晶粒取向分析

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晶粒取向分析相关的耗材

  • 晶粒度金相组织腐蚀液KM-TZ ST ZC上海科迈
    钢晶粒度显示剂无毒、环保、清洁卫生 (替代苦味酸)钢种牌号规格/瓶型号包装渗碳钢15、20、20Cr、20Mn2B、20Cr2Ni4、1 8Cr2Ni4W16MnCr5 20MnTiB、20CrMnTi、18CrNiMo7-615Cr、20CrMo、2CrNi3A、12Cr2Ni4A、18Cr2N 等250 mlKM-ST调质钢35、45、40Cr、35CrMo、42CrMo、4340、40Mn2、50Mn2、40B、45B、50BA40MnVB 45Cr、38CrSi、42CrMo、30CrMnSiA、30CrMnSiNi2A、40CrNiMoA38CrMoAl250 mlKM-TZ工模具钢12CrMoV CrWMn250 ml KM-GM不锈钢2Cr13\3 Cr13\4 Cr13250 mlKM-MB 沉淀硬化不锈钢250 mlKM-CD轴承钢100CrMn、GCr15SiMn、GCr15、GCr15K250 mlKM-ZC镁合金各种合金250 mlKM-MG硝酸酒精钛合金组织显示剂铝合金金相显示剂铜合金金相显示剂常规不锈钢组织显示剂双相不锈钢组织显示剂宏观低倍焊缝显示剂特种不锈钢组织显示剂奥氏体不锈钢晶粒度显示剂特别承诺1、试剂无效全额退款。
  • 美国TSI 8533,美国TSI 8534颗粒物分析仪
    美国TSI 8533,美国TSI 8534颗粒物分析仪,优点,办事处,说明书,操作手册,现货销售热线:15300030867,13718811058,张经理锂离子可充电电池内置和外部电池充电功能可更换鞘气和泵的过滤器测试暂停和重启功能彩色触摸屏 记录测试可编程- 具有手动模式和程控模式- 通过电脑的TRAKPROTM数据分析软件瞬时报警设置,可采用听觉和视觉报警实时数据图形显示可以在采样进行中和采样后查看统计数据 屏幕状态显示标示:流量,激光和滤膜滤膜服务指示器可以进行预防性维护美国TSI 8533,美国TSI 8534颗粒物分析仪,优点,办事处,说明书,操作手册,现货,产品参数型号8533台式 8534手持式传感器类型90光散射气溶胶浓度范围 0.001~150mg/m3 0.001~150mg/m3显示内容PM1,PM2.5,可吸入颗粒物,PM10和全粒径显示。