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台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
通用
F（9）- 92U（92）
0.01%
145eV
0.1%
X射线荧光分析仪BRA-135F可实现固体、粉末和液体样品及物体表面覆盖物和滤网中沉积样品的快速分析，二十几种元素可在300s内同时测定，检出限在100ppm 量级范围内。
能量色散荧光分析仪工作原理是用SDD半导体检测器探测样品被激发源激发所散射的各种能量的特征X射线荧光。半导体检测器的原理为，当X射线射入半导体时，带能量的射线量子转化为脉冲电流向外电路输出，因此探测器输出信号振幅与接收到的X射线能量成正比，根据输出信号的幅度和大小，对样品中化学元素进行定性定量分析。
特点：
分析元素范围9F - 92U
定量分析
采用基本参数法进行元素定量半定量分析
内置控制PC
免辐射安全检查，无需特殊提供房间放置
方法优势：
XRF在同类元素定性定量分析方法中占主导地位。主要特点为：样品无损检测、多元素同时分析、分析速度快、准确率高；灵敏度高、可检浓度范围大、定量分析理论发展水平高、无标样也可进行定量分析。
高分辨SDD探测器
配有超薄衍射线接收窗口的硅探测器，扩大了X射线能量检测范围
检测限低
优化了探测器制造材料及初级滤光片的厚度，加配了高亮度的X射线光源系统，这使检测限降低，保证了各元素得到最佳测试效果，真空状态下可以测定从9F到17Cl的轻元素。
形状不规则样品的分析
可用于大块或不规则形状样品测试，如：
大尺寸矿产和金块
工业物品的ROHS分析
金属及合金的来料控制
特殊细胞中或滤膜表面液体的分析
实用性
完善的辐射安全防护
重量轻便便于搬运
内置电脑
可连接到局域网远程控制测量分析和数据的存档
可集成到实验室信息管理系统
防止未经授权的数据访问，保护数据
技术指标：
分析元素范围 | 9F - 92U |
不改进探测器时的检测限，% | |
Na ~Mg Al ~Cl K ~U | 0,01 0,002 0,0005 |
样品进行预先浓缩时的检测限（由化学元素决定） | 1.5*10-5 |
单个样品分析的平均时间，s | 100 |
能量分辨率（对Mn的Ka线）脉冲分辨频率小于104 s-1，eV | 145 |
X射线发生器的最大功率，kW | 50 |
X射线能量，W | 10 |
X射线封闭管冷却剂 | 空气 |
初级X衍射滤膜，pcs | 5 |
单次进样个数 | 15 |
不规则样品最大尺寸，mm | Φ200х60 |
联网 | 是 |
移动 | 是 |
体积 | 700х410х400 |
设备重量，kg | 65 |
电力供应 | 220 V, 50 Hz |
消耗功率，VA | 500 |
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