报价 ¥1000 - 4999
综合评分 暂无
品牌
型号
产地
应用领域
营业执照已认证
看了白光干涉测厚仪的用户又看了
ICP光谱仪GENESIS-德国斯派克
Filmetrics F20 光学膜厚测量仪
1700℃炉温ZHX节能高温箱式电阻炉
1700℃炉温ZHX台式高温箱式电阻炉
全自动流动注射氢化物发生器
TFX3000--300mm全自动精密薄膜测量系统是睿励科学仪器(上海)有限公司自主研发和生产的具有完全自主知识产权的集成电路生产线工艺检测设备。本产品的应用范围包括刻蚀(Etch)、化学气相沉积(CVD)、光刻(Photolithography)和化学机械抛光(CMP)等工艺段的测量,能准确的确定半导体制造工艺中的各种薄膜参数和细微变化(如膜厚、折射率、应力等)。
暂无评论,点击发布评论
相关产品
其它测厚仪
X射线荧光测厚仪
电磁/电涡流测厚仪
在线测厚仪
白光干涉测厚仪
超声波测厚仪
电解式测厚仪
压力测厚仪
白光干涉仪
薄膜厚度测量仪
Kurabo
油膜测厚仪红外膜厚仪耐指纹钝化膜防锈油自润滑油应用
KLA 膜厚仪/测厚仪 F20/F32/F40/F50/F60
贝拓科学Betop 白光干涉测厚仪Delta
Filmetrics F60-t薄膜厚度测量仪
F54-XYT-300薄膜厚度测量仪
F54-XY-200薄膜厚度测量仪
FR-uProbe微米级薄膜表征
便携式光学膜厚仪
F20 薄膜厚度测量仪
F40薄膜厚度测量仪
F50薄膜测厚仪
扫描型光学膜厚仪 FR-Scanner
SpecMetrix 飞机饰面、底漆和涂层厚度测量
SpecMetrix 膜重测试站
高级实验室涂层厚度测量系统
SpecMetrix® 增强型实验室涂层厚度测量系统
SpecMetrix® ACS 金属罐涂层厚度和膜重测量系统
全自动光学关键尺寸和形貌测量系统
等离子体灰化
自动宏观缺陷检测系统
专为LED市场开发生产的自动光学检测设备
自动宏观缺陷检测系统,适用于300mm硅片
KLA
佰汇兴业
贝拓科学
优尼康科技
优可测
颐光科技
艾泰克
载德半导体
中图仪器
八帆仪器
迈可诺
上海纳腾
港东科技
韵鼎国际
Labcan Scientific
湛华仪器
艾尧仪器
Insustrial Physics
当前对比仪器已满5台