方案摘要
方案下载| 应用领域 | 电子/电气 |
| 检测样本 | 照明产品 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | 企业标准 |
通过颐光系列椭偏仪可以快速准确表征LED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等重要参数，确保材料以及产品的品质。此外采用集成式在线监测装备系统PMS支持定制，可快速准确完成产品的测量任务之同时完美整合到生产工艺流程中，大幅度降低企业生产成本并提高生产效率，确保产品的市场竞争力，实现企业价值最大化。
行业背景
2009年-2014年，全球平板显示行业收入从921.12亿美元增长至1,310亿美元，产值规模不断扩大，已经成为产值超过千亿美元的成熟产业。全球平板显示产业经过快速发展阶段后，预计随后近十年，全球平板显示市场的增长将趋于平缓。经过近几年的技术发展，OLED屏幕终于成了业界追逐的新焦点。
OLED材料具有全固态、主动发光、高对比度、超薄、低功耗、无视角限制、响应速度快、工作范围宽、易于实现柔性显示和3D显示等诸多优点，因此被业界认为是最有发展前景的新型显示技术之一。OLED目前主要应用在手机，但由于电视尺寸大部分集中在大尺寸上，因此成为OLED未来产值增长最主要的驱动力。
面临挑战
OLED技术目前相对还不成熟，存在拼缝、成品率、成本高等问题，所以短期内对LED显示屏不构成威胁。这样势必加大OLED电致发光材料的研发投入，以及生产工艺的流程控制，降低成本，来增加产品的市场竞争力。因此会涉及到OLED电致发光层的各项重要指标需要有效测量，确保其材料质量；在OLED生产工艺中涉及到工艺控制整合，这样一方面确保产品的品质，另一方面降低生产成本，从而提高产品竞争力以及企业的生产整合效率。
解决方案
过ME-L穆勒矩阵椭偏仪可以同时快速准确测量OLED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等；采用集成ME-L穆勒矩阵椭偏仪的在线监测装备系统PMS可快速准确完成产品的测量任务之外，可完美整合到生产工艺流程中。
通过下图可获取不同测量点所对应波长位置的完整的吸收系数K值
文献贡献者
薄膜光伏测量应用解决方案
IC行业纳米测量应用解决方案
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