多层分析

菲希尔金镍测厚仪，无损多层镀层测厚仪金镍测厚仪用途 该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，最多可同时测定24种元素，广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析。 金镍测厚仪特点：1、无论是镀层厚度测量，还是镀液分析，复杂的多镀层应用，一个软件程序就可以完成所有测量应用2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择3、X射线探测器PC（比例接收器）、PIN（硅PIN接收器）、SDD（硅漂移接收器）4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。

优点NTT-AT公司已提供了20 多年高质量XUV、EUV和X射线反射镜。尤其是利用本公司的丰富经验和出色技能，提供可定制设计的多层膜反射镜，满足各用户的需求。1990年，NTT-AT公司开发了极紫外（XUV或EUV）多层反射镜和X射线反射镜并开始销售。并将亚洲、北美洲、南美洲和欧洲的大学、研究所和企业反馈的意见反映到这些反射镜的设计中。本公司将利用广泛积累的经验和可靠的技术支持用户的多层反射镜生产。特点因为NTT-AT公司的多层反射镜质量高，所以一直被世界上的研究机构所选用。本公司定制多层材料和结构，满足用户的基板、峰值波长、带宽和分散体等详细规格。还应对耐高温多层反射镜。利用同步加速器设备的反射率评估服务也可作为选项提供。同时也为包括EUV光刻的EUV工业应用提供成本低、交付周期短、质量稳定的多层反射镜。作为用户的研发伙伴，支持用户的EUVL光源开发、EUV光刻胶开发、EUV掩模检查和其它周边领域的实际利用。XUV多层膜反射镜（EUV多层膜反射镜）基板形状：平面、凸形、凹形、抛物面、超环面、椭圆面基板材料：石英、硅、zero dewer等多层膜材料：Mo/Si、Ru/Si、Zr/Al、SiC/Mg、Cr/C等基板尺寸：φ3毫米至φ300毫米NTT-AT公司将提供高耐用性XUV多层反射镜、耐高温XUV多层膜反射镜以及施瓦兹希尔德光学系统和泵浦探测光学系统等光学系统。X射线多层膜反射镜基板形状：平面、椭圆面、抛物面、柱面、超环面基板：石英、硅、zero dewer等基板材料：W/B4C、W/C、Pt/C等基板尺寸：最大500毫米NTT-AT公司提供K-B反射镜系统、沃尔特反射镜等单层反射镜基板形状：平面、椭圆面、抛物面、柱面、超环面基板材料：石英、硅、zero dewer等多层材料：C、B4C、SiC、Ru、NbN、Pt等基板尺寸：最大500毫米NTT-AT公司提供K-B反射镜系统、沃尔特反射镜等本公司定制多层材料和结构，满足用户的基板、峰值波长、带宽和分散体等详细规格。还应对耐高温多层反射镜。利用同步加速器设备的反射率评估服务也可作为选项提供。世界上只有为数不多的公司生产和销售EUV反射镜。如果您不满意现在的供应商，NTT-AT公司能够制造满足您严格要求的定制设计反射镜。NTT-AT公司将推荐正确反映用户规格的最优设计。 应用示例 基板材料典型波长XUV（EUV）反射镜EUV光刻高阶谐波应用阿秒科学X射线激光器多层反射镜Mp/SiRu/SiZr/AlSiC/MgCr/C50电子伏至100电子伏50电子伏至100电子伏50电子伏至70电子伏25电子伏至50电子伏至300电子伏单层反射镜SiCPtRu10电子伏至100电子伏X射线反射镜同步加速器应用XFEL应用内置X射线无损检查设备多层反射镜W/CW/B4CRu/CPt/C1k电子伏至30k电子伏单层反射镜CB4CSiCCrNi1k电子伏至30k电子伏NTT-AT公司已支持了许多同步加速器辐射应用、XFEL应用、包括阿秒科学和材料科学的高阶谐波应用、软X射线激光应用和天文学的实验和研究。NTT-AT公司的XUV多层反射镜的绝无仅有的质量受到学术界的好评。XUV多层膜反射镜（EUV多层膜反射镜）Φ10毫米平面反射镜测量的Mo/Si多层的反射率（正入射角：2度）用于泵浦探测试验的多层反射镜测量宽带反射镜、窄带反射镜（波长：30纳米）的反射率EUV宽带椭圆面反射镜（Φ100毫米zero dewer）Mo/Si多层反射镜具有接近13纳米（90电子伏）波长的高反射率。NTT-AT公司的Mo/Si多层反射镜具有高达70％的正入射反射率。NTT-AT的XUV反射镜的材料、膜结构和基板形状可以定制以满足用户有关中心波长和光学装置的需求。X射线多层膜反射镜用于K-B反射镜系统的多层反射镜W/B4C多层和W/C多层膜反射镜对硬X射线应用具有高反射率。为了有效反射和聚集硬X射线，必须最大限度地缩小入射角的斜角。这需要较长的反射镜长度和较小的多层膜周长。评估的反射率（波长：0.154纳米，蓝色：测量的反射率，粉红色；计算的反射率，周期长度： 2.95纳米）NTT-AT公司的X射线反射镜的材料、膜结构和基板形状可以定制以满足用户有关中心波长、带宽和光学装置的需求。单层反射镜带钌层的椭圆面反射镜利用全反射的单层反射镜用于波束控制、光聚合和去除XUV至X射线范围内的无需波长。NTT-AT公司的单层反射镜的材料和基板形状可以定制以满足用户有关中心波长和光学装置的需求。

