低加速电压成像

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低加速电压成像相关的耗材

  • 金颗粒标样30 - 300nm，低加速电压分辨率测定标样
    【产品详情】标准的金球或锡球分辨率测定标样不适用于低加速电压下或者老旧仪器中的测试，可能导致此问题的原因是低加速电压下采用高计数率和小束斑直径测样时得到的分辨率较差、信噪比过低。较大的标样粒径（30 - 300nm）在分辨率测试时可以在保留图像细节的同时确保较高的对比度，此特性使得此标样可以在非理想条件下使用。可镶嵌于Zeiss,FEI,TESCAN,JEOL和Hitachi扫描电镜各自的样品台上。 此分辨率测试标样粒径分布为30-300nm，与标样AGS168相比，更大的金粒尺寸允许此标样用于低加速电压下的分辨率校准。生长于石墨衬底上的金颗粒之间有间隙，尺寸不一，可以实现非理想操作条件下的分辨率测试，基于此特性，此标样也可以用于高分辨率测试条件下的灰度校准。理想条件下，高分辨率扫描电镜可以给出高质量的间隙分辨率测试和灰度校准结果。搭配中等分辨率的电镜使用此标样可获得尚可使用的间隙分辨率，但灰度区分不明显，只能呈现4-5级。因为标样颗粒的几何形状不规则，二次电子模式下的差分信号采集会导致灰度对比出现。大颗粒之的细小颗粒和间隙，可以用于更准确地评估电镜的成像质量。评估二次电子成像质量时，将标样倾斜，与二次电子收集装置成30°角时可得到质量最好的像。采集背散射电子时样品台的倾角则由探测器的位置决定。但若样品与探测器之间的倾角大于35°，标样上大块的金粒会产生较大的投影，会遮蔽标样上较小的金粒，因此不推荐。此外，测量金粒之间的间隙尺寸时须注意样品的倾角会影响图像的放大倍数。当放大倍数在2,000倍以上时金粒可见，最佳工作距离是7-8mm。使用钨灯丝电镜时，先用20kV的加速电压观察样品，再逐步降低加速电压和束斑直径聚焦调节至合适的聚焦状态和明度。工作时需确保电子枪、灯丝、光阑孔准直，电子束须汇聚、明度适当、束流稳定。当线扫描分辨率调至最高、测试时间较长时（在部分仪器中此时间可达10min）可得到较高的信噪比。 【技术详情】标样粒径分布金颗粒标样30-300nm产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。
    供应商： 牛津仪器科技（上海）有限公司
    品牌： Agar Scientific/牛津仪器
    价格： ¥1500
  • 低加速电压碳基金测试标样4 617-4L 低加速电压碳基金测试标样4，含样品座L
    粒径范围：30nm至509nm
    供应商： 广州竞赢科学仪器有限公司
    品牌： Ted Pella
    价格： 面议
  • 低加速电压碳基金测试标样4 617-4L 低加速电压碳基金测试标样4，含样品座L
    粒径范围：30nm至509nm
    供应商： 广州竞赢化工科技有限公司
    品牌： Ted Pella
    价格： 面议
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低加速电压成像相关的仪器

  • 布鲁克neofleX&trade MALDI-TOF/TOF 空间成像质谱仪 400-860-5168转0230
    共轴 TOF 质谱仪的突破性创新易于使用：一体化的消耗品和软件的生态系统阐明：为组织生物学情景化实现单个像素点分子信息获取的最大化发现：提供多种 MALDI 分析流程，速度和性能的进一步提升转化：单个组织切片，多维度空间生物学分析仪器特点1）116 通道靶标蛋白质的同步空间可视化MALDI 质谱成像可以从单个组织切片中获得深度的空间多组学信息，推动您的空间生物学研究，加深对肿瘤微环境系统的认识；通过 MALDI HiPLEX-IHC 和其他组学方法的联合分析，可在一个软件方案中实现对组织样本从分子表达到疾病机制认识的一系列研究。我们的空间生物学工具包使您能够通过疾病特异性的 HiPLEX 实验来评估靶点的接合效应。在鳞状细胞癌组织上已经实现突破性的 116 通道的 MALDI HiPLEX-IHC 实验， 空间分辨率为 30 µ m, 采集时间为 7 小时，全面的蛋白质分析可实现空白组织与小细胞肺癌组织有效区分。样本由瑞士苏黎世大学和瑞士联邦理工学院的 Bernd Bodenmiller 教授提供。2）每一帧像素分子信息的最大化neofleX&trade 成像质谱系统能够使研究人员深入挖掘组织的分子表达谱，推动转化医学研究。实验设置：自动化设置及图像导入功能为高通量实验提供了极大的便利数据解析：从靶向可视化到数据的多模态融合及统计学分析等高级流程，SCiLS&trade 为每个用户提供了多种选择。3多功能性、灵活性与采集速度的完美融合neofleX&trade MALDI-TOF/TOF 结合了分析速度快和操作简便的优势，对台式 MALDI-TOF 质谱仪的性能实现了性的提升。快速获得结果 —— 实验操作和数据分析的便利为一系列分析和应用实现分析结果的即时交付即时方案 —— 为生物学表征如 MALDI 自上而下测序、反应监控、杂质分析和组分鉴定提供简单快速的方法超越分子量极限 —— 独特的高质量端检测能力可实现带有高异质性的完整蛋白质的直接分析，如 PEG 修饰蛋白质和融合蛋白质应用方向: 加速生物药物研发MALDI-TDS 对 NIST mAB 轻链的序列验证。