角分辨光电子能谱

仪器信息网角分辨光电子能谱专题为您整合角分辨光电子能谱相关的最新文章,在角分辨光电子能谱专题,您不仅可以免费浏览角分辨光电子能谱的资讯, 同时您还可以浏览角分辨光电子能谱的相关资料、解决方案,参与社区角分辨光电子能谱话题讨论。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

角分辨光电子能谱相关的资讯

  • 750万!浙江大学角分辨光电子能谱仪采购项目
    项目编号:0625-22216H46项目名称:浙江大学角分辨光电子能谱仪预算金额:750.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):750.0000000 万元(人民币)采购需求:序号项目名称数量单位预算金额(万元)是否允许采购进口产品简要技术描述或基本概况介绍备注1角分辨光电子能谱仪1台750是详见招标公告后附的招标内容及需求。合同履行期限:详见《第四章 招标内容及需求》。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 首台高重频高通量高次谐波超快角分辨光电子能谱仪应用
    角分辨光电子能谱仪(ARPES)因其具有能量和动量分辨能力,是探测材料能带结构的重要手段。随着超快激光技术的不断发展,结合泵浦-探测技术的超快角分辨光电子能谱仪(TR-ARPES)由于兼具时间分辨能力,可以用来探测非平衡态的电子能带信息,因此近年来备受人们的重视。特别是基于高次谐波产生(HHG)的TR-ARPES还具有光子能量高、光子能量可调谐的优点,使得其探测范围可以覆盖到大范围布里渊区,在电荷密度波(CDW)材料、过渡金属二硫化物(TMD)材料的超快动力学过程研究中具有重要的作用。  近日,中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心极端条件物理重点实验室丁洪研究组(EX7组)的博士生陈发民、潘默君、刘俊德在钱天研究员和运晨霞副主任工程师的指导下,研制成功国内首台基于高重复频率、高通量高次谐波光源的超快角分辨光电子能谱仪(HHG-TRARPES),并通过了专家的现场测试(图1)。该仪器系统配备了六轴低温样品台,DA30半球分析器,极限真空优于10-10torr,最低温度小于6K,其光子能量连续可调(20-60eV),重复频率为0.4MHz。第18阶次光子(21.6eV)的能量分辨率为109meV,时间分辨率为120fs,样品位置处的光通量约为1011ph/s,综合参数达到世界同类型设备的一流水平。此外,全设备接入自主开发的控制系统,实现了集成化、智能化、便捷化操作,时间和角度联动扫谱,内置真空自锁与保护功能。目前实验装置已经进入稳定运行阶段,实现了对拓扑绝缘体Bi2Se3未占据态和电荷密度波材料1T-TiSe2能带动力学演化过程的测量(图2和图3)。这一设备的搭建完成,填补了国内相关领域的空白,为未来研究量子材料中电子的超快动力学过程、未占据态以及新型电子态提供了关键的实验平台。  这项工作及相关研究得到北京市科委、国家自然科学基金委、中国科学院战略性先导科技专项(B类)和中国科学院科研仪器设备研制项目等项目的大力支持。高次谐波光源部分得到光物理重点实验室L07组赵昆副研究员、魏志义研究员及联培博士生王佶、许思源等人的密切协助与配合(详细信息请见:科研进展∣高重复频率极紫外相干光脉冲的产生)。图 1:实验室设备全图图 2:拓扑绝缘体Bi2Se3未占据态的测量图 3: CDW材料1T-TiSe2的能带动力学过程(T=87K)图 4:集成控制系统
