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MultiMode V SPM 是***好的扫描探针显微镜。它能够提供全部的原子力显微镜 (AFM) 和扫描隧道 (STM) 显微镜成像技术，可以测量样品的表面特性，如形貌、粘弹性、摩擦力、吸附力和磁/电场分布等等。样品和探针之间的简略机械设计确保了系统的*高的扫描速率和*大的准确性。
该系统集成的全新 NanoScope V控制器确保了可靠、高速的数据采集能力，采集空间可达 5000×5000 的高象素密度。因而研究人员可以在之前的SPM技术中是无法实现的时间分辨内记录和分析针尖——样品相互作用。这种划时代的控制器设计允许同时采集和显示多达8个通道的图形和数据；支持强大的软件功能性和通用性；支持Easy－AFM这简约的图形化用户界面软件，尤其适合于初学者以及经常重复同一模式、同一类操作的用户。品平移台。
技术参数：
1.Multimode V产品手册
2.TappingMode Imaging: Application and Technology
3.Lateral and Chemical Force Microscopy:Mapping Surface Friction and Adhesion
4.TappingMode AFM Imaging in Fluids for the Study of Colloidal Particle Adsorption
5.Phase Imaging: Beyond ography
6.原子力显微镜扭转共振成像模式（TR-Mode)介绍
7.骨胶原纤维的大范围高分辨AFM形貌图分析
8.探针悬臂弹性常数的使用建议
9.单个细菌粘附的AFM形貌及力谱研究
10.原子力显微镜探针弹性系数的热调制测定法
11.如何用原子力显微镜探测DNA与蛋白质间的相互左右
12.用原子力显微镜直接表征单个免疫复合物形成机理
13.AFM与SEM：高分辨率表征手段上的互补
14.液态环境中的轻敲模式
主要特点：
多达5120×5120象素的图像可以大大减少等待结果的时间，用户不必再费力地一遍遍地去改变图像观察和数据采集的位置，或者将一些低象素数的图像拼合在一起以获得大范围高分辨图像。
使用该控制器，用户可以方便地通过前置面板上的BNC接口输入和输出绝大多数的信号。用户可以将来自外部信号源（如光电倍增管）输入控制器；可以将信号传递给锁相放大器；也可以获取和分析显微镜的数据或将其反馈给显微镜（如XYZ传感器信号、振幅、相位等）。这些功能可以被任何基于Microsoft组件对象模块（Component Object Model, COM）的外部软件所调用。
EASY-AFM，重要的操作简化为了使整体的操作流程简单易行，NanoScope V控制器支持Easy-AFM?傻瓜式界面控制软件，提供一种易学易用的图形化用户界面。对于大多数样品，Easy-AFM均可以大大缩短样品测试所耗费的时间，这取决于改控制界面简化了从仪器初始化过程（包括探针、激光和检测器的调节）、探针逼近样品、扫描参数调节到获得TappingMode图像的全过程。.
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