光场测量

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  • 西安光机所在超短激光脉冲光场测量研究方面取得重要进展
    近日,西安光机所阿秒科学与技术研究中心在超短激光脉冲光场测量研究方面取得重要进展。研究团队创新性提出基于微扰的三阶非线性过程全光采样方法,该方法的可测量脉冲脉宽短至亚周期,波段覆盖深紫外到远红外,具有系统结构简易稳定、数据处理简单等优点。相关两项研究成果相继发表在Optics Letters。论文第一作者为特别研究助理黄沛和博士生袁浩,通讯作者为曹华保研究员、付玉喜研究员。   超短激光脉冲作为探索物质微观世界以及产生阿秒脉冲的重要工具,其完整的电场波形诊断尤为重要。目前普遍采用的表征技术广义上可分为频域测量、时域测量两类。在频域,具体有频率分辨光学门控(FROG)、光谱相位干涉法 (SPIDER)和色散扫描(D-SCAN)等主要方法,通过测量非线性过程产生的光谱信息来间接获取超短脉冲脉宽及相位。此类方法因装置简单易于搭建而被广泛采用,但通常需要复杂的反演迭代算法,并且难以获得光电场信息,而且受限于相位匹配机制,比较难以应用于倍频程以上的激光脉冲测量。   而基于时域采样的测量方法通常不受严格的相位匹配限制,并且对电场波形很敏感,可用于直接测量光电场,近年来发展势头较好。研究团队提出基于微扰三阶非线性过程的全光采样方法是一种基于时域采样的测量方法,在实验中分别应用瞬态光栅效应(TGP)和空气三倍频效应(Air-THG),准确的测量了钛宝石激光器输出多周期脉冲(750-850nm,25fs)、基于充气空心光纤后压缩技术(600-1000nm,7.2fs)和双啁啾光参量放大系统(1300-2200nm,15fs)产生的少周期脉冲,实现了覆盖可见、近红外到中红外波段的超短脉冲测量,可以满足不同波段超短脉冲测量的需求。未来此项进展可以在阿秒驱动源快速诊断、超短激光脉冲测量装置国产化等方面发挥重要作用。
  • 鉴知科普 光谱仪波长标定测量方法
    鉴知科普 光谱仪波长标定测量方法波长精度和重复性是光谱仪重要的质量指标之一,两者对仪器的正确使用乃至实验结果有着很大影响;另外,由于温湿度、气压、磕碰等外界因素及仪器本身随着使用年限的增加,光纤发射角、光栅的衍射能力和检测器的探测效率等内部因素的变化,会对光谱仪传感器的响应产生影响,因此,光谱仪需要定期定标才能获得更准确的数据。定义:光谱定标就是明确成像光谱仪每个通道的光谱响应函数,即明确探测仪每个像元对不一样波长光的响应,从而获得通道的中心波长及其通光谱带的宽度。在实际微型光纤光谱仪中,光波波长是由CMOS像素所反映的,因此在实际测量中由于环境和时间的影响会引起光波波长与像素之间的变化,光谱仪中各CMOS像素所对应的实际光波波长必须准确确定,否则测量的准确度就会降低。如下图1所示,大家普遍使用的交叉式光纤光谱仪采用CMOS芯片收集光谱数据,为了得到准确的测量结果,光谱仪在使用前必须进行严格的标定,确定CMOS像素和光波波长的对应关系。图1 普遍使用的交叉式结构的光纤光谱仪常用的光纤光谱仪波长标定是采用特征光谱在CMOS对应的像素点上找到相应的位置,对于SR50C来说,探测用2048单元的线阵CMOS,测量光谱为200~1000nm,每个CMOS对应约0.4nm,光栅方程可以写成 其中,m为衍射级次,d为光栅常量,i为入射角(可以认为是定值),θ为衍射角,在小角度下可以认为(sinθ~θ~x),可知波长与衍射级次近似成线性关系,综合考虑大衍射角度等各种问题,我们可以采用最小二乘法三阶多项式进行拟合,从而得到最小的偏差平方和。式中a0,a1,a2,a3为拟合系数,x1,x2,…,x6为实测像素数,y1,y2,…,y6 为拟合后的波长。利用Matlab软件进行编程求解得到y=a0+a1x1+a2x2+a3x3中的拟合系数。采用汞-氩校准光源进行标定。以鉴知技术研发的微型光纤光谱仪SR50C为例,该光谱仪的汞氩灯光谱如图2所示图2 SR50C的汞氩灯光谱根据光纤光谱仪SR50C的波长标定结果来看,可以看出该产品的光谱范围广,支持200-1000nm范围内的光谱定制,可以实现紫外、可见光、近红外波段的高分辨率光谱检测。
  • 低温、磁场集一身,光、电测量总相宜——两月两篇顶刊,超精准全开放强磁场低温光学研究平台再露锋芒