一、产品简介　　超声波多层时差法流量计是依据国内外“超声波管道式流量计”原理研发而成的一款适合明渠测流的设备，通过对超声波管道式流量计设计结构的延伸，应用到明渠测流中。其具备多层测流方式，可根据渠道类型分布换能器层结构设计，通过测量不同水层的流速，从而提高测量精度测流设备。　　二、组成部分　　超声波多层时差法测流系统主要有以下设备组成：　　1.三对流速传感器　　3.一个超声波液位传感器　　3.采集系统　　4.太阳能供电系统　　5.立杆与支架　　三、工作原理　　超声波时差法是采用声学时差法流速仪测流，其原理是在河道两岸与流速方向成一定的夹角(通常45度)安装一对或多对换能器，一个换能器发射超声波，另一个换能器接受超声波(超声波传输路线称为声路)，通过声学时差法流速仪测得顺、逆流方向的超声波传输时间差计算出测线平均流速，可实现多层流速监测，通过数据建模形式计算平均流速，再通过流速面积法计算出瞬时流量。　　四、监测站特点　　1.测量优势：　　1.1依据超声波管道式流量计设计标准与标定规范研发而成，具有极高的精确性和稳定性，明渠测量精度能达到95%以上 　　1.2流量计安装在明渠河流的渠道内，可设置多层换能器，对不同层流速进行实时测量，采用多次采样不同水层的流速 　　1.3由于本测流系统采用多层传感器结构，运行一段时间后可建立层流速分布模型，即：即使只有一层传感器仍能正常工作，本系统设备依旧可以高效的工作 　　1.4采用IP68防护等级：本系统中的磁致伸缩水位计(或双级磁编码水位计)、流速换能器均具备IP68防护标准，即使在渠道水势较高，淹没全部设备时，依旧可以正常工作 　　1.5可修正：随着时间的推移，渠道结构的变化，可通过人工率定方式，在一体化积算仪中输入率定参数，可进一步校正本系统的精准度。　　2.安装方式特性　　2.1嵌入式结构：多层流速仪和水位计均以嵌入式的安装在渠道两次，不阻水、避免水草、漂浮物等附着，大大减少了维护工作量 　　2.2换能器层数、高度可根据水位高程设定：由于渠道结构多样性，换能器科根据渠道的特性对应设置高度(如：0.3H、0.6H、0.9H三层结构) 　　2.3无阻水特性：设备采用嵌入式安装方式，几乎无水头损失、阻水等情况的发生，提高了灌溉效率。　　3.干扰因素　　3.1设备适用于渠道宽度在0-50米范围之内的，有一定规则断面的明渠 　　3.2设备应用在泥沙含量较高的水系中时，测量精度受一定的影响 　　3.3设备对渠道的淤积情况无法实时监测，需定期查看渠道淤积并予以清淤或率定。　　五、技术参数　流速传感器三对测量原理时差法连续测量测量声道3声道适应能力可测量含有固体物质的污水测量精度5%流速范围0.01-30m/s测量渠道宽度时差法0.5-15米环境温度-20-70℃工作温度-20-70℃介质温度-20-80℃防护等级IP68液位传感器一个，超声波测量精度1.0%测量范围0.01m-10m分辨率1.0mm环境温度-20-70℃工作温度-20-70℃介质温度-20-80℃防护等级IP68