  • 国内首台纳米角分辨光电子能谱实验站建成启用
    近日,张江大科学装置集群再添科研利器。由上海科技大学负责设计研发和建设的上海同步辐射光源纳米角分辨光电子能谱(NanoARPES)实验站顺利通过了中国科学院组织的工艺测试验收。该实验站是上海同步辐射光源二期工程中纳米自旋与磁学线站的重要组成部分。这是我国首台NanoARPES装置,实验站的建成填补了国内相关研究设施的空白,总体参数性能达到国际顶尖水平。  NanoARPES技术通过将同步辐射光斑尺寸聚焦到百纳米量级(传统的ARPES光斑的1/100)获得具有空间分辨能力的角分辨光电子能谱,极大地拓展了ARPES的研究体系和范畴。NanoARPES既可高效率地探测极小尺寸的样品或具有相分离的多晶畴材料电子结构,又可开创性地研究样品边缘/畴界等局域空间的电子特性;对于低维材料人工异质结(如Moire体系)电子结构、拓扑量子材料边缘态等前沿科学问题探索更具有独特的优势。目前NanoARPES实验站仅在发达国家同步辐射光束线上部署运行,如美国ALS BL7、英国DIAMOND I05、法国SOLEIL ANTARE、意大利ELETTRA Spectromicroscopy。  国家“十二五”重大科技基础设施项目“上海光源线站工程”部署规划建设“纳米自旋与磁学线站”,其中NanoARPES实验站是国内首套同类装置,由上海科技大学负责建设。从初步设计,建设测试实验站(上海光源BL03U支线)到最终装置搭建历时近6年时间。在整个过程中项目团队自主创新,团结协作,克服了旋转真空腔设计、光路定位与诊断、样品位置精密操纵及稳定性、低温性能等多重技术难关,顺利按时完成项目的建设。  由来自中国科学技术大学、上海交通大学、中国科学院高能物理研究所和复旦大学的5名专家组成项目工艺测试专家组,详细审核了测试内容、测试方法和测试大纲,听取了项目研制报告和自测报告,并进行了现场测试。测试结果表明:NanoARPES实验站的实测光斑、能量分辨率、光通量等各项指标均达到或优于设计指标。其中,实验站水平/竖直方向的空间分辨率均优于200nm,能量分辨率优于10meV@91eV/30K。总体性能达到国际顶尖水平。  NanoARPES实验站的顺利建成及工艺验收意味着我国在此项光子科学先进测量手段上打破了国际垄断,为国内科学家开展相关研究提供了一流的研究平台。目前,该实验站已开始进行系统优化调试并开展了初步科学实验测试,将在不久的将来向全世界的科研用户开放。NanoARPES实验站200nm空间分辨率实测结果 NanoARPES实验站的设计与建设由上海科技大学物质学院陈宇林-柳仲楷项目团队完成。其中副研究员王美晓具体负责实验站的整体设计、搭建和工程项目推进;工程师王峰完成多自由度压电陶瓷样品台的研发、改进和液氦温度低温冷头的设计;机械加工中心主任、物质学院副研究员刘芳和大科学中心高级工程师刘鹏为项目的难点攻关和技术改进进行技术支持;特聘教授陈宇林,助理教授柳仲楷负责项目整体的规划、设计和协调管理。课题组内的博士后、研究生、本科生同学为实验站的搭建投入了大量的工作。上科大物质学院及拓扑物理实验室、大科学中心、机械加工中心为项目建设提供了有力的支持。上海光源二期工程团队提供了束线建设及技术支持。

