电离源

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电离源相关的资讯

  • 李海洋团队研发高效摩擦电离质谱离子源 可显著提升电离效率
    近日,中科院大连化学物理研究所快速分析与检测研究组李海洋研究员团队在微型质谱仪的大气压进样接口中发现了摩擦电离现象,并且通过改变粗糙度等措施,显著提升了微型质谱仪的电离效率。该工作不仅阐明了非连续大气压接口(DAPI)的微型质谱在开闭过程中摩擦电离现象的存在;同时,提供了一种无需光、热、辐射的新型质谱离子源。  非连续大气压接口的微型质谱具有体积小、便携等优点,被广泛应用于毒品、爆炸物和环境污染物的现场检测中。前期,李海洋团队发展了试剂分子辅助大气压化学电离源,并与离子阱质谱仪联用,实现了痕量检测毒品(Anal. Chem.,2019;Anal. Chem.,2020)、爆炸物、农药等。  该工作发现,在没有外加电离源时仍可在非连续大气压接口离子阱质谱上观测到很强的离子信号,并确证了夹管阀开启过程中,硅胶管内部摩擦可以引起电离;对硅胶管材质、内壁粗糙度、摩擦次数和频率等参数的优化后,信号强度增强近20倍。此外,团队还将该摩擦电离技术用于酮类水溶液流过后的硅胶管中,可以检测到管内壁残留的酮类化合物,初步展现这种不需要热、光、辐射、辅助气体或溶液的摩擦电离在表面检测方面的潜力。  上述成果以“Triboionization in Discontinuous Atmospheric Pressure Inlet for a Miniature Ion Trap Mass Spectrometer”为题,发表在《分析化学》(Analytical Chemistry)上。  文章链接:https://doi.org/10.1021/acs.analchem.1c02611
  • 我国质谱电离源研究工作取得新进展
    电离源是质谱、离子迁移谱等检测仪器的关键部件之一。近年来,以“软电离”为核心的实时监测和在线分析技术得到了越来越广泛的应用。   中科院大连化学物理研究所李海洋研究员领导的科研团队基于光强为1011光子/秒的VUV灯,研制成功了一种可以快速切换的高效的新型单光子电离(SPI)和化学电离(CI)复合电离源。将该电离源与飞行时间质谱结合,成功对痕量挥发性有机物进行了分析检测。实验结果表明,在SPI模式下,对苯、甲苯、对二甲苯的检测灵敏度为3 ppbv、4 ppbv和6 ppbv。而利用SPI和CI模式的切换,实现了较宽电离能范围的复杂混合有机物的在线监测,并成功用于长链烷烃脱氢反应过程和水中消毒副产物的在线监测。该结果已刊登在美国化学会Analytical Chemistry上。   本次发表的论文是在前期研制开发的新型双极性电离源(UVRI)基础上(Analytical Chemistry, 2010, 82 (10):4151-4157)的又一次突破性进展。近3年来,课题组已有3篇关于新型电离源研制的文章发表在Analytical Chemistry,且研制的电离源已经在产业化爆炸物、毒品检测用离子迁移谱上得到广泛应用。
  • 大连化物所研发高效摩擦电离质谱离子源
    近日,大连化物所快速分析与检测研究组(102组)李海洋研究员团队在微型质谱仪的大气压进样接口中发现了摩擦电离现象,并且通过改变粗糙度等措施,显著提升了微型质谱仪的电离效率。该工作不仅阐明了非连续大气压接口(DAPI)的微型质谱在开闭过程中摩擦电离现象的存在;同时,提供了一种无需光、热、辐射的新型质谱离子源。  非连续大气压接口的微型质谱具有体积小、便携等优点,被广泛应用于毒品、爆炸物和环境污染物的现场检测中。前期,李海洋团队发展了试剂分子辅助大气压化学电离源,并与离子阱质谱仪联用,实现了痕量检测毒品(Anal. Chem.,2019;Anal. Chem.,2020)、爆炸物、农药等。  本工作发现,在没有外加电离源时仍可在非连续大气压接口离子阱质谱上观测到很强的离子信号,并确证了夹管阀开启过程中,硅胶管内部摩擦可以引起电离;对硅胶管材质、内壁粗糙度、摩擦次数和频率等参数的优化后,信号强度增强近20倍。此外,团队还将该摩擦电离技术用于酮类水溶液流过后的硅胶管中,可以检测到管内壁残留的酮类化合物,初步展现这种不需要热、光、辐射、辅助气体或溶液的摩擦电离在表面检测方面的潜力。  上述成果以“Triboionization in Discontinuous Atmospheric Pressure Inlet for a Miniature Ion Trap Mass Spectrometer”为题,发表在《分析化学》(Analytical Chemistry)上。该工作的第一作者是大连化物所102组博士研究生徐楚婷。该工作得到了大连化物所创新基金的支持。  文章链接:https://doi.org/10.1021/acs.analchem.1c02611