    一、单层激子缘体的证据(Nature Physics)众所周知拓扑性和关联性之间的相互作用可以产生各种各样的量子相,其中许多原理仍有待探索。近的进展表明,单分子层WTe2在不同量子相之间具有高度的可调性,这一特点表明WTe2是一种很有前途的材料。这种二维晶体的基态可以通过静电调谐从量子自旋霍尔缘态转化为超导态。然而,关于量子自旋霍尔缘态的带隙打开机制仍不明确。近日,美国普林斯顿大学Ali Yazdani和 Sanfeng Wu(共同通讯作者)等报道了量子自旋霍尔缘体也是激子缘体的证据,它是由电子空穴束缚态(即激子)的自发形成引起的。文章于2021年12月发表于Nature Physics。原文图2,单层WTe2中电荷中性的缘状态相关测量 文章中作者通过巧妙的实验设计,结合电输运测量和隧穿谱测量,揭示了在样品电荷中性点存在一种本征缘状态,并证实了这种电荷中性缘态的相关性质。作者提供的证据证明样品不是能带缘体或局域缘体,并支持了在激子缘体相的存在。这些观测结果为理解具有非平凡拓扑的相关缘体奠定了基础,并确定了单层WTe2是基态激子量子相材料,为以后的应用提供了广阔的前景。原文图4,隧穿光谱揭示的关联特征和金属-缘体跃迁在本工作中作者使用Quantum Design生产的完全无液氦综合物性测量系统PPMS DynaCool 和超全开放强磁场低温光学研究平台-OptiCool进行了电运输和vdW隧穿的相关测量。OptiCool在2018年面世以来作为新型的强磁场低温光学研究平台受到了很多好评,并获得了当年的R&D100大奖。OptiCool的多种电学通道非常方便用户进行电学测量和栅压调控实验。OptiCool样品台直流通道(左)与腔体直流接口(右)OptiCool样品台交流通道(左)与腔体交流接口(右) 二、扭曲二维材料磁性体系中的磁畴和莫尔磁性的直接可视化(Science)扭曲非磁性二维材料形成的莫尔超晶格是研究奇异相关态和拓扑态的高度可调控系统。近些年来在旋转石墨烯等多种二维材料中都观察到了很多奇异的性质。在该工作中,来自华盛顿大学的徐晓栋教授课题组报道了在小角度扭曲的二维CrI3中出现的磁性纹理。原文图1,层堆叠依赖的磁性和扭曲双层CrI3的磁光测量作者利用基于NV色心的量子磁强计直接可视化测量了纳米尺度的磁畴和周期图案,这是莫尔磁性的典型特征。该篇文章中利用MOKE和RMCD对样品的磁性进行了精细的测量。研究表明,在扭曲的双分子层CrI3中反铁磁(AFM)和铁磁(FM)域共存,具有类似无序的空间模式。在扭曲三层CrI3中具有周期性图案的AFM和FM畴,这与计算得到的CrI3 莫尔超晶格中层间交换相互作用产生的空间磁结构相一致。该工作的研究结果表明莫尔磁性超晶格可以作为探索纳米磁性的研究平台。原文图3,双三层扭曲CrI3的磁光和NV磁强计扫描测量图该研究工作中对扭曲CrI3的MOKE和RMCD测量中使用了基于OptiCool系统的低温磁光测量系统。OptiCool具有多个窗口,超低震动,1.7K-350K超大控温区间等诸多优点可以满足各种高精度的低温强磁场光学测量。为了进一步满足用户的大数值孔径测量需求,OptiCool先后开发出了近工作距离窗口和集成物镜方案,可以满足各种用户的需求。OptiCool近工作距离窗口(左)与外部物镜(右)安装示意图内部集成室温物镜(左)与集成低温物镜(右)定制化方案示意图 三、OptiCool设备简介OptiCool是Quantum Design于2018年2月新推出的超全开放强磁场低温光学研究平台,创新特的设计方案确保样品可以处于光路的关键位置。系统拥有3.8英寸超大样品腔、双锥型劈裂磁体,可在超大空间为您提供高达±7T的磁场。多达7个侧面窗口、1个部超大窗口方便光线由各个方向引入样品腔,高度集成式的设计让您的样品在拥有低温磁场的同时摆脱大型低温系统的各种束缚。OptiCool是全干式系统,启动和运行只需少量氦气。全自动软件控制实现一键变温、一键变场、部窗口90°光路张角让测量更便捷;控温技术让控温更智能;新型磁体结合了超大均匀区与超大数值孔径。OptiCool让低温光学实验无限可能。OptiCool技术特点:☛ 全干式系统:完全无液氦系统,脉管制冷机。☛ 8个光学窗口:7个侧面窗口,1个部窗口;可升底部窗口☛ 超大磁场:±7T☛ 超低震动:10 nm 峰-峰值☛ 超大空间:Φ89 mm×84 mm☛ 控温:1.7K~350K全温区控温☛ 新型磁体:同时满足超大磁场均匀区、大数值孔径的要求。☛ 近工作距离:可选3 mm工作距离窗口或集成镜头方案 【参考文献】1、Jia et al., Nat. Phys (2021) https://doi.org/10.1038/s41567-021-01422-w2、Song et al., Science 374, 1140–1144 (2021) 26 November 2021