全部同时显示分辨率±0.1%读数,0.001mg/m3取大值零点稳定度±0.002mg/m3 24小时,10秒时间长数粒径范围0.1~15μm流量3.0L/min流量准确度出厂设置点的±5%,内置流量控制温度系数+0.001mg/m3/℃操作温度0~50℃储存温度-20~60℃操作湿度0~95%相对湿度,无凝结时间常数 用户可调节,1到60秒数据记录5MB内存(60,000数据点)1分钟采样间隔,可记录45天记录间隔可调节,1秒到1小时外形尺寸(HWD)13.5x21.6x22.4厘米12.5x12.1x31.6厘米通讯USB,以太网,使用U盘存储数据USB,使用U盘存储数据交流电源115~240VAC模拟输出用户可选,0~5V或2~20mV用户可选择范围比例--报警输出继电器或蜂鸣器继电器听得见的蜂鸣屏幕5.7in,VGA彩色触摸屏3.5in,VGA彩色触摸屏称重采样可更换37mm滤盒(用户提供)--CE规格Immunity:EN61236-1:2006Emissions:EN61236-1:2006
  • 波利梅特龙polymetron 9245钠离子分析仪
    波利梅特龙polymetron 9245钠离子分析仪,特点 (销售热线:13718811058,张经理,期待您的来电咨询)● 钠离子的量程为0-10000ppb,检测限为0.01ppb ● 有采样进行手动校准的能力,可以一次性测量过程中的样品。仪器可以自动返回到在线监测 ● 自动激活装置可以确保最优的电极运行和响应时间 ● 易于安装,易于设置和操作 ● 仪器能够抓取样品,可以手动验证准确度或校准情况。手动校准只需要加入250ml样品,无需断开管路连接,取样之后,仪器会自动返回到在线测量状态 ● IP等级的变送器和材质为ABS,边框为SS壁挂式机箱 ● 通讯方式可选:JBUS/MODBUS和Profibus波利梅特龙polymetron 9245钠离子分析仪,波利梅特龙polymetron 9245钠离子分析仪,技术参数:量 程:0-10,000ppb可以编程;0-200ppm,使用K工具选项重现性:<0.02ppb或读数的1.5%,取大者,温度变化在10℃范围内检测限:0.01ppb响应时间:T90≤180秒校准:校准方法:手动,1点或2点可选方法(样品<0.1ppb):自动增加2点环境温度:5-50℃电源:90-240VAC,50/60Hz,80VApolymetron9245钠离子分析仪订货号:波利梅特龙polymetron 9245钠离子分析仪,波利梅特龙polymetron 9245钠离子分析仪,订货指南09245=A=00000-10.000ppb盘装式09245=A=01000-10,000ppb壁挂式09245=A=00010-10.000ppb带自动校准盘装式09245=A=01010-10,000ppb带自动校准壁挂式09245=A=10000-200ppm K型(阳床)盘装式09245=A=11000-200ppm K型(阳床)壁挂式09245=A=10010-200ppm K型(阳床)带自动校准盘装式09245=A=11010-200ppm K型(阳床)带自动校准壁挂式波利梅特龙polymetron 9245钠离子分析仪,波利梅特龙polymetron 9245钠离子分析仪