使用 Bruker OmniScape&trade 软件中序列确认的工作流程进行数据分析，只需点击几下鼠标，即可在短时间内获得无与伦比的序列覆盖率，从而得到可靠的序列验证结果。在生物制药领域，快速决策至关重要。MALDI 快速的分析速度，和短时间即可生成结果的特点，为加速生物制剂各个阶段的开发提供了独特的潜力。MALDI 自上而下测序（MALDI-TDS）能够快速提供药物蛋白质一级序列、末端状态和近末端修饰等信息，并在治疗性抗体、聚乙二醇化蛋白质、抗原和其它药物分子的表征方面一直具有独到的优势。MALDI-TDS 常常用于极具挑战性的分析工作中，例如疏水小型膜蛋白的测序，这在蛋白质组学研究中经常被忽视，但却代表了独特的药物靶点。在需要更高通量的常规应用中，neofleX&trade 是提供紧急问题即时解答的完美工具。配合布鲁克的 BioPharma Compass 软件解决方案，能够轻松且快速获得众多类型生物分子的质控结果，比如合成肽、完整或酶解的蛋白质、聚糖、DNA 和 RNA 寡核苷酸等。neofleX&trade MALDI-TOF/TOF 重新定义了台式 MS/MS 的性能。其新开发的 TOF/TOF 技术有助于揭示精细结构信息，如蛋白质的修饰或突变，而这些在生物通路中起着至关重要的作用，也是影响蛋白质药物质量、安全性与有效性的关键因素。软件：SCiLS&trade autopilot——自动一体化的 MALDI 成像工作流程SCiLS&trade Lab 采用通用的 OME-TIFF 图像文件，可以与您所选的其他平台无缝兼容。SCiLS&trade autopilot 提供了一个自动化的工作流程，便于样品跟踪和成像运行参数的设置和优化。无需先验知识即完成仪器参数的优化，确保每次运行的重复性和稳健性。neofleX&trade 的数据是开放式的 OME-TIFF 格式，便于科研共享。MALDI 表征的配套软件方案BioPharma Compass 自动化处理，简化了日常实验流程，提高了工作效率。 OmniScape&trade 提供了一套全面的 “自上而下” 数据分析工具，包括蛋白质从头测序和 PTM 修饰位点的验证工具。耗材配件：实验成功的首要因素IntelliSlides：“智慧型”载玻片最大限度地洞察每一个像素点布鲁克 lntelliSlides 完美适配于空间定位组学工作流程 ( SpatialOMx ) 。通过读取导电载玻片表面预先刻蚀好的条形码和定位标记，可自动定位并确定样本区域，从而实现成像设置的自动化，简化了您的质谱成像工作流程。fleXmatrix —— MALDI 质谱分析成功的关键fleXmatrix 采用预分装的小瓶，简化了 MALDI 成像基质溶液的制备，尤其是对于喷涂方法或升华方法。它保证了实验的一致性，并节省了工作流程时间。AnchorChip 靶板技术 —— 简化样品制备，提高实验结果的可重现性AnchorChip 是一种带有专利保护的靶板技术，“anchor” 的内部是亲水性的中心，外部是疏水性的外环，该结构促使样品液滴自动浓缩并集中于靶点中心，可以确保在自动采样时每一束激光都能轰击到样品。
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    厂商： 布鲁克道尔顿(Bruker Daltonics)
    品牌： 布鲁克/Bruker
    型号： neofleX&trade
    价格： 面议
  • Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统 400-629-8889
    研究微塑料等新兴污染物需要创新的分析技术。Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统采用量子级联激光器光谱技术，具有出众的分析速度和易用性以应对此类分析挑战。8700 LDIR 系统的全自动化微塑料工作流程非常适合分析环境样品、食品等样品中的微塑料颗粒。8700 LDIR 处理样品仅需几分钟或几小时（而非几天），能够在极少的操作人员干预下实现更高的样品通量。这一优势可降低成本并避免潜在错误，为您快速提供所需的结果。Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统——清晰的化学成像和理想的分析速度如果您既可以节省时间又能获得更出色的结果，那将会怎样？Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统为您提供全新的尖端化学成像和光谱分析能力。针对专家和非专家使用而设计的 8700 LDIR 提供了一种简单的高度自动化方法，能够使表面成分获得可靠的高清化学图像。Agilent 8700 LDIR 采用最新量子级联激光器 (QCL) 技术，结合快速扫描光学元件，可提供快速、清晰的高质量图像和光谱数据。这项技术与直观的 Agilent Clarity 软件相结合，可通过“放置样品-自动运行”的简单方法，以最少的仪器交互实现大样品区域快速、详细的成像。使用 8700 LDIR，您可以在更短的时间内更详细地分析更多样品，这种强大的解决方案为您提供了比以往更多的统计数据，有助于完成片剂、多层薄膜材料、生物组织、聚合物和纤维的组成分析。借助更有意义的信息，您可以在产品开发过程中制定更明智、更快速的决策，从而降低成本、缩短分析时间。