角分辨光电子能谱相关的方案

角分辨光电子能谱相关的论坛

  • 光电子能谱原理

    http://www.physics.fudan.edu.cn/equipment/YuanLi_guangdianPu.htm1. 引言光电子能谱同其他各种表面分析手段一样,首先经物理学家之手开创,并随着它不断完善,在化学、金属学及表面科学领域内得到了广泛的应用[1]。历史上,光电子能谱最初是由瑞典Uppsala大学的K.Siegbahn及其合作者经过约20年的努力而建立起来的。由于它在化学领域的广泛应用,常被称为化学分析用电子能谱(ESCA),但是,因为最初的光源采用了铝、镁等的特性软X射线,此方法逐渐被普遍称为X射线光电子能谱(XPS)。另外,伦敦帝国学院的D.W.Turner等人在1962年创制了使用He I共振线作为真空紫外光源的光电子能谱仪,在分析分子内价电子的状态方面获得了巨大成功,在固体价带的研究中,此方的应用领域正逐步扩大。与X射线光电子能谱相对照,此方法称为紫外光电子能谱(UPS),以示区别。2. 基本原理光电子能谱所用到的基本原理是爱因斯坦的光电效应定律。材料暴露在波长足够短(高光子能量)的电磁波下,可以观察到电子的发射。这是由于材料内电子是被束缚在不同的量子化了的能级上,当用一定波长的光量子照射样品时,原子中的价电子或芯电子吸收一个光子后,从初态作偶极跃迁到高激发态而离开原子[2]。最初,这个现象因为存在可观测得光电流而称为光电效应;现在,比较常用的术语是光电离作用或者光致发射。若样品用单色的、即固定频率的光子照射,这个过程的能量可用Einstein关系式[3]来规定:式中hν为入射光子能量,Ek是被入射光子所击出的电子能量,Eb为该电子的电离能,或称为结合能。光电离作用要求一个确定的最小光子能量,称为临阈光子能量hν0。对固体样品,又常用功函数这个术语,记做φ。对能量hν显著超过临阈光子能量hν0的光子,它具有电离不同电离能(只要Eb<hν)的各种电子的能力。一个光子对一个电子的电离活动是分别进行的。一个光子,也许击出一个束缚很松的电子并将高动能传递给它;而另一个同样能量的光子,也许电离一个束缚的较紧密的电子并产生一个动能较低的光电子。因 图见网页。图1 用Mg KαX射线激发的氖PE谱 此,光电离作用,即使使用固定频率的激发源,也会产生多色的,即多能量的光致发射。因为被电子占有的能级是量子化的,所以光电子有一个动能分布n(E),由一系列分离的能带组成。这个事实,实质上反映了样品的电子结构是“壳层”式的结构。用分析光电子动能的方法,从实验上测定n(E)就是光电子能谱(PES)。将n(E)对E作图,成为光电子能谱图(如图1)。如上图那样简单的光电子谱图,对电子结构的轨道模型提供了最直接的,因而也是最令人信服的证据。严格的讲,光电子能谱应该用电离体系M+的多电子态方法来解释,比用中性体系M的已占单电子态(轨道)为好。3. 系内仪器资源我们系现有英国VG公司ADES 400角分辨电子能谱仪,它是一台大型超真空多功能表面分析设备。多年来,经过侯晓远教授实验室的多次改进,增加了快速进样装置和一台国产小型分子束外延装置[4],使实验者可以在不暴露大气的情况下,对自行生长样品的表面与界面进行分析测试;同时通过改进控制单元与计算机的接口,由原来的手动调节、机械录谱变为由计算机控制扫谱参数并记录扫描结果。图见网页。图2 多功能电子能谱仪与分子束外延装置的联机系统 ADES 400角分辨电子能谱仪系统如图(2)所示。整个系统由分析室(主室)、预处理室(预室)、快速进样室及小型MBE生长束源炉室四部分组成。电子能谱仪的本底真空度优于5×10-8Pa,配备有Ar离子枪可以处理样品,俄歇电子能谱(AES)测量样品表面化学状态,低能电子衍射(LEED)测量样品表面结构,另外该装置还有配备了双阳极X光枪(Al和Mg靶),可以做紫外光电子能谱(UPS)。生长室本底真空度优于3×10-8Pa,生长过程真空度优于3×10-7Pa。生长室中可以同时装5个由循环水冷却的蒸发源,同时还配备了一个可以对样品的表面晶体结构进行原位实时测量的反射式高能电子衍射(RHEED)装置,样品的生长速率可以由晶体振荡器来测量,而且样品架有加热装置,可以用来处理样品或对样品在生长时加温,此外,生长室还安装了可以自动控制的劈形样品生长装置。有关这套劈形样品生长装置的消息介绍可以参考论文[5]。因此这套设备可以用分子束外延的办法生长磁性金属和合金,然后再分析室进行一些表面测量,制备好的样品,用金或银做为保护层覆盖后,再拿出真空室进行结构和磁性测量。 4. 参考文献[1] 染野檀,安盛岩雄,《表面分析》,科学出版社(1983)[2] 王华馥,吴自勤,《固体物理实验方法》,高等教育出版社(1990)[3] A.Einsten, Ann.Phys.,17, 132(1905)[4] 朱国兴,张明,徐敏,《半导体学报》, 14,719(1993)[5] 丁海峰,硕士论文,1998,复旦大学