晶粒取向分析相关的仪器

  • 国仪量子钨灯丝扫描电镜SEM2000钨灯丝扫描电镜SEM2000是一款基础款的多功能分析性钨灯丝扫描电镜。20kV分辨率可以做到3.9nm,支持升级30kV电压,可观察亚微级尺度样品的微观结构信息。拥有比台式电镜更大的移动范围,适用于快速筛选待测样品,更多的扩展接口,可搭载BSED、EDS等附件,使应用领域更广。产品特点简洁的操作界面纯中文的操作界面功能设计简单易操作。符合国人使用习惯,即使是新手用户,简单了解后也能快速上手。完善的自动化功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散,均可一键调节,提高工作效率。丰富的测量工具长度、面积、圆度、角度等测量功能强大的照片管理和预览、编辑功能。丰富的扩展性高灵敏度背散射探测器 多通道成像探测器设计精巧,灵敏度高,采用4分割设计,无需倾斜样品,可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。 二次电子成像和背散射电子成像对比 背散射电子成像模式下,荷电效应明显减弱,并且可以获得样品表面更多的成分信息。能谱金属夹杂物能谱面扫分析结果。电子背散射衍射钨灯丝电镜束流大,完全满足高分辨EBSD的测试需求,能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。该图为Ni金属标样的EBSD反极图,能够识别晶粒大小和取向,判断晶界和孪晶,对材料组织结构进行精确判断。应用案例产品参数
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  • 布鲁克公司全新的D8 DISCOVER X射线衍射仪,材料研究领域的先进X射线衍射系统。采用创造性的达芬奇设计,配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件,附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换,包括:反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。主要应用:高分辨XRD(HRXRD)外延多层膜厚度晶胞参数晶格错配组份应变及弛豫过程横向结构镶嵌度X射线反射率(XRR)薄膜厚度组份粗造度密度孔隙度倒易空间图谱(RSM)晶胞参数晶格错配组份取向弛豫横向结构面内掠入射衍射 (in-plane GID)掠入射小角X射线散射(GISAXS)晶胞参数晶格错配横向关联性取向物相组成孔隙度应力和织构分析取向分布取向定量应变外延关联硬度物相鉴定(Phase ID)物相组成d值确定择优取向晶格对称性晶粒大小应用实例:HRXRD 硬件设置 LEPTOS(布鲁克公司高分辨数据分析软件)分析多层膜数据
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  • 完全集成飞秒激光系统的Thermo Scientific Helios 5 Laser PFIB,这是一台先进的聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM),可以利用纳米级分辨率实现快速3D表征毫米尺度材料。Helios 5 Laser PFIB集成了最好的Thermo Scientific Elstar SEM镜筒(用于超高分辨率成像和先进的分析能力)、等离子FIB镜筒(可在所有操作条件下实现最佳性能)以及飞秒激光,可实现以从前无法通过商业化产品获得的速率进行原位材料刻蚀。Helios 5 Laser PFIB是业界领先的Helios系列第五代产品的一部分。Helios 5 Laser PFIB极大地加快了学术和工业用户的研究步伐,使他们能够在几分钟之内完成材料的表征,而之前需要花费的几天的时间。研究人员不仅可以针对定点的毫米大小的截面在纳米级分辨率下快速、准确地成像且更具有统计意义,还可以设置大体积的3D分析,使其在一夜之间自动完成,从而使显微镜空出时间来用于其他用途。 Helios 5 Laser PFIB使研究人员可以获得准确的大体积3D和次表面数据,其速度比典型的镓离子源聚焦离子束(Ga-FIB)快15,000倍。对于许多材料,Helios 5 Laser PFIB可以在不到5分钟的时间内刻蚀数百微米的大截面。借助激光和等离子FIB的组合,现在可以进行连续截面层析成像,并且当与EDS和EBSD检测器结合使用时,可以扩展到毫米级的3D元素和晶粒取向分析。经过数年与加州大学圣巴巴拉分校的McLean Echlin 和Tresa Pollock的密切合作,第一批商业化产品被运抵日本国立材料科学研究所(NIMS)和英国曼彻斯特大学,这两个单位都已经看到收益。Helios 5 Laser PFIB使学术和工业实验室可以轻松处理具有挑战性的非导电,对空气敏感和对离子束敏感的材料。他们还可以加快故障分析的速度,同时可以快速访问传统FIB通常无法访问的埋没的下层。FIB-SEM可用于分析各种材料,包括金属,电池,玻璃,陶瓷,涂层,聚合物,生物材料和石墨。建立在Thermo Scientific Helios 5平台上,Helios 5 Laser PFIB重新定义了具有高材料对比度的高分辨率成像标准;快速,简便,精确的高质量样品制备,适用于扫描透射电子显微镜(S / TEM)和原子探针层析技术(APT)。
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晶粒取向分析相关的方案

