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概述：
透射电子显微镜是唯一的提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位电学性能测试系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，可在三维空间内对电学探针与光纤探针进行亚纳米级精度的操纵与定位。通过电学探针施加电场，通过光纤施加光场，对单个纳米结构进行操控并进行电学性质、光电性质的测量。并可在物性测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，极大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
本系统包括包括两部分，分别是扫描探针控制器（内含电流前置放大器）与原位测量样品杆部分。
原位光电测试样品杆端头设计：
包含一个三维纳米压电操纵单元。
金属探针与光纤探针同时安装在三维纳米压电操纵单元上，同时移动控制。
金属探针接触样品的同时，保证光纤探针对准样品。光信号可照射在样品上。
多种样品装载方式可选。
功能：
应用实例
规格参数：
透射电子显微镜指标
保证透射电镜原有的分辨率（非球差校正）。
光电测量样品杆为单倾杆，单纯电学测量样品杆可选单倾杆或者双倾杆。
粗调范围：XY方向3.0mm，Z方向1.5mm。
细调范围：XY方向20um，Z方向2.0um。
细调分辨率：XY方向0.3nm，Z方向0.03nm。
包含一个电流电压测试单元。
电流测量范围：0-30mA。最小电流分辨率：300fA。
电压输出范围：普通模式±10V，高压模式±150V。
自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。
光纤外径250um，保证电镜系统真空指标
可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜
可选SMA接头、FC接头
扫描探针操纵指标（金属探针与光纤探针同时运动）
电学测量指标
光纤指标
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