对多通道功率驱动照明和OLED寿命测量进行了优化。
M6000 PLUS OLED寿命测试系统是用来测试OLED材料在高、低温之间承受持续电源或环境变化的能力,从而了解在指定时间内降解引起的化学变化或物理损伤。适用于OLED器件,Panel,模组;寿命测试结果可作为改进和提高OLED材料质量的参考或依据。
-相对寿命测试
-相对I-V-L试验
-老化测试
-多电流/光电流范围
-方序列运算
-利用温/湿控制腔室进行加速测试
主要客户:
高校/研究所:香港大学,清华大学,吉林大学,南京大学,大连理工大学,南京邮电大学,聊城大学,华中科技大学,上海交通大学,合肥工业大学...... 中科院理化所,中科院长春应化所,中科院苏州纳米所......
企业客户:三星,LG,Merck,Apple,Toray, Idemitsu Kosan,Tosoh,Novaled, Cynora,Microoled, Applied Materials, Dow,Dupont,UDC..... 京东方,天马微电子,华星光电,维信诺,柔宇科技,咸阳彩虹......
1年
是
有
1次,根据需要可再协商
根据需要可协商
24小时响应
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