  • 布鲁克全新台式D6 PHASER应用报告系列(一)——晶粒尺寸分析
    D6 PHASER非常适合通过粉末X射线衍射技术进行快速的晶粒尺寸分析。该分析是基于对多个晶体衍射峰的评估,通常它们会随着晶粒尺寸变小而出现特征性展宽。晶体衍射峰的展宽必须与仪器自身的展宽进行分离,后者决定了晶粒尺寸的上限值。而晶粒尺寸分析的下限则是由从仪器自身背景中分离出宽的、低强度信号的能力所决定的。
  • XRD测定磷酸铁锂晶粒尺寸
    利用岛津X射线衍射仪,依据Scherrer公式,利用岛津分析软件“Xtal Size & LatticeStrain”,可以快速、准确的完成磷酸铁锂材料不同方向晶粒尺寸的测定。
  • 天津兰力科:铁素体不锈钢晶粒细化及耐腐蚀性研究
    本文介绍了在工业纯铁和0Cr17铁素体不锈钢中加入不同含量的强碳氮化合物形成元素钛,并加入适量的硅、锰、铝,利用钛与C、N原子的强烈亲和作用,来固定C、N等间隙原子,生产含钛铁素体不锈钢。包括试验钢的化学成分设计,冶炼、锻造及普通的轧制工艺设计。采用了金相显微镜、透射电子显微镜等显微分析手段和力学性能、电化学试验等试验方法,观察和分析了试验钢的组织、晶界、析出物的特点,考察了钛对试验钢的强韧性的影响,研究了试验钢的耐腐蚀性能,并对不锈钢的微合金化问题进行了较为全面的探讨。通过对试验钢的力学性能和显微分析后可以认为,当材料在低于奥氏体再结晶温度而高于Ar3相变温度时变形,能够促使相变在较高的温度下发生,并且能得到较小半径的临界核胚。要想得到超细晶铁素体组织,必须对钢铁材料进行较大程度的变形。强碳氮化合物形成元素钛可以通过其碳氮化合物在均热时阻止奥氏体晶粒的长大,热轧过程中阻止奥氏体再结晶及钢中存在的细小未溶的钛的碳氮化合物促进γ→α转变这几个方面来细化铁素体晶粒。试验结果表明,钛可以细化0Cr13铁素体不锈钢晶粒,提高其强度,改善其韧性,使之具有较好的加工性能。钛的添加量有一最佳范围,过多过少都不能获得理想的强化效果,当钛的含量为碳含量的6~9倍时具有较好的效果。分析计算表明,第二相析出粒子Ti(C,N)粒子对铁素体晶界的拖曳力主要取决于其大小及所占体积分数。Ti(C,N)粒子越小,所占体积分数越大,越能有效地细化铁素体晶粒,从而提高钢铁材料的综合性能。通过对沉淀析出第二相粒子的热力学与动力学分析可知,Ti(C,N)析出粒子越细小,越容易粗化,因而要得到极细的第二相析出粒子比较困难。通过实验室的电化学试验结果分析,表明:普通的0Cr13型铁素体不锈钢耐晶间腐蚀的能力较差。引入钛之后,钢中的碳与强碳氮化合物形成元素钛可以生成很稳定的钛碳化物,(Fe,Cr)7C3在晶界上的析出受到抑制。钛元素的引入,消除了钢中的C、N间隙原子,抑制了珠光体组织的生成,净化了铁素体晶界,提高了铁素体组织的均匀性,使其耐腐蚀性能显著提高。

晶粒取向分析相关的论坛

  • 判断晶粒取向

    问一个可能比较傻的问题啊,如果给出一种薄膜材料晶体结构的晶体常数a,b,c,怎么在TEM下判断薄膜中很多不同晶粒的晶体取向,比如说我要找a轴取向晶粒是通过高分辨梁静面间距=a吗?

  • 求助:晶粒取向

    请问各位高手: 我想知道,通过SEM表面形貌图片能够判定晶粒的取向吗? 谢谢各位!!!

