聚焦离子束系统FIB

聚焦离子束系统FIB

参考价:面议
型号: customized
产地: 德国
品牌: 蔡司
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产品详情

FIB是将离子源产生的离子束经过离子枪加速聚焦后作用于样品表面,应用于:产生二次电子信号取得电子像,此功能与SEM相似,用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工,通常是以物理溅射的方式搭配化学气体反应,有选择性的剥除金属,氧化硅层或沉积金属层

芯片领域应用:IC芯片电路修改,Cross-Section 截面分析,FIB透射电镜样品制备,材料鉴定

液态金属离子源:分辨率3nm@30kv  120nm@1kv

检测器:Inlens SEInlens EsBVPSE(可变气压二次电子探测器)SESI(二次电子二次离子探测器)、aSTEM(扫描透射电子探测器)、aBSD(背散射探测器)


深圳市矢量科学仪器有限公司为您提供蔡司聚焦离子束系统FIBcustomized,蔡司customized产地为德国,属于进口聚焦离子束显微镜,除了聚焦离子束系统FIB的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多聚焦离子束显微镜,客服电话,售前、售后均可联系。

售后服务
  • 产品货期: 60天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训

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