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  • 光谱角分布测量系统■ 全波段光谱透过率测量,反射角分布测量■ 全波段光谱反射率测量,反射角分布测量■ 波长范围:200nm-IR■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构■ 双层平台独立旋转,重复定位精度0.005度,分辨率0.00125度;■ 样品置于上层旋台,探测器置于下层旋台,样品和探测器可以任意角度工作;■ 台面上放置一个五维调整镜座,可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面■ 功能扩展:测量光栅衍射效率
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  • 仪器简介:DSR100系列探测器光谱响应度测量系统,是适应不断增长的材料科学对检测设备的需求而诞生的。它结合了北京卓立汉光仪器有限公司给多家科研单位定制的探测器光谱响应测量系统的特点和经验,采用国家标准计量方法进行测试,是光电探测器、器件、光电转换材料科研和检验的必备工具。技术参数:型号 DSR100UV-A DSR100UV-B DSR100IR-A DSR100IR-B波长范围 200~2500nm 1~14&mu m测试光斑\光斑模式 均匀平行光斑 汇聚光斑 均匀平行光斑 汇聚光斑尺寸 Ф2~20mm Ф0.3~3mm Ф2~20mm Ф0.3~3mm 光源 光源 氘灯/溴钨灯复合光源 溴钨灯/碳化硅复合光源光强稳定性 &le 0.8% &le 2%光源切换方式 软件自动切换 软件自动切换三光栅单色仪 光 谱分辨率 <0.1nm(435.8nm@1200g/mm光栅) <2.5nm (2615nm@75g/mm光栅)扫描间隔 最小可至0.005nm输出波长带宽 <5nm <10nm多级光谱滤除装置 根据波长自动选择滤光片,消除多级光谱杂散光  光调制频率 4~400Hz数据采集装置灵敏度 锁相放大器 2nV;直流数据采集可选标准探测器 标准硅探测器 (标定200~1100nm) 标准热释电探测器(标定1~14mm)光谱响应度测量重复性* &le ± 1.5% &le ± 5%光路中心高 305mm仪器尺寸 1500mm× 1200mm× 560mm控制机柜 标准4U控制柜,含计算机主要特点:◆ 宽光谱范围(200~2500nm或1~14&mu m可选),适用面广宽光谱范围意味着适用于各种不同样品,如响应在日盲区的深紫外探测器、响应在可见光的太阳能电池、响应在近红外的光纤传感器、响应在中远红外的红外光电传感器,都可以在DSR100上测量光谱响应度。◆ 开机即用的Turnkey系统设计,维护简单系统采用替代法的测量原理,设计成开机即用的turnkey模式,用户不需要在实验前对系统进行复杂的调试,日常维护也十分简单。◆ 调制法测量技术,提升测量结果信噪比DSR100系统采用调制法测量技术。调制法是目前国家计量单位采用的标准方法,通过选频放大的技术,可以大幅度抑制杂散光或环境噪声对测量精度带来的负面影响。DSR100系统针对弱信号采集专门设计了独特的前置放大电路,同时采用高性能的锁相放大器进行调制法测量。锁相放大器测量灵敏度达到2nV,动态范围达到100dB。通过提高测量灵敏度并且抑制噪声,DSR100系统可以从背景噪声中提取非常微弱的光电探测器响应信号。◆ 全反射光路设计,优化光斑质量由于各种光电探测器的光谱响应范围不同,因此好的探测器光谱响应度测量系统应该是宽光谱范围的,这样才能具备较强的通用性。在宽光谱范围的光学设计中,采用反射式的光路设计要比透射式得到更高品质的光束质量和均匀光斑。在透射式的光学系统中,影响光束质量和光斑品质的重要因素是色差,色差源自于不同波长的单色光在光学材料中的折射率不同,波长范围越宽,色差越明显。而在反射式的光学系统中,由于根本不涉及折射,所以不存在色差的问题。因此采用反射式光路,成像质量大大优于透射式光路,从而可以得到更高均匀度的平行光斑,或者更小尺寸的汇聚光斑。◆ 高稳定性光源,降低背景噪声影响尽管采用调制法可以降低系统杂散光和背景噪声对测量的影响,但光源本身的波动依然无法消除。因此,在采用调制法的系统中,光源稳定性反而成为系统噪声的主要来源。DSR100采用高稳定性的光源来保证系统的高重复性。右图是典型的光源相对强度的稳定度测量数据。