共 7 篇方案
方案 白光干涉仪中薄膜与镀层行业应用检测方案(白光干涉测厚)
其他 | 其他
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bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200
方案 扫描隧道显微镜中电极表面化学反应检测方案(扫描探针)
brkuer布鲁克扫描探针显微镜Dimension XR
方案 样品中表征检测方案(扫描探针)
德国BRUKER 原子力显微镜AFM Dimension FastScan
方案 原子力显微镜中应用检测方案(扫描探针)
bruker布鲁克原子力显微镜NanoWizard 4 XP
方案 原子力显微镜中应用检测方案(白光干涉测厚)
其他 | 薄膜材料
bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-500
方案 晶圆制作中台阶高度、粗糙度、凹槽深度检测方案(台阶仪)
物理性质 | 集成电路
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德国布鲁克Bruker 探针式表面轮廓仪台阶仪 DektakXT 纳米级表面测量
方案 优可测白光干涉仪AM7000系列半导体-晶圆表面粗糙度检测解决方案
表面粗糙度 | 电子元器件产品
优可测 咨询
优可测白光干涉仪AM-7000系列ER-230-三维形貌测量轮廓仪
台阶仪