（从左到右）安捷伦样品切片机、Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统和 Agilent Clarity 软件分析窗口主要优势– 主要应用领域：微塑料测试、制药、科研– 自动完成样品分析– 无需更换任何光学元件，即可分析大样品区域，然后更详细地分析较小的目标区域– 全面软件控制支持自动调节微米级到厘米级的视野范围，或 1 μm 到 40 μm 的像素分辨率– 通过采集像素分辨率小至 0.1 μm 的 ATR 成像数据，可获得无与伦比的图像细节和光谱质量– 借助 ATR 功能，可使用商业或自定义谱库快速鉴定未知物– 无需进行复杂的方法开发，即可获得样品成分的相对定量信息– 无需使用液氮，可降低运行成本并简化维护操作特性：高度自动化的工作流程使您能够从一系列样品基质中定位、描述和鉴定微塑料颗粒无需更换任何光学元件，即可分析大样品区域并成像，然后更详细地分析较小的目标区域。使用 Agilent Clarity 软件实现全面控制，“ 放置样品-自动运行” 方法仅需极少的仪器操作，小巧体积节省了实验台空间用于实时谱图匹配的内置文库。结果随谱图采集持续更新。量子级联激光器 (QCL) 和电冷却检测器无需液氮，降低了运行成本并简化了维护过程。机载 ATR 允许进一步分析未知颗粒，而无需移除样品。谱图可以导出到外部文库用于确认鉴定结果。使专业光谱工作者和受过培训的一般技术人员都能够快速准确地分析和表征样品。工作原理：8700 LDIR — 量子级联激光器光谱分析在对极小的对象（例如微塑料）进行分析时，保持高水平的精度至关重要。8700 LDIR 使用基于半导体的量子级联激光器 (QCL) 光源替代了传统红外光源。QCL 能够以单波长发射红外光，或是在不到一秒的时间内完成完整光谱的扫描。双线工作模式与大功率信号及精密的波长准确度相结合，实现了超越以往仪器的分析选择和分析性能。应用：表征环境样品中的微塑料LDIR 配备的 Agilent Clarity 软件提供了出色的工作流程自动化和灵活的进样选项。了解使用 Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统进行微塑料分析的强大工作流程。对滤膜上源自塑料瓶的微塑料进行快速的大面积直接分析由于废弃物管理不当和塑料污染，现在已知微塑料广泛存在于环境中。但是，微塑料的膳食暴露途径目前尚不明确。了解 8700 LDIR 如何准确鉴定和定量瓶装饮用水中存在的微塑料。同行评审的 8700 LDIR 出版物LDIR 正在迅速成为分析各种样品类型中微塑料的首选技术。在科学文献和可公开访问的数据库（包括谷歌学术）中，可以找到种类繁多的 8700 LDIR 出版物。
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    厂商： 安捷伦科技(中国)有限公司
    品牌： 安捷伦/Agilent Technologies
    型号： 8700 LDIR
    价格： 面议
  • 低电压扫描透射电子显微镜
    低电压扫描透射电子显微镜具备多种成像模式：透射模式（TEM），扫描模式（SEM），透射扫描（STEM）分析模式：电子衍射模式：ED 能量色散光谱模式：EDS电子加速电压：10, 15, 25 kV空间分辨率：1nm采用Schottky场发射电子枪，高亮度和对比度观察生物样品无需染色，且对切片厚度无要求，成像结果对比度高。真空自闭锁技术，更换样品仅需3分钟。无需冷却水和电源，无需专业实验室，操作简单，维护成本极低。其他类应用： 生物研究方向实验室台式透射电子显微镜系统，支持多种成像模式观察生物样品无需染色，简易快速地获得观察结果无需专门隔震防磁使用环境，操作维护简单无需冷却水，无需专业实验室，维护成本低采用电子加速电压，避免了传统电镜的缺点和限制 在大型的透射电子显微镜系统中，电子加速电压一般在80-300 kV左右。在如此高的电压下，对于C，H，O，N等轻元素组成的样品（如高分子和生物样品等），只有经过重元素染色操作才可以得到较好的图像对比度。而LVEM25采用的电子加速电压范围在10-25 kV，较低的加速下，研究者不需要对样品进行染色，即可得到很高的图像对比度。同时在25 kV电压下，LVEM25还避免了低电压对样品厚度的限制要求，只需要研究者按照正常厚度要求制作样品切片即可。操作简单，维护成本极低。 LVEM25虽然和传统TEM一样遵循了相同的电子透镜基本原理，但是在产品结构上却有着显著的不同。这一创新性设计使得LVEM25的设备尺寸大大缩小，真正实现了TEM的“小型化，台式化"。LVEM25对设备安装环境没有任何要求，不需要高功率电源，无需磁屏蔽和减震装修，更不需要冷却水和液氮冷阱等复杂配置，日常维护成本极低。同时LVEM25操作界面简单友好，研究者经过相对简单的培训后即可执行日常操作。 优化的硬件配置，保证运行稳定可靠。 采用肖特基场发射电子枪 LVEM25采用了Schottky场发射电子枪，保证设备连续运行数千小时。同时为样品成像提供了更好的亮度和空间均匀度。 样品和电子枪附近采用离子泵抽真空 LVEM25在样品腔和电子枪附近配备了离子泵来达到超高真空环境，在保证设备运行稳定的同时，有效避免了外部机械振动。 电子透镜组由永磁体组成 LVEM25的电子透镜模块由永磁体构成，从而精简了一般大型电镜中的磁体电源系统，进一步提高了设备运行的稳定性和可靠性，同时大大降低了维护成本。 放大倍率：1,000 - 470,000 加速电压：10, 15, 25 kV分辨率：1 nm 类型：场发射规格：分析系统 加工定制：标准器电子枪：Schottky场发射电子枪 加速电压：5,10,15,25 kV成像模式：TEM、STEM、SEM、EDS和ED TEM分辨率：最高1.0 nm冷却水：不需要 压缩空气：不需要换样时间：最快2分钟 应用：材料、生物体积：小巧 操作维护：简单
