型号: | 脉冲I/V测试系统(am3200系列) |
产地: | 美国 |
品牌: | Maury |
评分: |
|
Maury 微波公司脉冲测量技术专业化程度高而且普遍被业内用户认可,搭配MPI探针台系统其解决方案既可以作为独立的脉冲IV 、脉冲S参数测量设备也可以为负载牵引系统中的被测器件提供脉冲直流偏置。
产品包括集成了电源的主机,以及控制器、给被测器件的输入端(栅极/基极)和输出端(漏极/集电极)供电的远端脉冲前端模块。系统的运行与控制则使用IVCAD 器件特性表征和建模软件。脉冲宽度可窄至200ns,适合于三五族器件的高功率窄脉冲测试。
1、脉冲测量技术专业化程度高
2、脉冲宽度精确度高
主要应用于三五族器件的高功率窄脉冲测试。
Tektronix/Keithley 半导体参数分析仪 S530
MPI TS2000-SE探针台
iwatsu 半导体器件图示仪器CS3000/5000/10000系列
英铂信号测试系统/半导体测试机瞬态热阻测试仪
英铂功率分析仪YBHTOL-1000 功率器件工况老化测试平台
英铂功率分析仪GaN晶圆级动态功率测试系统
滨松HAMAMATSU其它无损设备EMMI微光显微镜 PHEMOS-X
聚能晶源Genettice微流控芯片GaN外延产品
OKMETIC微流控芯片SOI硅片/图案化硅片/单抛片/双抛片
爱德万ADVANTEST失效分析设备TS9001 TDR分析系统
MPI探针台MPI 全自动KGD测试系统MPI Die Prober Series
概伦电子primarius半导体器件测试仪器FS-Pro 半导体参数测试系统
Maury矢量接收机负载牵引系统
是德科技Keysight逻辑分析仪PNA网络分析仪 N5291A
Maury校准器脉冲I/V测试系统(am3200系列)
关注
拨打电话
留言咨询