型号: | MPI 全自动KGD测试系统 |
产地: | 台湾 |
品牌: | MPI |
评分: |
|
MPI模具探针系列-极快的探测和分类周期,以降低测试成本。
无论是VCSEL, EEL, PD还是LED, MPI广泛的Die probe系列都能提供高性能的系统性能,以满足测试和测量要求。凭借其灵活的系统可配置选项,快速的探针和测试周期时间以及多站点测试能力,MPI模具探针将您的生产提升到一个新的水平,并将成为您测试各种光子学器件的完美系统。
1、高可配置性
2、减少测试费用
3、多点试验
4、热测试
5、快速准确的取放能力
6、高速循环
7、物料搬运能力
8、优异的测试精度
Tektronix/Keithley 半导体参数分析仪 S530
MPI TS2000-SE探针台
iwatsu 半导体器件图示仪器CS3000/5000/10000系列
英铂信号测试系统/半导体测试机瞬态热阻测试仪
英铂功率分析仪YBHTOL-1000 功率器件工况老化测试平台
英铂功率分析仪GaN晶圆级动态功率测试系统
滨松HAMAMATSU其它无损设备EMMI微光显微镜 PHEMOS-X
聚能晶源Genettice微流控芯片GaN外延产品
OKMETIC微流控芯片SOI硅片/图案化硅片/单抛片/双抛片
爱德万ADVANTEST失效分析设备TS9001 TDR分析系统
MPI探针台MPI 全自动KGD测试系统MPI Die Prober Series
概伦电子primarius半导体器件测试仪器FS-Pro 半导体参数测试系统
Maury矢量接收机负载牵引系统
是德科技Keysight逻辑分析仪PNA网络分析仪 N5291A
Maury校准器脉冲I/V测试系统(am3200系列)
关注
拨打电话
留言咨询