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    厂商： 上海捷钛仪器设备有限公司
    品牌： 上海捷钛仪器/KTimes
    型号： LVEM25
    价格： 20万 - 50万元
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低加速电压成像相关的试剂

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低加速电压成像相关的方案

  • 扫描电镜低加速电压成像
    通常来说，操作人员更愿意使用更高的加速电压去成像，当加速电压较大时，信噪比更好，分辨率更高，更容易得到“清晰”的图像。但低加速电压却是当今扫描电镜的发展趋势，这是什么原因呢？今天，这篇文章将围绕“低加速电压成像”展开讨论。电子束与样品相互作用将会激发出多种电子信号，包括背散射电子（BSE）、二次电子（SE）等。二次电子（SE）主要表征样品的表面形貌信息，激发深度一般低于 10nm，主要表征样品的表面形貌信息。
  • 日立新型台式电镜TM3030 在低加速电压成像中的优异表现
    低加速电压成像在扫描电镜成像中有着重要的作用。采用低加速电压成像，低能电子束受到散射的扩散区域小，相互作用区接近表面，有利于表面精细形貌成像。对于某些热敏或导电性能差的样品，如半导体和器件、合成纤维、溅射或氧化薄膜、纸张、动植物组织、高分子材料等，有时不允许进行导电处理，而要求直接观察，采用低加速电压成像可以减小或消除此类样品的荷电效应同时减小电子束辐照损伤。下图为氧化锌样品在5KV 和15KV 下的图像对比，由图像可知，在5KV 低加速电压下，样品表面细节特征清晰，有利于表面精细形貌的观察。
    厂商： 天美
  • 加速电压效应对扫描电镜成像质量的影响
    扫描电镜激发样品的物理信号（二次电子、背散射电子、特征 X 射线等）主要取决于入射电子束的加速电压，当高能量的电子束入射到同一样品时，入射电子束与试样相互作用区范围的大小随加速电压的升高而增大。
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  • 加速电压对扫描电镜成像影响

    加速电压对扫描电镜成像影响

    [color=#ff0000][b]此为分享引用，所有权归原微信公众号，原文链接：[url]https://mp.weixin.qq.com/s/lDVTic2etkUd7drsNrdJNw[/url][/b][/color][font=&]扫描电镜是材料学研究中的常用仪器设备，通过入射电子轰击样品，激发和收集二次电子获得样品表面形貌像，以及通过特征X射线进行样品成分分析。在仪器测试使用时，加速电压（HV/ETH）为常用参数中调节最为普遍的一个。那么加速电压是如何影响成像的效果呢？本短文将以我校常见样品的实际图片结合简短的原理来与大家共同分享和探讨一下在扫描电镜成像中应如何调整加速电压。[/font][size=17px]入射电子影响的范围[/size][font=&]加速电压越高，入射电子的能量能越高，在样品中可穿透和散射的范围越大，伴随着产生的信号范围也越大。如下图模拟，入射电子在1kV加速电压时，在硅中散射范围主要在20nm区域内；在5kV时，散射的主要范围扩大到300nm区域，因此5kV时二次电子可产生的范围从入射点扩大到数百纳米。[/font][align=center][img=,690,223]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109171507293110_4689_1613111_3.jpg!w690x223.jpg[/img][/align][size=17px]样品表面细节的分辨[/size][align=left]如上模拟所示，由于加速电压增加，入射电子散射的范围增加，使得产生的二次电子区域扩大，样品表面细节分辨率降低。如下图对比，在1kV条件下颗粒表面附着的碳纳米管比5kV条件下更加显著可见。[/align][align=center][font=&] [/font][img=,690,222]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109171508305861_6609_1613111_3.jpg!w690x222.jpg[/img][/align][align=center][/align][font=&]如下图在1kV下可见颗粒表面为更小的颗粒组成，而在5kV时仅能看到大颗粒的宏观轮廓。因此对追求纳米级的表面细节分辨建议选择低电压比较合适。[/font][align=center][img=,690,250]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109171513118873_2060_1613111_3.jpg!w690x250.jpg[/img][/align][size=17px]辐射损伤[/size]有些样品易受辐射损伤，如有机高分子，金属有机框架，生物组织等。