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基于Phasics四波横向剪切干涉专利技术，SID4-HR波前分析仪提供了相位和强度高分辨率（400x300测量点）图。由于它测量发散光束不需要中继镜头，简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途：等离子体密度测量，相位成像显微…
SID4-HR 光学器件测量 自适应光学
特点：
由于其独特的专利技术，Phasics的SID4-HR波前传感器具备以下特点：
1.超高分辨率：400x300相位图
2.直接测量发散和准直光束
3.从400到1100nm消色差
4.自校准：振动不敏感和容易对齐
5.紧凑，体积小
应用：
由于其分辨率高，SID4-HR波前传感器提供新的可能性应用：
激光：光束诊断、自适应光学和等离子体表征
光学：精密透镜测试和表面测量
生物学：定量相位显微术
SID4-HR产品参数：
波长范围 | 400 - 1100 nm |
通光孔径 | 8.9 x 11.8 mm2 |
空间分辨率 | 29.6 μm |
采样点（相位/强度） | 300 x 400 (> 120 000 points) |
相位相对灵敏度 | < 2 nm RMS |
相位精度 | 15 nm RMS |
动态范围 | > 500 μm |
采样频率 | > 10 fps |
实时分析频率 | > 3 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 54 x 46 x 79 mm |
重量 | ~250 g |
1年
否
有
1人/次
根据厂家保修条款
免费质保，易耗品不在保修范围。
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