一款适用于4英寸及以下晶圆测试的标准探针台,也可用于单个器件,或样片的测试。 常用于搭配晶体管图示仪、数字源表或者半导体参数分析仪,对器件的 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数进行测试; 可用于测试的器件如:CMOS 晶体管、双极晶体管、分立器件、存储器、功率器件、纳米器件等;应用场景如研发阶段的芯片测试,生产中芯片或晶圆的抽样检测,或是器件可靠性测试等。 另有丰富的测试辅助配件供选择,如防震光学平台、测试屏蔽箱、加热控制器等。 整个探针台系统占用空间小,操作灵活,简单易用。能满足用户对产品的基本测试要求,是小型实验室,检测部门的不错选择! |
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