辐射损伤的机理比较复杂原因也多，本短文不再深入探讨。在扫描电镜成像时，有没有简单的办法判断当前加速电压有没有造成辐射损伤？在实践发现，采用较低的加速电压，例如5kV及以下的电压，拍一张图后，原地再拍一张即可，对比前后两张图有没有裂纹、收缩等。如下图，原地再拍一张后的样品前后图明显出现了收缩，说明在此加速电压下样品受到了损伤，应当降低入射电子能量。[align=center][font=&][img=,690,233]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109171514256752_1419_1613111_3.jpg!w690x233.jpg[/img] [/font][/align][font=&]加速电压越高，所携带能量越高，热损伤和轰击损伤都会增加。因此对于易受辐射损伤的样品建议使用较低电压。如下图所示在1kV下，PMMA球体表面圆润饱满，在2kV球体出现了收缩的凹陷；在1kV下，MOF表面平滑，在2kV条件表面出现收缩。[/font][align=center][font=&] [img=,690,514]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109171515150790_4421_1613111_3.jpg!w690x514.jpg[/img][/font][/align][size=17px]非导电样品的荷电[/size][font=&]为避免非导电样品出现荷电影响成像效果，对于此类样品一般会在表面溅射一层几纳米厚的导电薄膜，如C，Au，Pt等，但对于有的样品效果也有限。出现荷电的直接体现为成像时明暗度明显失调或者出现条纹，根本原因在于电子输入和逸出的数量不平衡。不同的样品有不同的平衡电压，但对于大部分绝缘样品平衡电压[i]E[sub]2[/sub][/i]在1-3kV内，因此可以通过在此低电压范围内适当尝试。此外，采用低电压同时也减少了电子输入，对减弱和改善区域范围内的荷电有较好的效果。如下图所示，在1kV时图像明暗度较均匀，在5kV时存在明显异常亮的荷电影响区域。[/font][align=center][img=,690,234]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109171515420931_1042_1613111_3.jpg!w690x234.jpg[/img][/align][size=17px]成像的信噪比[/size][font=&]加速电压越高，入射电子所携带的能量越高，因此轰击到样品产生的二次电子越多，信号越强，信噪比得到提高，成像的直观感觉图像更清楚了。如下图在5kV时，相对1kV图像的成像视觉效果更为清楚。对于微米级的较大颗粒，在不追求表面细节时，提高加速电压有利于提高信噪比，获得成像效果更为清楚的图片。[/font][font=&] [/font][align=center][img=,690,255]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109171516056033_5181_1613111_3.jpg!w690x255.jpg[/img][/align][font=&] [/font][size=17px]混嵌的样品[/size]如果所要观察的目标物包裹或者嵌入在其他物质里面，一般建议高加速电压以提高测试深度。此仅针对高原子序数目标物质有效，且一般范围在1-2um深度以内。如下图，1kV仅能看见高分子样品表面有颗粒起伏，在15kV下明显可见包裹的Fe氧化物颗粒。但如果两物质原子序数接近或者目标物原子序数较低则很难实现成像区分，如在有机高聚物里添加纳米薄层石墨烯。[align=center][img=,690,259]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109171516295430_4956_1613111_3.jpg!w690x259.jpg[/img][/align][align=center][/align][font=&] 以上加速电压选择简单整理为下表：[/font][align=center][img=,690,319]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109171516468545_8504_1613111_3.jpg!w690x319.jpg[/img][/align][font=&]本短文抛开了复杂的机理讨论，以简洁的方式分享了我校常测样品对加速电压高低选择的一般原则。[/font][font=&]由于样品的不同及分析目标不同，在测试中需要根据实际情况配合其他参数进行调整，感兴趣的读者可以参阅以下文中引用的参考资料。[/font]参考文献[font=Optima-Regular, PingFangTC-light]1. 李超.电子束辐照致荷电效应的Monte Carlo模拟研究.中国科学技术大学博士学位论文，2020[/font][font=Optima-Regular, PingFangTC-light][size=14px]2. 周莹，王虎，吴伟，刘紫微， 林初城，华佳捷.加速电压的选择对 FESEM 图像的影响.实验室研究与探索,2012,31(10):227-230.[/size][/font][font=Optima-Regular, PingFangTC-light][size=14px]3. 