电离源相关的方案

电离源相关的论坛

  • EI电离源

    EI电离源一般产生的离子碎片是不是都比分子量要小,还有这种电离方式是不是离子碎片一般都是一价的,谢谢

  • 【求助】化学电离源的反应气

    请问:1,化学电离源(ci)中的反应气为什么大多数用甲烷等,而很少用氢气?2,一般的化学电离源能检测到氮气和氧气的峰吗?也就是说氮气和氧气在化学电离方式下容易形成离子峰吗?谢谢各位的回答。

  • 分子电离源

    分子被轰击成碎片峰,可多种电离源的方式:EI源,ESI源,APCI源等,请问:这些离子源轰击出的离子碎片峰在离子质谱图的形式上是一样的吧

电离源相关的资料

电离源相关的仪器

  • 为当今先进的MS技术增添新的气质功能APGC可为Xevo和SYNAPT质谱仪提供电离源。这是一种“软”电离源,也就是说:对于许多化合物而言,这种电离与诸如EI等技术相比,得到的碎片较少。减少碎片数量,可以提高灵敏度和特异性,很容易得到MS/MS分析中的母离子信息。基于沃特世通用离子源结构和“工程精简(Engineered Simplicity&trade )”的设计理念,从UPLC到GC的切换就变得十分快速与简便。APGC并不是一种需要真空的技术,因此这两种技术切换后的平衡时间可以压缩到最短。这意味着用户可以根据业务需求选择分析方法,从而使仪器的正常运行时间和利用率达到最大化。现在气质分析也可以采用沃特世独特的先进质谱技术,例如RADAR&trade 、MSE和HDMS&trade 等。解开样品中蕴藏的秘密,确保您的分析能得到更多的信息。 Xevo TQ-S与APGC结合 - 超痕量定量Xevo TQ-S /APGC配备了独特的StepWave&trade 技术,可以实现超痕量级检测。这样,在符合规定限值的同时,还可以减少样品基质的注入,降低对气质系统的污染,从而延长仪器正常运行时间。这种独特的源设计可以提供更高的基质耐受性和出色的进样重复性。StepWave离子传输光学设备和检测技术可以在最大动态范围内进行准确和精密的定量。Xevo G2-S QTof与APGC结合 - 利用GC进行更大范围的化合物鉴定、定量和确认许多分析都需要交叉使用LC和GC。沃特世 Xevo G2-S QTof可通过ACQUITY UPLC和GC分离,对样品进行完整的筛查。MSE可以为科学家提供样品中每一种可检测成分的母离子和碎片离子的精确质量谱图,简化了成分鉴定的过程。QuanTof&trade 结合了创新的几何学和离子检测系统,可以增强灵敏度、提供出色的色谱/质谱分辨率,以及在质谱分析动态范围内的基质耐受性、定量性能和质量数准确度。Xevo G2-S QTof经过专门设计,可以满足科学家在最复杂和最具挑战性的样品环境中进行最大范围的化合物鉴定、定量和确认的需要。