P-7建立在市场领先的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
台阶高度:几纳米至1000μm
微力恒力控制:0.03至50mg
样品全直径扫描,无需图像拼接
视频:500万像素高分辨率彩色摄像机
圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差
软件:简单易用的软件界面
生产能力:通过测序,模式识别和SECS / GEM实现全自动化
台阶高度:2D和3D台阶高度
纹理:2D和3D粗糙度和波纹度
形状:2D和3D翘曲和形状
应力:2D和3D薄膜应力
缺陷复检:2D和3D缺陷表面形貌
大学、研究实验室和研究所
半导体和化合物半导体
LED:发光二极管
太阳能
MEMS:微机电系统
数据存储
汽车
医疗设备
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3年
否
有
免费的现场培训
自设备验收完毕,保修期内每年两次免费拜访;
如非用户原因发生设备故障或使用缺陷,卖方将免费提供维修和保养。
在用户报修后的在4小时内以邮件或电话回复响应,必要的话24小时内到达现场。
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