吴东晓，张大同，郭莉萍.扫描电镜低电压条件下的应用,2003,电子显微学报,22(6)：[/size][/font][font=Optima-Regular, PingFangTC-light][size=14px]655-656.[/size][/font][font=Optima-Regular, PingFangTC-light][size=14px]4. 曹水良,梁志红,尹平河.不同加速电压对不导电样品扫描电镜图像的影响.暨南大学学报( 自然科学与医学版),2014,35(4):357-360.[/size][/font][font=Optima-Regular, PingFangTC-light][size=14px]5. 华佳捷，刘紫微，林初城，吴伟，曾毅.场发射扫描电镜中荷电现象研究.电子显微学报,2014,33(3):226-232.[/size][/font][font=Optima-Regular, PingFangTC-light][size=14px]6[/size][/font][font=Optima-Regular, PingFangTC-light][size=14px]. 程彬杰,刘学东,唐天同,王莉萍.电子束中Boersch效应的实验研究.真空科学与技术，1998,18(5):364-368.[/size][/font]

  • 低加速电压SEM

    请问苏州及周边哪家对外开放的实验室有可以低加速电压（1000v以下）观测的SEM？样品为不锈钢片，谢谢！

  • 低加速电压下的能谱分析

    低加速电压下的能谱分析

    低加速电压下的能谱分析----X射线扩散区域随加速电压的变化常规的能谱分析通常在20kV加速电压下进行，这也是大多数用户固定的能谱工作条件。但是20kV并不能适合所有的样品。因为对于同样的样品，加速电压越高，X射线的扩展区域就越大，反之则越小。所以能谱分析时要根据样品的不同来选择不同的加速电压。下图是利用蒙特卡洛模拟程序，对Ni在不同加速电压下X射线扩展区域的模拟。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/04/201204121219_360844_1820053_3.jpgNi，20kV下X射线你扩展区域为1um，10kV时缩小为400nm，5kV时则不到100nm了。可见如果要对非均相样品中微小的相或颗粒进行更准确的分析，要优先选择低加速电压。

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  • 强大的生物成像新工具！5kV低电压设计、无需染色的低电压台式透射电子显微镜
    在透射电子显微镜成像实验中，生物样品的成像操作为复杂，成像难度大。这主要是因为传统透射电子显微镜过高的加速电压引起的。上图为各种元素在传统透射电子显微镜的不同照射电压的反冲能量统计图。可以发现电子束加速电压在20kv就已经到达了碳碳单键的临界反冲能量，超过就很有可能使碳碳单键发生断裂，即使强的碳碳三键的临界反冲能量也仅仅在80 kV，这也是为何大多数生物样品在电镜观察的时候使用了透射电子显微镜的低电压80 kV。因此，传统透射电子显微镜在对由C/H/O/N等元素组成的生物样品进行成像时就需要使用重金属盐离子进行负染。负染是在使用传统透射电镜对生物样品成像时“不得不”采用的样品处理手段，负染的处理手段会带来诸多的问题。负染会导致生物样品制样复杂，样品容易产生收缩、膨胀、破碎以及内含物丢失等结构改变，重金属盐离子本身会对生物样品的形貌造成不可逆的损害，且负染液在电镜观察时容易产生“假象”。负染的操作对于制样者的要求较高，生物样品的种类多种多样，而每一种生物样品负染时佳的制样条件（重金属盐溶液的种类、浓度、染色的时间长短等）都不一样。这就需要制样人员根据各自实验室的条件，在长时间地摸索与多次地试错来获取佳的制样条件，大量宝贵的时间和样品就这样浪费在负染制样条件的摸索中了。Delong公司推出的LVEM5生物型透射电子显微镜，地解决了以上的问题。LVEM5生物型透射电镜采用的5kV低电压设计，对生物样品不会造成任何损伤，与传统高压电镜相比，低电压反而提高了生物样品成像的衬度/反差；无需重金属染液负染，对生物样品成像条件温和，摆脱了染液与负染过程本身可能对生物结构造成的损害，所得图像为“正像”，更加真实地展现生物样品的结构特征。 上图分布为传统电镜和LVEM5生物型透射电镜对未染色的小鼠心肌切片（上）和有机纳米颗粒（下）的成像实例。可以看到，传统高压透射电镜本身就会带来样品细节损失，在80-120kV下的透射电镜成像过程中，未染色的生物样品和大量十几纳米尺寸的颗粒会直接被“击穿”。而LVEM5生物型透射电镜采用的5kV低电压设计，不仅避免了传统高压透射电镜长时间照射对于生物样品的损害，还可以保留下更多地小有机颗粒图像，获得更多地细节。LVEM5生物型透射电镜可以对外泌体、脂质体、噬菌体、病毒、细胞切片等生物样品进行无负染成像，所得的图像衬度更高。如下图所示。 LVEM5技术特点：高衬度：低能量电子对有机分子产生更强烈的散射，具有更高对比度。无需染色：突破以往生物/轻材料成像需要重金属染色的局限性。高分辨率：无染色条件下能够达到1.5 nm的图像分辨率。多模式：LVEM5能够在TEM、SEM、STEM三种模式中自由切换。高效方便：真空准备只需要3分钟，空间小，环境需求低。易操作且成本低：友好智能化操作界面，低耗材，低维护费用，无需专业操作人员。
