型号: | 瞬态热阻测试仪 |
产地: | 山东 |
品牌: | 鲁欧智造 |
评分: |
|
瞬态热阻测试仪是一种用于材料科学领域的仪器。
1、温控设备参数:冷媒:硅油;温度范围:-20°C ~ 150°C;温度误差:≤0.1°C;显示分辨率:0.01°C;支持所有工位同时测量
2、标定控制:自动温度稳定判断;自动样品电压稳定判断;支持用户设定稳定容判据;支持迟滞消除;支持用户设定标定点数;支持所有测量通道同时标定
3、历史数据保存:保存标定过程数据• 设定温度VS时间• 实际温度VS时间• 样品电压VS时间;通过历史数据记录可
4、输出结果: K系数标定数据(电压VS温度);包括NTC/PTC的拟合结果;支持多种数据拟合方式;各个K系数拟合度R2值;支持多个K系数曲线对比
主要应用于半导体器件、LED光电器件等热学分析、测试,具体包括:测试该器件的热阻、结温、同一封装器件不同封装材料的热阻(积分、微分曲线结构函数等)。
Tektronix/Keithley 半导体参数分析仪 S530
MPI TS2000-SE探针台
iwatsu 半导体器件图示仪器CS3000/5000/10000系列
英铂信号测试系统/半导体测试机瞬态热阻测试仪
英铂功率分析仪YBHTOL-1000 功率器件工况老化测试平台
英铂功率分析仪GaN晶圆级动态功率测试系统
滨松HAMAMATSU其它无损设备EMMI微光显微镜 PHEMOS-X
聚能晶源Genettice微流控芯片GaN外延产品
OKMETIC微流控芯片SOI硅片/图案化硅片/单抛片/双抛片
爱德万ADVANTEST失效分析设备TS9001 TDR分析系统
MPI探针台MPI 全自动KGD测试系统MPI Die Prober Series
概伦电子primarius半导体器件测试仪器FS-Pro 半导体参数测试系统
Maury矢量接收机负载牵引系统
是德科技Keysight逻辑分析仪PNA网络分析仪 N5291A
Maury校准器脉冲I/V测试系统(am3200系列)
关注
拨打电话
留言咨询