◆ 全自动测量流程1)自动化测量流程得到高重复性样品的重复定位精度很大程度上决定了测量重复性,电动平移台重复定位精度10um,远远高于手动样品定位2)自动化测量流程降低了操作人员的要求按软件文字提示即可正确操作系统进行测量,不需要对操作人员进行复杂的培训,特别适合工业客户做检测用3)自动化测量流程提高时间利用率系统在预设方案后即自动运行测量流程,可提高操作人员时间利用率◆ 大空间样品仓,四壁可拆卸,方便系统调试特别设计的四壁方便拆卸的样品仓,给实验人员足够大的空间进行样品安装和调试。同时,也能容纳一些特殊体积的探测器,比如液氮制冷的探测器、条纹变相管等。实验人员的可操作性大大增强。◆ 激光监视光路选项,CCD图像监控,可对极小面积的光电探测器进行精确定位◆ 标准测量软件,数据导出格式支持第三方软件DSR100系统的软件保存所有测试第一手原始数据,可供实验人员导出成txt、xls等常见格式的文档,以便后期分析处理。
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  • 光电化学电池测量系统功能 测试种类:光电化学类太阳能电池 光谱范围:300-1100nm 白光光源:模拟太阳光光源ABA级 光功率:400uW/cm2 可测量参数:电池的光谱响应度、量子效率、短路电流、I/V曲线、I/T曲线、V/T曲线测试、光功率测试、支持多种通用的电化学测量方法,如CV等 可测样品尺寸:50mmX50mm 可测样品模式:直流测试法、直流偏置光测试法 光电化学电池测量系统特点 使用模拟太阳光光源 光电化学太阳能电池专用配置方案 双光源任选,波长连续可调单色光源+全光谱太阳光模拟 三电极测试方法 一体式架构,操作更简单方便 一键式测量方法 U盘式电化学工作站: 电位范围:±5V 电位分辨率:10uV 电位零误差:100uV 全电位范围控制误差: 1mV 电流测量精度:0.1% 电流分辨率:100pA 电流范围:±50uA~±5mA 电化学工作站可扩展微电流功能,分辨率:1pA 大电流功能:1A/12V
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光场测量相关的耗材

  • LED光电测量系统配件
    LED光电测量系统配件是一款进口的满足LED电光参数和性能测量的系统,它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射,光度学,色度以及效率参数。为了测量各种光源,孚光精仪公司为LED光电测量系统配件提供各种类型的灯具,光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备,使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量,使用积分球可以更为有效地收集光辐射,而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置,以满足标准测量的要求,能够适应外部光源测量的需要,融入最好的输出功率等级和精度的测量工具,也可根据用户的要求提供定制系统,更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。LED光电测量系统配件参数发射光谱 Emission Spectrum辐射通量 Radiant Flux (W)辐照度 Irradiance (W/cm2)亮度 Luminance (Cd/m2)色度坐标Chromaticity Coordinates(x,y)色纯度 Color Purity主波长 Dominant Wavelength峰值波长 Peak Wavelength发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)外部量子效率 External Quantum EfficiencyLED光电测量系统配件软件*能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上,这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。×控制采集点血和光谱数据,精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口,用户能以所需电压或电流范围扫描测试)×集合所有电学和光谱参数,用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标;*实时测量发光器件OLED测量系统配件规格组成:光谱仪,光纤,积分球,样品台,仪表,数据接口,软件光谱范围:200-850nm或 350-1000nm探测器:2048像素Si CCD阵列采光周期: 1毫秒--65秒光谱分辨率:1.5nm(FHWM)电压源 测量范围:±5μV - ±200V电流源测量范围:±10pA - ±1A电源要求:110/230VAC,系统尺寸:320x360x180mm系统重量:9.8kg