    时间： 2022-05-26
    作者： QUANTUM量子科学
  • 电镜学堂丨电镜操作之如何巧妙选择加速电压？
    “TESCAN电镜学堂”又跟大家见面了，利用扫描电镜观察样品时会关注分辨率、衬度、景深、形貌的真实性、其他分析的需要等等，不同的关注点之间需要不同的拍摄条件，有时甚至相互矛盾。 今天主要谈一谈如何根据样品类型以及所关注的问题选择合适的加速电压？ 这里是TESCAN电镜学堂第9期，将继续为大家连载《扫描电子显微镜及微区分析技术》(本书简介请至文末查看)，帮助广大电镜工作者深入了解电镜相关技术的原理、结构以及最新发展状况，将电镜在材料研究中发挥出更加优秀的性能！ 第三节 常规拍摄需要注意的问题 平时电镜使用者都进行常规样品的观察，常规样品不像分辨率标准样品那么理想，样品比较复杂，而且有时候关注点并不相同。因此我们要根据样品类型以及所关注的问题选择合适的电镜条件。 关注分辨率、衬度、景深、形貌的真实性、其它分析的需要等等，不同的关注点之间需要不同的电镜条件，有时甚至相互矛盾。因此我们必须明确拍摄目的，寻找最适合的电镜条件，而不是贸然的追求大倍数。 电镜的工作条件包括很多，加速电压、束流束斑、工作距离、光阑大小、明暗对比度、探测器的选择等。这一期将为大家介绍加速电压的选择。 §1. 加速电压的选择 任何电镜都是加速电压越高分辨率越高，但并不意味着任何试样都是电压越大越好。电压的选择是电镜中各个工作条件中最重要的一个。有各种因素需要考虑，而各个因素之间也有矛盾相悖的，这个时候还需要适当进行综合考虑或者采取其它办法。 ① 样品损伤和荷电因素 选择的加速电压不能对试样产生明显的辐照损伤或者荷电，否则观察到的图像不是试样的真实形貌。如果有荷电的产生，需要将电压降至到V2以下，这点在前面电荷效应中已经详细阐述，这里不再重复。 对于金属等导电导热均良好的试样，可以用较高的电压进行观察，如10kV及以上；对于一些导电性不是很好但是比较稳定的试样，可以中等加速电压，如5kV左右；对一些容易损伤的样品，比如高分子材料、生物材料等，可能需要较低的电压，如2kV或以下。 ② 电子产额因素 对于单相材料来说，因为成分没有差别，我们选择电子产额最大的区间V1～V2即可，但是对于混合物相材料来说，我们希望在有形貌衬度的同时还能有较好的成分衬度，这样的图片显得衬度更好，信息量也最大，往往我们也会认为这样的图片最清晰。因此我们需要选择二次电子产额相差较大的区域进行拍摄。 如图5-13，左图是碳和金的二次电子产额，中间图片是金颗粒在1kV下的二次电子图像，右图是200V下的二次电子图像。显然，在200V下碳和金的产额一样，所以此时拍摄的图像仅呈现出形貌上的差别，而碳和金的成分差异无论怎么调节明暗对比度也不会出现。而在1kV下，碳和金的电子产额差异达到最大，所以除了形貌衬度外，还表现出极好的成分衬度。 图5-13 金和碳在电子产额（左）及1kV（中）、200V（右）电压下的SE图像 对于一些金属材料来说，往往较高的加速电压下有相对较大的产额差异，而对于一些低原子序数试样，较低的电压往往电子产额差异更大。 如图5-14，试样为碳银混合材料。左图为5kV SE图像，右图为20kV SE图像。5kV下不但能表现出比20kV更好的成分衬度，还有更好的表明细节。 图5-14 碳银混合材料在5kV（左）、20kV（右）电压下的SE图像 如图5-15，试样为铜包铝导线截面，左图为5kV SE图像，右图为20kV SE图像。20kV下能够更好的将外圈的铜层和内部的铝层做更好的区分。 图5-15 铜包铝导线截面在5kV（左）、20kV（右）电压下的SE图像 对于有些本身差别很小的物相，如果能找到二次电子产额差异最大所对应的电压，也可将其区分。当然有的产额没有参考曲线，需要经过诸多尝试才能找到。比如图5-16，试样为掺杂半导体基底上的本征半导体薄膜，其电子产额差异在1kV达到最大，对应1kV的图像能将两层膜就行区分，而其它电压则没有太好的衬度。 图5-16 半导体薄膜在不同电压下的衬度对比 ③ 衬度的平衡 虽然通过上一点提到的加速电压的选择可以将成分衬度达到最大，但有时该条件并不是观察形貌最佳的电压。此时我们需要考虑究竟是注重形貌还是注重成分衬度，使用二次电子来进行观察，还是用背散射电子进行观察，或者用折中的办法进行观察。这都需要操作者根据电镜照片想说明的问题来进行选择。 要获得好的形貌衬度图像和原子序数图像所需的电压条件一般都不一样，也有另外的办法可以适当解决。对最佳形貌衬度和最佳原子序数衬度单独拍摄照片，后期在电镜软件中通过图像叠加的方式，将不同的照片（位置需要完全一样）按照一定的比例进行混合，形成一张兼有两者衬度的图片。 ④ 有效放大率因素 一般电镜在不同的电压下都有着不一样的极限分辨率，其对应的有效放大率也随之而改变。拍摄特定倍数的电镜照片，特别是高倍照片，需要选择电压对应的有效放大率能够达到需求。否则，视为图像出现了虚放大。虚放大后，图像虽然也在放大，但是并没有出现更多的信息，而且虚放大而会有更多环境因素的影响。 所以如果出现虚放大，可以提高加速电压，以增加有效放大率；如果电压不能改变，可以考虑增加图像的采集像素，来获得类似放大的效果。此时受环境因素或者样品损伤因素更小。 ⑤ 穿透深度因素 前面已经详细的讲述了加速电压和电子散射之间的关系。加速电压越高，能量越大，电子的散射区域就越大。那么产生的二次电子或背散射电子中，从更深处发射的比例则更多。