  • 一个关于光电子能谱的资料

    一个关于光电子能谱的资料[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=34389]光电子能谱[/url]

  • 光电子能谱及其在催化中的应用

    光电子能谱及其在催化中的应用[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=14329]光电子能谱及其在催化中的应用[/url]

角分辨光电子能谱相关的资料

角分辨光电子能谱相关的仪器

  • 备受赞誉的Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪(XPS)集合了卓越的性能、快速分析及杰出的化学灵敏度等优势。K-Alpha将前沿的单色化XPS优异性能与全智能自动化完美结合,尤其适合于多用户环境。K-alpha的易操作性,可同时满足经验丰富的XPS分析人员和初学者的需求。分析选项包括用于角分辨XPS数据采集的倾斜模块和用于空气敏感样品传输的可循环惰性气体手套箱。 强大的性能可选面积能谱深度剖析微聚焦单色器高分辨率化学态能谱快照采集绝缘样品分析定量化化学成像 无可比拟的易用性一键式样品导航和实验设定自动样品传输按需校准全能谱仪设定离子枪设定完全计算机操作 世界一流的软件 仪器控制 数据采集 数据解析 数据处理 报告生成 数据存档管理 审查跟踪日志 系统性能日志如您想了解更多关于K-Alpha X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
    留言咨询
  • Thermo Scientific ESCALAB QXi X 射线光电子能谱仪(XPS)是ESCALAB 系列的最新产品。作为可扩展的多技术表面分析平台,ESCALAB QXi有着空前的灵活性和完备的专业配置选项。汇聚前沿技术,打造出高效便捷的软件系统和高性能的硬件配置,带来世界一流的测试体验和高效的生产力。强大的Thermo Scientific&trade AvantageTM 软件系统集系统控制、设备状态实时监控与调节、数据采集、数据处理、报告生成等多功能于一身,操作便捷,快速高效。世界领先的分析性能●定量光谱成像 世界一流的能量分析器设计和双晶微聚焦单色化X射线源结合,实现了卓越的能量分辨率●快速高分辨平行成像 化学成像: 空间分辨率优于1um 回溯成谱: 回溯区域优于6um●无需背底修正探测器 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计,可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成 像的需求 空间连续的电阻阳极探测器创新技术,使得XPI成像分辨率达1um,所得数据无探测器背底特征,无需背底校正 直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果●微聚焦单色源 分析尺寸在20μm~900μm之间连续可调 卓越的灵敏度和能量分辨率 提供不少于20个靶材工作点,确保仪器终身使用过程中阳极靶无需更换●自动化高效离子剖析源 新型Ar离子团簇与传统单粒子离子源相结合,用于各类材料的深度剖析研究●高精确度角分辨XPS 软件控制分析位置和角度,确保数据的精确性和重复性 全套的ARXPS数据处理工具,可对纳米尺度的多层结构器件进行层厚计算●一键式荷电补偿 配有双束电荷中和系统,可以根据实际样品的需要独立控制开启。 适用于所有不导电样品及粗糙表面的精准荷电中和●强大的Avantage分析软件 全数字化仪器控制 系统软件可视化操作 全套XPS标准数据图库以及化合物结构鉴定数据库 自定义数据采集到报告生成模式操作简便●高度自动化 分析区域和角度分辨可选 自动化气体调节和真空控制●随时校准 能量标尺和仪器功函数的校准 离子枪定位和离子束聚焦●鼠标点击式样品导航 实时显示分析位置 高照明强度、强度可调设计灵活●ISS、ARXPS与REELS为标准配置●多功能进样室为标准配置●UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可选●可选的样品预处理附件,包括: 样品制备台、晶体清洁器、样品刮片器 样品加热/冷却装置 溅射清洁离子枪 蒸发器 高压反应室如您想了解更多关于EscaLab QXi X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
    留言咨询
  • 岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS Nova——最新成像自动型,业界领先位于英国曼切斯特的Kratos公司是世界上最早生产商品化X射线光电子能谱仪的厂家之一,现在是世界上最大的分析仪器制造公司——岛津公司的全资子公司。自1997年以来,岛津/Kratos公司研发了包括专利的磁沉浸透镜和专利的低能电子荷电中和系统等一系列新技术的新型光电子能谱仪——AXIS Ultra,并于2002年底推出了使用二维阵列检测器——延迟线检测器(Delay-Line Detector)的最新自动型AXIS Nova型XPS谱仪。截至2014年1月底,在世界上已经销售了超过100台AXIS Nova型XPS谱仪,在世界上许多著名的大学、科研机构和企业公司中得到了高度的认可,在业界处于绝对领先地位。 技术特点:Axis Nova采用大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取最高的检测灵敏度,同时采用165mm大平均半径的双聚焦半球扇形能量分析器,可以获得最高的XPS谱线能量分辨。在检测器端,Axis Ultra DLD采用位于能量分析器出口中心位置上的第二代专利的二维阵列延迟线检测器,可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置,亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。Axis Nova采用与静电传输透镜同轴的超低能单电子源荷电中和器,完全满足各类绝缘样品的XPS分析任务,尤其是对于表面凸凹不平的样品(典型的是粉末样品和断口样品),可以获得完美的分析结果。Axis Nova使用专利的与采谱能量分析器同心的球面镜能量分析器,可以获得高空间分辨的平行光电子图像,亦即可以获得元素的不同化学状态的二维分布。Axis Nova采用全自动的大样品台设计,最大样品可达4吋,可以利用进样室的光学显微镜确定分析位置,并在样品自动进入分析室以后实现预设位置上的全自动XPS分析。
    留言咨询

