圆片/晶锭少子寿命检测仪

报价:面议
型号: MDPpro
产地: 德国
品牌: 弗莱贝格仪器
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产品详情
简介
该设备依据SEMI标准PV9-1110,采用非接触式和无损成像技术,进行光电导性、电阻率及p/n类型的检测,适用于晶圆切割、炉内监控及材料优化等。其测量速度快(<4分钟/晶锭),日产量高(>240块/天),并具备高良品率、高可靠性和高可重复性(>99.5%)。此外,该设备还能够进行电阻率面扫描、金属杂质检测(如铁浓度)、陷阱浓度测定及硼氧测定等精密材料研发工作,并能实现对不可见缺陷的高灵敏度可视化检测。

根据SEMI标准PV9-1110的非接触式和无损成像(μPCD / MDP(QSS))、光电导性、电阻率和p/n检查。

晶圆切割,炉内监控,材料优化等


日常寿命测量,质量控制和检验

最佳产量:>240块/天或>720片/天
测量速度:对于156x156x400mm标准晶锭,<4分钟
良品率提升:1mm切割标准为156x156x400mm标准晶锭
质量控制:用于过程和材料的质量监控,如单晶硅或多晶硅
沾污检测:起源于坩埚和生产设备的金属(Fe)
可靠性:模块化和坚固耐用的工业仪器,更高可靠性,运行时间> 99%
可重复性:> 99.5%
电阻率:可做面扫描,不需经常校准


精密材料研发

铁浓度测定
陷阱浓度测定
硼氧测定

依赖于注入的测量等




特性
无接触和无破坏的半导体检测
特殊“underneath the surface”寿命测量技术
对不可见缺陷的可视化测试具有很高灵敏度
自动设置硅錠切割标准
空间分辨p/n电导型变换检测


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