  • X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统
    X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统 X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统的独特设计专门用于测量荧光显微设备的光功率,具有绝佳的精准性和易用性。它以瓦特为单位显示数据,不仅可用于实验,还可以用于设备的安装和故障排除。该系统包括X-Cite® XP750传感器,外形小巧别致,专门设计用于显微镜载物台。它具有多种功能,可以对 X-Cite® 照明器或其他任何落射荧光光源的输出功率进行测量。为了实现zui终的可重复性,X-Cite® XR2100会利用光导管输入端口或物体平面上的X-Cite® XP750光功率计获得的功率数据,来校准X-Cite® exacte照明器。 功能和优势:功能优势X-Cite® XP750 小巧的显微镜载玻片尺寸适合标准的显微镜压片夹,更方便的直接从物镜测光,无需移除或重新配置设备兼容灯泡,激光和 LED 光源不仅技术ling先,还能适配多种显微镜,更经济探测面积高达 – 10mm同时适用低倍和高倍物镜无聚焦要求快速精确测量宽广的波长和功率测量范围适合多样化的用途和显微镜配置根据NIST/NRC标准进行校对测量结果准确,深受用户信任* NIST指美国国家标准技术研究所( National Institute of Standards and Technology)**NRC指(美国)全国科学研究委员会(National Research Council)***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。XP750规格规格内含物体平面功率传感器,配备电缆和连接器,适用于X-Cite® XR2100设备功率范围5μW-500mW测量分辨率0.01μW-1mW误差***±6%响应时间600ms(起始),3s(确保稳定显示)校准符合NRC** 标准波长范围320nm-750nm灯管类型/光源兼容性X-Cite® exacte,X-Cite® 120系列,汞/HBO,金属卤化物灯,氙灯,LED,激光物镜兼容性4X-63X,空气耦合,FOV直径小于10mm显示通过X-Cite® XR2100显示波长选择使用X-Cite® XR2100的上/下按钮或直接使用PC界面,以1nm为度量进行调节数据容量经X-Cite® XR2100PC控制查看/改变设置,确定波长,记录多个物镜的数据/滤光片/强度设置,下载/输出存储数据指令协议通过X-Cite® XR2100电源重量2.9oz (82g)尺寸(无盖)3″ x 1″ x 0.35″ (75mm x 25mm x 9mm)世界认证通过 X-Cite® XR2100质保一年X-Cite® 包含的技术受下列保护:US#6,437,861 US#7,335,901*NIST指美国国家标准技术研究所( National Institute of Standards and Technology)**NRC指(美国)全国科学研究委员会(National Research Council)***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。
  • 透反射测量支架 如海光电 透/反射光谱
    SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词:反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的,能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度<100mm样品通光口径(透射测量)直径10mm调节高度~150mm(其他长度可以定制)准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球(另外选配)用途 专为透反射光纤测量而设计,能有效固定光纤,防止因抖动等人为因素影响检测效果

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