SYNAPT G2-Si与APGC结合 – 为气质提供研究级的高分辨离子淌度分离APGC可以为GC用户提供前所未有的高水平的研究级高分辨离子淌度分离,并具备一系列独特的实验功能,能够获得超越任何其它分析平台的新发现。这种精确质量数、分离度和离子淌度的结合,可实现无可比拟的选择性水平,提供前所未有的样品信息完整度。利用高效的T-Wave&trade 离子淌度分离技术,有助于实现优异的分离效果,为您的分析增添更多的维度。这些前沿技术的结合,可以提供比以往更广泛的实验选择范围,让您能够最大程度地获取样品信息。SYNAPT可以为您的分析带来第三个维度,并且它已被证明:无论在何种应用中,都能为您提供崭新的分析视角。注意:本页面内容仅供参考,所有资料请以沃特世官方网站为准。
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  • 谱育科技自主研发的TRACE 8000 化学电离飞行时间质谱仪,将高灵敏度化学电离源和高分辨飞行时间质量分析器进行结合,具有灵敏度高、分析速度快、分辨率高、测量组分种类多等突出优点;仪器具有创新的辉光放电源、高压离子漏斗和静电透镜传输技术,保证样品的电离效率和离子的传输效率,适用于走航监测、食品科学、材料分析、爆炸物和药物检测等方面的应用。产品概述性能优势分析速度快微秒级的扫描速度,可捕捉目标物质的瞬时变化,为科学研究、应急监测、生产过程的高通量监测提供有效手段。分辨率高可实现复杂混合物样品中分子量相近物质的分析识别,解决传统低分辨直接进样质谱分析定性难的问题,将“看不见”变成“看得见”,追溯物质本源。多试剂离子可选配合试剂离子快速切换系统,根据目标物质的化学特性,可选择H3O+、O2+、NO+等多种不同电离能的试剂离子进行靶向电离,适测物质涵盖醛、酮、有机硫、有机胺、卤代烃、苯系物、长短链烃类等,是优选的快速检测技术。 应用领域TRACE 8000 化学电离飞行时间质谱仪适用于走航监测和园区VOCs在线监测,可实现VOCs精准溯源及扩散预警。可对半导体生产过程中的AMC、食品生产的风味物质进行实时监控;石油化工生产过程中移动测量、定点在线监测;材料中有害成分的快速鉴定分析;人呼出气体的宽动态范围内的追踪分析。
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  • 原位电离源(GAIS ) 400-860-5168转4769
    GAIS是一款原位软离子源。可以实现高灵敏度、快速、无损、高时间分辨率电离。避免高能电子轰击源(EI)对待测物质的碎片化、质子转移化学电离源(PTR)无法测负离子物质的不足,GAIS可获取气态和颗粒态有机物完整的分子离子信息。 通过基座与质谱连接,兼容传统商业质谱! 可使传统质谱具备在线测量和解析气态和颗粒态分子的能力。
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电离源相关的耗材