晶粒取向分析相关的资料

晶粒取向分析相关的资讯

  • 微量元素分析?应力、取向分析?电镜-拉曼联用应对有妙招!
    《RISE大招》前情回顾:与RISE之相遇、相知、相恋和相爱。本系列前几集讲述了RISE拉曼-电镜一体化系统在传统扫描电镜“心有余而力不足”的分析困境下一跃而出到它对于无机材料分析的武功路数:无机相鉴定、金属夹杂分析、结构和结晶度分析等等。(前三集链接:点击下列文字即可快速查看)。01 “我的前半生”结束了,后面的科研之路就靠它了!02 无机材料分析,RISE还有这些大招!03 《RISE大招》无机材料之结构分析和结晶度分析今天呢,主要给大家讲讲RISE对于无机材料中微量元素分析、取向分析和取向应力分析的解决方案。无机材料之微量元素分析在传统的电镜中,由于EDS的检出限为0.1%,所以对于一些微量元素的分析来说较为困难。尤其是要做微量元素或者差异很小的面分布来说,EDS往往不能满足我们的需要。虽然拉曼光谱并不能直接得到元素含量和分布分析,但是有时候微量元素的变化足以引起对应的特征拉曼峰的变化。此时便可利用拉曼光谱去进行微量元素的分析。 如下图,为某矿物试样。Nd元素含量较低,EDS无法通过Mapping将其分布准确的显示。 如果要点扫描,虽然单点数据可以比mapping更准确的测出Nd的含量,但是无法得到分布。如果要仔细分析,需要用户选择很多个测试点进行分析。但是这样得到的数据工作效率很低,数据整理困难,且准确性也难以评价。 而在RISE下则可以先进行拉曼面扫描,发现Nd元素对应的特征峰的积分强度随元素含量而有变化。元素Nd含量偏高的区域的拉曼光谱和红色接近,含量偏低的和蓝色谱图接近,所以根据谱图拟合后得到了根据Nd元素含量而得到的RISE图像。很快的可以找到Nd元素含量偏高或偏低的区域。根据RISE图像,我们还可以再去进行EDS分析,对含量偏高或偏低的区域做更精确的EDS定量分析。这比没有RISE图像仅根据SEM图像随机选点采集很多个数据点,再进行后期分析,无论是准确度还是效率上均要提高很多!无机材料之取向分析取向是晶体材料的重要基本参数,拉曼光谱虽然不能像EBSD一样直接进行晶面指数的分析,但是对于很多无机材料来说,取向不同其拉曼特征峰也会产生积分强度不同或者峰位有所偏移的情况。 如下图,试样为白铁矿晶体,主要成分为FeS2,结构属斜方双锥晶类,对称性较低。在RISE系统下,SEM图像获得了明显的ECC衬度,然后再进行拉曼光谱面扫描,发现不同晶粒的拉曼特征谱线有一定的变化,其峰的积分强度和峰的位置都随取向有一定的关系。进行谱线拟合后,得到了随取向变化的RISE图像。虽然我们不能得到每个晶粒的精确的取向,但是晶粒的分布及大小却可用非常清楚的从RISE图像获得。RISE不同于EBSD识别衍射花样,它另一个角度为分析晶粒提供了一定新的方法。 无机材料之取向应力分析应力测试也是无机材料分析的重要方面,目前微区应力分布测试主要手段是EBSD,通过测试取向差的分布来间接的反应的情况下。但是EBSD分析手段又有一定的局限性。 拉曼光谱也可以间接的反应应力的情况。如果存在压缩应力,特征峰会往高波数方向移动;反之,若存在拉伸应力,特征峰会向低波数方向移动。且应力越大,特征峰的位移越大。 RISE系统的拉曼成像能力非常强大,可以用特征谱线的位移来进行成像。如下图,对做过纳米压痕的单晶硅表面进行RISE成像。发现压痕中心区,特征峰往高波数方向移动,周边往低波数方向移动。根据此规律成像后,得到了纳米压痕区域,硅表面的压缩和拉伸应力分布图。 RISE七十二般武艺,招招新奇,但一招一式,每一个路数都为更好地帮助您的科研分析而生。除了应对传统扫描电镜分析能力薄弱的问题,RISE系统还切实突破并解决了传统意义上的电镜-拉曼联用系统的种种分析弊端,采用了扫描电镜-拉曼光谱一体化的硬件和软件设计,使得综合分析更加行之有效。《RISE大招》下集看点:说了这么多,是时候总结一下啦~Hahaha...