角分辨光电子能谱相关的耗材

  • HR4000高分辨率光谱仪
    HR4000高分辨率光谱仪我们的新一代的高分辨率光谱仪,是全新的光学和电子学器件组合。适合应用于激光特征分析,气体吸光度测量和确定原子散射线等领域。HR4000配有全新的Toshiba3648像素CCD阵列探测器,光学分辨率可达0.2 nm(FWHM)。特点: 高分辨率,最高分辨率可达0.02nm(FWHM) 电子快门避免饱和度问题 板载微控制器 即插即用USB接口 光学平台 采样附件光谱分辨率(FWFM)可达0.02nmHR4000是我们新一代高分辨率的光谱仪,它采用了Toshiba的3648像元的线阵CCD,光学分辨率可达0.02nm(FWHM)。HR4000光谱范围为200-1100nm,具体的光谱范围和分辨率配置取决于实际光栅和狭缝的选择。HR4000适用于激光测量、气体吸收测量以及原子辐射线的测量等领域。电子快门避免饱和度问题软件中积分时间的可由用户设定,它类似于一个照相机的快门速度:积分时间值即是探测器“察看”所进入光子的总体时间。因为,Toshiba探测器有一个电子快门,你可通过软件设定最小积分时间到3.8毫秒,这样就允许你可以测量像激光脉冲如此短暂的事件。使光谱仪的积分时间缩短的能力也消除了在高光水平应用领域如激光分析的饱和度问题。 板载微控制器 HR4000的板载微控制器使得对光谱仪的控制非常方便。通过一个30针的连接器,您可以在软件中设置所有的光谱仪操作参数:控制光源、操作进程以及从外部对象获取信息等。配备有10个用于外部设备接口的用户可编程I/O端口、一个模拟输入和一个模拟输出接口,以及一个用于触发其它设备的脉冲发生器。 即插即用USB HR4000通过USB2.0或RS-232串口和PC、PLC或其它嵌入式系统相连。在串口模式下,HR4000需要额外的5伏供电电源(不包含在产品中)。每台光谱仪特有的参数被编程存储在系统的内存芯片中,可以非常方便地被光谱仪操作软件读取。光学平台 用户通常要求光谱仪可以适合他们的特殊需要,所以HR4000光谱仪可以根据您的应用需要配置光学平台。您可以选择狭缝尺寸,探测器,滤光片和光栅等。 采样附件 HR4-BREAKOUT 是一个被动模块,提供HR2000+不同功能的接口。BREAKOUT盒可与多种与光谱仪的连接如:外触发器、GPIO、光源、RS-232和模拟输入/输出。 Specifications
  • 金颗粒标样30 - 300nm,低加速电压分辨率测定标样