  • 化学电离(CI) 源
    产品特点: 因为 CI 源的操作压力远比EI 源高,故与EI 相比,需要更经常地清洗。无论何时发现有与离子源污染相关的性能不正常,就应该清洗。让分析性能作为您清洗的指示。当清洗 CI 源时,要特别注意CI 推斥极,离子源体和拉出极板。确保清洗离子源体和拉出极板上的0.5 mm 直径的孔。清洗 CI 离子源与清洗EI 源很相似。使用与清洗EI 源相同的清洗步骤,下面的步骤除外: &bull CI 源看起来可能不脏,但是,化学电离的沉积物很难除去。彻底清洁CI 离子源 &bull 使用圆型牙签轻轻擦拭离子源体上的电子入口孔和拉出极板上的离子出口孔 &bull 不要使用卤代试剂。最后用己烷清洗 订货信息: 5975/5973 MSD 化学电离源部件(CI) 项目 说明   部件号 1 离子源体   G1999-20430 2 拉出极板   G1999-20446 3 拉出极柱体   G1999-20444 4 透镜绝缘体   G3170-20540 5 离子聚焦透镜   G1999-20443 6 入口透镜   G3170-20126 7 推斥极绝缘体   G1999-20433 8 推斥极   G1999-20432 9 耐高温灯丝   G1099-80053 10 螺帽,镀金   G1099-20021 11 接口端密封件/弹簧   G3170-60412
  • 5977//7000 MSD 化学电离源部件(CI)
    化学电离(CI) 源因为CI 源的操作压力远比EI 源高,故与EI 相比,需要更经常地清洗。只要出现与离子源污染相关的性能异常就应该清洗离子源。将分析性能作为您的指示。当清洗CI 源时,要特别注意CI 推斥极、离子源体和拉出极板。确保清洗离子源体和拉出极板上的0.5 mm 直径的孔。清洗该离子源的方法非常类似于清洗EI 离子源的方法。采用EI 的清洗操作步骤,以下内容除外:◇ CI 离子源可能看起来不脏,但是,化学电离留下的沉积物非常难以除去。彻底清洗CI 离子源◇使用圆形木质牙签轻轻擦拭离子源体上的电子入口孔和拉出极板上的离子出口孔◇不能使用卤代溶剂。最后一步清洗要使用己烷5977/5975/5973/7000 MSD 化学电离源部件(CI)项目说明部件号1透境组配套螺丝G1999-200222螺帽,镀金G1999-200213接口端密封件/弹簧G1999-604124推斥极绝缘体G1999-204335透镜绝缘体G3170-205406拉出极柱体G1999-204447拉出极板G1999-2044685977 CI 350 推斥极组件G3170-604169入口透镜组件G3170-2012610离子源体G1999-2043011离子聚焦透镜G1999-2044312推斥极G1999-2043213灯丝组件(CI),2/包G7005-6007214垫圈,SPR CRVD,内径 1.6 至 1.8 mm,外径 4 mm,不锈钢3050-1375
  • 安捷伦化学电离(CI) 源_北京谱合生物科技有限公司
    化学电离(CI)源因为CI 源的操作压力远比EI 源高,故与EI 相比,需要更经常地清洗。只要出现与离子源污染相关的性能异常就应该清洗离子源。将分析性能作为您的指示。当清洗CI 源时,要特别注意CI 推斥极、离子源体和拉出极板。确保清洗离子源体和拉出极板上的0.5 mm 直径的孔。清洗该离子源的方法非常类似于清洗EI 离子源的方法。采用EI 的清洗操作步骤,以下内容除外:. CI 离子源可能看起来不脏,但是,化学电离留下的沉积物非常难以除去。彻底清洗CI 离子源. 使用圆形木质牙签轻轻擦拭离子源体上的电子入口孔和拉出极板上的离子出口孔. 不能使用卤代溶剂。最后一步清洗要使用己烷 5977/5975/5973/7000 MSD 化学电离源部件(CI)项目 说明 部件号1 透境组配套螺丝 G1999-200222 螺帽,镀金 G1999-200213 接口端密封件/弹簧 G1999-604124 推斥极绝缘体 G1999-204335 透镜绝缘体 G3170-205406 拉出极柱体 G1999-204447 拉出极板 G1999-204468 5977 CI 350 推斥极组件 G3170-604169 入口透镜组件 G3170-2012610 离子源体 G1999-2043011 离子聚焦透镜 G1999-2044312 推斥极 G1999-2043213 灯丝组件(CI),2/包 G7005-6007214 垫圈,SPR CRVD,内径1.6 至1.8 mm,外径4 mm,不锈钢 3050-1375
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