关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno,是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司,有超过60年的电子显微镜研发和制造历史,是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者,也是行业领域的技术领导者。↓ ↓ ↓ 观看RISE大招全系列,请戳:01 “我的前半生”结束了,后面的科研之路就靠它了!02 无机材料分析,RISE还有这些大招!03 《RISE大招》无机材料之结构分析和结晶度分析
  • 课堂 | Leica EM TIC3X应用实例:高应变率作用下高导无氧铜(OFHC)的晶粒细化分析
    通过leica em tic3x 对样品进行离子束切割,样品ebsd mapping解析率得到明显提升,可达80%-90%以上,并且结果稳定可重复,更好地表征了晶粒的变形,以及大小角晶界的转变。实验样品高应变率作用下高导无氧铜(ofhc)实验目的通过电子背散射衍射技术(ebsd)对在高应变率、高温和大变形条件下获得的材料进行晶粒变形细化以及再结晶行为的表征,以期达到表征材料力学属性的目的。实验过程 1 原始样品的制备高速切削是一种集合高应变率、高温和大变形的一种材料变形的复杂材料変形条件,通过改变切削速度来改变上述的变形边界条件,高速切削的过程示意图如下:(图1 高速切削过程示意图)获得的切屑经过金相镶嵌和腐蚀之后的试样如图所示:(图2 经过镶嵌和腐蚀之后的切屑)从图2中可知晶粒已经严重变形,光镜已经无法分辨,而且对于晶粒到底发生了什么变化,光镜也无法做到表征的目的,因此对于材料ebsd表征十分必要。 2 实验样品的制备ebsd制样是本次实验的重中之重,本次实验较难主要体现在3个方面:一是因为经历了严重塑形变形的材料自身的晶粒内部就会存在一定的残余应力,在表征的时候有一定的难度;二是高导无氧铜是一种特别软的材料,在制样的时候非常容易带入应力,或者划伤测试面;三是经过高速切削得到的样品宽度非常细长,不是传统的块体,制样过程比较困难。目前解决方案主要有四种:机械抛光,电解抛光,振动抛光,离子抛光,这几种方法目前都有所尝试,解析率都不太高,究其原因,主要还是因为我的样品细长弯曲的原因,经过镶嵌之后,电解抛光无法满足,机械抛光很容易带入划痕,离子抛光镶嵌之后的样品效果不是十分理想,很多方法都不太适用。通过与徕卡电镜制样技术人员沟通,认为离子切割的方法能比较好的解决目前存在的问题,经过leica em tic 3x离子切割出来的样品解析率超过了80%,部分区域甚至能够达到90%以上,最重要的是这种制样方法非常稳定,实验的结果能够比较方便的被复现出来,可较好地满足我的研究需要。 3 实验观测通过ebsd测试,获得的mapping图的解析率有了较为明显的提升,更高的解析率意味着晶粒的变形,以及大小角晶界的转变也能更好的表征出来。图3 经过振动抛光之后获得的ebsd角度取向分布图图4 经过离子切割之后获得的ebsd角度取向分布图总结通过上述实验的结果可以得出结论,相比于目前主流的振动抛光、电解抛光和离子抛光,在进行一些形状比较特殊的样品的ebsd试样的制备时,离子切割方法所具备的不受样品自身形状限制,效率高,稳定性好,可重复性高等都是目前比较常用的制样方法所不具备的,因此离子切割为ebsd的制样方法做了一个十分重要的扩充!致谢:西安交通大学 机械学院 许祥关于徕卡显微系统leica microsystems 徕卡显微系统是全球显微科技与分析科学仪器之领导厂商,总部位于德国维兹拉(wetzlar, germany)。主要提供显微结构与纳米结构分析领域的研究级显微镜等专业科学仪器。自公司十九世纪成立以来,徕卡以其对光学成像的极致追求和不断进取的创新精神始终得到业界广泛认可。徕卡在复合显微镜、体视显微镜、数码显微系统、激光共聚焦扫描显微系统、电子显微镜样品制备和医疗手术显微技术等多个显微光学领域处于全球领先地位。 徕卡显微系统在全球有七大产品研发与生产基地,在二十多个国家拥有服务支持中心。徕卡在全球一百多个国家设有区域分公司或销售分支机构,并建有遍及全球的完善经销商服务网络体系。
