方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 电子元器件产品 |
检测项目 | |
参考标准 | 应力双折射检测 |
通过独有的光子晶体技术,在很短的时间内得到透明样品的双折射大小和内应力的分布状况,通过软件得到具体的数值来积累数据。
应力双折射测量系统可以应用于产品生产的整个流程, 如射出成型的产品,从原材料的选择,到成型的条件,工艺的改进以及产品完成后的检查,可以有限的降低企业的成本,提高产品的附加值。
应力双折射测量系统更易于快速、精确的测量应力双折射及其空间分布和方向。与逐点测量方法相比,图像测量系统具有明显的优势,除了对空间分辨率有较高要求的应用外,相对较低的面形质量要求也是一个重要的方面。
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