因此较大的加速电压虽然有更好的水平方向的分辨率，但是却忽略了试样很多的表面细节；而低电压虽然水平方向分辨率相对较差，但是却对深度方向有着更好的灵敏度，可以反映出表面更多的形貌细节。 如图5-17，试样为表面修饰的二氧化硅球，5kV电压看不出任何表面细节，而2kV下则能观察到明显的颗粒。再如图5-18，纳米颗粒粉末在不同电压下的表现，因为颗粒团聚严重，所以在5kV电压下无法将团聚颗粒很好的区分，显得粒径更大，而1kV下则能观察到相对更细小的颗粒。 图5-17 SiO2球在5kV（左）、1kV（右）电压下的图像 图5-18 纳米颗粒在5kV（左）、1kV（右）电压下的图像 当加速电压降低到200V左右的超低水平后，电子束的作用区域变得很小，常规的边缘效应或者尖端效应基本可以去除，如图5-19。 图5-19 200V左右的电压可以消除边缘效应 更多详情内容请关注“TESCAN公司”微信公众号
    时间： 2018-04-25
    作者： 泰思肯
  • 低电压、无负染，LNP成像新突破——生物型透射电镜LVEM
    在近期的新冠疫情中，各类mRNA疫苗纷纷采用了LNP作为递送载体，有效避免了核酸被降解，提高了mRNA进入细胞的效率。在LNP的应用研究中，质量控制往往为重要也为困难的一环。LNP的质量（如其包封率、载药量与稳定性）很大程度上取决于其囊泡的结构是否均匀、稳定，这就需要研究人员对LNP进行透射电镜成像，来直接观测LNP的囊泡结构、粒径等形态信息。 随着科研的进步，人们对成像仪器的要求与日俱增。但是即便在高分辨成像设备多如牛毛的今天，生物样品的透射电镜成像却一直是一个难题。所谓“电镜易得，样品难求”，如何制得一个无损的电镜样品从而拍摄到清晰、高反差的生物样品图片，一直是生物样品透射电镜成像中的大的难题。这个难题很大程度上是由透射电镜的高电压与制样中的染色/负染步骤导致的。 负染是在使用传统透射电镜对生物样品成像时“不得不”采用的样品处理手段，但是负染的处理手段也会带来显著的问题： 、就是生物样品制样复杂，在制样染色过程中，样品容易产生收缩、膨胀、破碎以及内含物丢失等结构改变； 二、重金属盐离子本身会对生物样品的形貌造成不可逆的损害，这种损害在传统制样过程很难避免； 三、负染所得的“负像”并不能真实地反映生物样品的形貌特征，尤其对于LNP等囊泡结构，囊泡表面局部凹陷，可能会有少量染液遗留在凹陷处，或者载网表面有负染液残留的痕迹等，这些负染液在电镜观察时就会产生“假象”； 四、对于制样操作者的要求较高，生物样品的种类多种多样，而每一种生物样品负染时佳的制样条件（重金属盐溶液的种类、浓度，染色的时间长短等）都不一样。这就需要制样人员根据各自实验室的条件，在长时间地摸索与多次地试错来获取佳的制样条件，大量宝贵的时间和样品就这样浪费在染色制样条件的摸索中了； 五、传统透射电镜操作复杂，维护困难，而实验平台的透射电镜往往一“时”难求，生物样品的佳观测时间往往较短，经常会出现获得好的生物样品，却发现电镜早要在一周后才能预约的尴尬局面； 后，即便已经采用了负染等手段，LNP类的囊泡生物样品还是非常脆弱的，在成像过程中经常会出现囊泡被长时间电子流照射给“轰碎”的状况，这就迫使操作者加快操作速度，更加手忙脚乱。摆脱传统电镜桎梏的生物型透射电镜 Delong Instrument公司推出的LVEM生物型透射电子显微镜（LVEM5&25）采用了5kV与25kV的低加速电压设计，一次性地摆脱了上述所有的生物电镜成像难题，为生物样品的电镜成像提供为便捷高效的解决方案。 高衬度：低能量电子对有机分子产生更强烈的散射，具有更高对比度。无需染色：突破以往生物/轻材料成像需要重金属染色的局限性。高分辨率：无染色条件下能够达到1.5 nm的图像分辨率。多模式：LVEM5能够在TEM、SEM、STEM三种模式中自由切换。高效方便：真空准备只需要3分钟，空间小，环境需求低。易操作且成本低：友好智能化操作界面，低耗材，低维护费用，无需专业操作人员。生物样品友好 LVEM生物型透射电镜采用的5kV与25kV低电压设计，对生物样品不会造成任何损伤，与传统高压电镜相比，低电压反而提高了生物样品成像的衬度/反差；无需重金属染液负染，对于LNP等囊泡结构成像条件温和，摆脱了染液与负染过程本身可能对囊泡结构造成的损害，所得图像为“正像”，更加真实地展现囊泡的结构特征。 生物样品细节损失少 如下图所示，传统高压透射电镜本身就会带来样品细节损失，在80-120kV下的透射电镜成像过程中，大量十几纳米尺寸的颗粒会直接被“击穿”。而LVEM生物型透射电镜采用的5kV与25kV低电压设计，不仅避免了传统高压透射电镜长时间照射对于生物样品的损害，还可以保留下更多地小有机颗粒图像，获得更多地细节。小型化设计，操作更加方便 传统透射电子显微镜体积庞大，对放置环境有严格的要求，并且需要水冷机等外置设备。通常会占据整间实验室。LVEM电镜从根本上区别于传统电镜，尺寸较传统电镜缩小了90%，对放置环境无严格要求，无需任何外置冷却设备，可以安装在用户所需的任意实验室或办公室桌面。操作界面智能化，更加方便。 LVEM生物型电镜案例 LVEM生物型透射电镜对生物样品成像友好，除了LNP之外，对于病毒颗粒、外泌体、噬菌体、DNA、细胞切片等生物样品的成像效果也非常，可以满足研究人员多样化的成像需求，且其操作简便，制样简单，是使生物科研工作者研究更加游刃有余的“科研利器”。 部分用户单位：
    时间： 2022-04-15
    作者： QUANTUM量子科学
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