    【产品详情】标准的金球或锡球分辨率测定标样不适用于低加速电压下或者老旧仪器中的测试,可能导致此问题的原因是低加速电压下采用高计数率和小束斑直径测样时得到的分辨率较差、信噪比过低。较大的标样粒径(30 - 300nm)在分辨率测试时可以在保留图像细节的同时确保较高的对比度,此特性使得此标样可以在非理想条件下使用。可镶嵌于Zeiss,FEI,TESCAN,JEOL和Hitachi扫描电镜各自的样品台上。 此分辨率测试标样粒径分布为30-300nm,与标样AGS168相比,更大的金粒尺寸允许此标样用于低加速电压下的分辨率校准。生长于石墨衬底上的金颗粒之间有间隙,尺寸不一,可以实现非理想操作条件下的分辨率测试,基于此特性,此标样也可以用于高分辨率测试条件下的灰度校准。理想条件下,高分辨率扫描电镜可以给出高质量的间隙分辨率测试和灰度校准结果。搭配中等分辨率的电镜使用此标样可获得尚可使用的间隙分辨率,但灰度区分不明显,只能呈现4-5级。因为标样颗粒的几何形状不规则,二次电子模式下的差分信号采集会导致灰度对比出现。大颗粒之的细小颗粒和间隙,可以用于更准确地评估电镜的成像质量。评估二次电子成像质量时,将标样倾斜,与二次电子收集装置成30°角时可得到质量最好的像。采集背散射电子时样品台的倾角则由探测器的位置决定。但若样品与探测器之间的倾角大于35°,标样上大块的金粒会产生较大的投影,会遮蔽标样上较小的金粒,因此不推荐。此外,测量金粒之间的间隙尺寸时须注意样品的倾角会影响图像的放大倍数。当放大倍数在2,000倍以上时金粒可见,最佳工作距离是7-8mm。使用钨灯丝电镜时,先用20kV的加速电压观察样品,再逐步降低加速电压和束斑直径聚焦调节至合适的聚焦状态和明度。工作时需确保电子枪、灯丝、光阑孔准直,电子束须汇聚、明度适当、束流稳定。当线扫描分辨率调至最高、测试时间较长时(在部分仪器中此时间可达10min)可得到较高的信噪比。 【技术详情】标样粒径分布金颗粒标样30-300nm产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
  • NBS 5分辨率靶、NBS 1963A分辨率靶
    NBS 5分辨率靶又称NBS 1963A分辨率靶,提供26个线组,从1个/毫米到18个/毫米,对应的线大小为1.0 mm到55.6 μm.图样上的每一组线含有水平线和垂直线。如图所示。通过识别系统能分辨的频率最高的线组,可以确定光学系统的分辨率。分辨靶正靶片是将铬图样电镀到透明玻璃(B270玻璃 )上而制成的,适合用于前向照明和普通应用。板大小75mm×75mm。欢迎登陆海德网站或来电获取详细信息。?订购信息:货号产品描述规格R67NBS 5 Bar Test Chart(BS4657),正片,75mm×75mm 个 价格请电询
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制