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基于Phasics专利的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.4到1.7μm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
SID4-Swir 光学器件测量 自适应光学
特点：
由于其独特的专利技术技术，Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率：160x128测量点
2.高灵敏密度：整个光谱范围内相位噪声低于2nm
3.消色差：0.4-1.7μm（可扩展到2.4μm）
4.紧凑：易于集成
应用：
透镜测试：SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信，夜视和其他军事和监视设备。无色差，SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。
激光束测试：SID4 SWIR也可以短波红外光源，像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。
SID4-Swir产品参数：
波长范围 | 0.4-1.74μm（可扩展到2.4μm） |
通光孔径 | 9.6 x 7.68 mm2 |
空间分辨率 | 60 μm |
采样点（相位/强度） | 160 x 128 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏度 | <2nm RMS |
相位精度 | ~ |
动态范围 | ~ |
采样频率 | 120 fps |
实时分析频率 | 10 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 95 x 50 x 58 mm |
重量 | 355g |
1年
否
有
1人/次
根据厂家保修条款
免费质保，易耗品不在保修范围。
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