  • 循丝探理│碳纤维取向度如何测?
    导 读碳纤维作为高性能纤维的翘楚,具有耐高温、抗摩擦、导电、导热及耐腐蚀等特性,并且沿纤维轴方向有很高的强度和模量,其外形呈纤维状、柔软、可加工成各种织物,一直以来,是航空航天、风电叶片、汽车、压力容器等高端应用场景的核心材料之一。 老话常说:心往一处想,劲儿往一处使。其实说的就是“方向一致进而形成强大的合力”。类似,对纤维材料而言,其分子链、微晶在拉伸等加工过程中产生的方向效应,即取向效应,亦对纤维的机械性能有着直接影响。岛津XRD(X射线衍射仪),配有纤维取向度专用附件,可方便、迅捷的对聚合物等纤维材料取向程度进行测定。 什么是纤维取向度?定义:表示纤维的晶体轴沿着纤维长度方向排列的平行程度或择优取向程度。 先来看两张示意图:左图给各位看官直观的感觉是不是就像一群散兵游勇? 而右图则是整齐队列的既视感?整齐划一、万众一心、众志成城!!! 是的,合成纤维等线形聚合物在未发生取向时,大分子链或链段、微晶的排列是随机的、无序的;而在纺丝、拉伸等加工过程中,大分子链或链段、微晶受到外力的作用,则会表现出不同程度的取向效应。 发生取向后,由于在取向方向上原子之间的作用力以化学键为主,而在与之垂直的方向上,原子间的作用力以较弱的范德华力为主,因而纤维取向度越高,则纤维长度方向上的机械强度、弹性模量等机械性能越好。 XRD测试纤维取向度原理 XRD作为材料结构分析的典型手段,可对纤维材料取向度进行有效表征。图1 纤维取向度测试时光路示意图 在正交透射模式下(图1),将纤维束置于子午线方向,保持光管、样品位置固定不动,探测器作2θ扫描收集衍射信号,此过程称为子午扫描。将纤维束置于赤道线方向,重复上述过程,即为赤道扫描;存在高度取向的纤维,赤道扫描与子午扫描谱图差异较大。 选取某特征衍射峰,将探测器固定于该特征峰峰位处,纤维束在垂直于入射X射线的平面内旋转(图1),测得β-I角度-强度分布曲线,此过程称之为方位角扫描,并采用以下经验公式即可计算纤维取向度π。 式中:π—纤维取向度 H—方位角扫描谱峰半峰宽(单位°) 岛津解决方案 针对纤维取向度测试,岛津XRD开发有纤维取向度专用附件,纤维专用样品架(图2)可保证纤维束平直拉紧,旋转样品台(图3)可实现正交透射模式及平面内旋转,以及数据处理模块“Preferred Orientation”可一键给出纤维样品取向度。 以某碳纤维样品实际测试为例,其赤道扫描及子午扫描谱图叠加见图4;显然,纤维束在两种方向放置测试,测得谱图差异十分明显,例如黑色箭头标示处,赤道扫描,该衍射峰强度非常高,而在子午扫描时该处基本未出峰,这表明该碳纤维存在很强的取向。 图4 碳纤维样品赤道扫描与子午扫描谱图叠加 利用岛津分析软件“Basic Process”模块,对赤道扫描谱图进行处理,读取最强峰衍射角2θ=25.69°,将探测器固定在25.69°进行方位角扫描,测得的强度分布曲线如图5所示。 图5 碳纤维样品方位角扫描谱图 利用岛津分析软件“Basic Process”模块,对方位角扫描谱图进行平滑、扣除背底、寻峰等操作后,利用岛津分析软件“Preferred Orientation”模块即可直接计算出碳纤维样品取向度为83.7%。 结语 纤维取向度对纤维的机械强度、弹性模量及其它机械性能有着直接影响,因此对纤维取向度进行测定有着非常重要的实际意义。类似的测试可拓展用于不同批次、不同工艺下纤维产品的对比,进而指导工艺优化。 撰稿人:崔会杰 *本文内容非商业广告,仅供专业人士参考。
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