薄膜与薄板

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薄膜与薄板相关的耗材

  • 试验机薄板夹具 天源夹具
    试验机非金属薄板夹具 最大负荷: 5000N 适用范围:非金属薄板,胶带,双面胶,复合材料,包装带等各种材料的拉力测试
  • 薄膜拉伸 胶带拉伸 天源夹具
    试验机薄膜夹具,包装带等,可定制 最大负荷: 5000N 适用范围:非金属薄板,胶带,双面胶,复合材料,包装带等各种材料的拉力测试
  • Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统
    Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统Specac的等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定,根据热压制膜原理,所得到的样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供三种等厚度薄膜制样工具,不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还能将粒状,块状或板材,如药包材料,包装材料,特殊包裹材料等不规则的聚合物变成可以检测的薄膜。 GS15800高温薄膜制样系统技术参数: 最高操作温度高达400℃ 满足高端科研的要求 一周期40分钟 通过CE安全认证 集成的供热制冷设备? 2T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 压力范围0-2吨 一体式加热盘系统 双数字显示,精度1度 安全切换装置:70℃ 切断加热希同/55℃ 重启加热系统 一体式冷却盘高温薄膜制样机P/N GS15800有一组加热板是嵌入到薄膜制样机中的,所以当P/N GS15800装载在压 片机上时, 是不需要额外的Atlas 加热压盘P/NGS15515的。订购信息GS15640标准薄膜制样机特点:独立加热压盘,满足不同直径薄膜需要独立冷却盘,可缩短制膜周期重现性哈,制备过程简单 制膜过程无需化学品,成本低6种不同厚度的垫圈,适合各种高分子材料技术参数: 操作温度高达300℃ 一周期30分钟 4T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 双数字显示,精度℃ 可配套加热板P/N GS15515使用 冷却系统停止时切断加热系统 冷却水流速大于0.2/min时重启加热系统 独立冷却盒订购信息GS15640 Atlas™ 标准薄膜制样机包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250和0.500 mm 垫圈铝膜 直径40mm(200 片)Specacards 卡夹式,圆形通光孔直径10mm,样品架(20张)不锈钢镊子GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250and 0.500 mm 垫圈铝膜直径40mm(200 片)制作铝膜样品杯的工具Specacards 卡夹式,圆形通光孔直径10mm,样品架(20张)不锈钢镊子高稳定性及高精度的温度控制器(400℃) 薄膜制样套装GS15631 Atlas™ 标准型薄膜制样套装1包括: 薄膜制样系统(GS15640) 加热板和加热压盘以及数字全自动温控器(300°C) (GS15515)GS15633 Atlas™ 标准型薄膜制样套装2包括: 薄膜制样系统(GS15640)加热板和加热压盘以及数字温控器(300oC) (GS15515)15T手动液压机(GS15011)(对于GS15800,GS15631和GS15633,请指定220V或110V电压和使用的国家。)GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统套装 包括: 高温薄膜制样系统(GS15800) 15T手动液压机(GS15011)(请指定220V或110V电压和使用的国家。)备件及耗材GS03800 卡夹式,圆形通光孔直径10mm,样品架 (100张/盒)GS03805 用于固定易伸缩薄膜样品的尼龙卡簧(20)GS03810 10mm x 25mm 矩形通光孔Specacards (100)GS03820 磁性薄膜样品架 圆形通光孔直径25mmGS15627 直径为40mm的铝膜(200)GS15641 冷却盒 用于标准薄膜制样系统 替换GS15642 标准薄膜制样压盘套装GS15629 标准薄膜制样机可替换的垫圈组件GS15805 高温薄膜制样机可替换的垫圈组件

薄膜与薄板相关的仪器

  • 塑料薄膜及薄板的透气性试验方法仪器应用范围 GTR-704R 透气度仪适用于电池隔膜、交换膜、炭纸、纸张、纺织品等材料透气度指标的测定。 主要特点 1.一键试验,全自动测试 2.工业 TFT 屏,触摸屏操作 3.零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷 4.气动夹样 5.s/100ml,um/Pa.s 多单位显示 6.微型打印机打印试验报告 7.自动过载保护 8.标准通信接口技术指标 测试范围:10-15000s/100ml(标准配置) 其他量程可选。 分 辨 率:0.1s/100ml 试样件数:1 件 压力范围:20kPa 压力精度:0.01kPa 测试面积:1.0in2 . (0.25in2 , 0.1in2可选) 试样厚度:≤5mm 试验气体:洁净空气(用户自备) 气源压力:0.3MPa-1.0MPa 接口尺寸:Ф6mm 外形尺寸:370mm(L)×320mm(D)×220mm(H) 电 源:AC 220V 50Hz 净 重:20 kg 执行标准 ISO 5636.5,ASTM D726, TAPPI T460, GB/T 36363-2018 产品配置 标准配置:主机、测量头(1.0in2)、超水过滤器、调压阀 选 购 件:校准器具
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  • ISO 4593-1993塑料 薄膜和薄板 机械扫描测定厚度仪器 应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏,触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)技术指标测量范围:0~2mm(标配) 0~10mm(可选)分 辨 率:0.1μm测量速度:1~25 次/min(可调)测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)纸张:200mm2,50±1kPa(可选)电 源:AC 220V 50Hz外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重:38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置:主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件:纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。
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  • ISO 8295塑料薄膜和薄板摩擦系数的测定仪器 应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸塑复合膜、纸张、纸板、金属箔、橡胶等产品静摩擦系数、动摩擦系数的测定。主要特点1. 内置 GB、ISO、ASTM、CM 自定义多种试验模式2. 静+动摩擦测试、静摩擦测试、动摩擦测试3. 进口力值传感器4. 伺服驱动系统,无级调速5. 工业 TFT 屏,触摸屏操作6. 零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷 7. 真彩色液晶显示结果、参数、试验曲线8. 支持任意厚度试样试验9. 支持任意质量滑块试验10. 内嵌历史数据查询功能11. 微型打印机打印报告12. 过载保护、急停开关保护功能13. 配置标准通信接口14. 专业 COFlex 系统软件支持15. 支持 DSM 实验室数据管理系统,可实现数据统一管理(选购)技术指标测试量程:5N(标配);10N,20N,30N (可选)测试精度:0.05%FS MAX支持行程:400mm滑块质量:200g(标配)试验速度:1 mm/min ~ 500 mm/min (无级变速,连续可调,触摸屏设置)试样厚度:0~30mm(标准)电 源:AC 220V 50Hz功 率:25W外形尺寸:650mm(L)*340mm(B)*210mm(H)净 重:42kg执行标准GB 10006、ISO 8295、ASTM D1894、TAPPI T816产品配置标准配置:主机、微型打印机、200g 滑块选 购 件:配套软件系统、取样器、500g 滑块、非标滑块、校准附件、通信电缆、DSM 实验室数据管理系统。
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薄膜与薄板相关的试剂

薄膜与薄板相关的方案

薄膜与薄板相关的论坛

  • 【讨论】薄板的预吸附

    我们这儿跑氨基酸的板子,一般只将展开室饱和,点完样后,就直接把扳子放入缸中展开了,没有说把薄板预吸附后再展开。请问扳子是否该预吸附,预吸附和没有预吸附有什么不一样?

  • 薄板样品如何制样?

    有一块薄板样品长50mm,宽30mm左右,厚度只有3mm没法像常规样品那样拿在手上直接在磨样机上制样,这么薄的样品,大家是如何制样的呢?

薄膜与薄板相关的资料

薄膜与薄板相关的资讯

  • 我国牵头修订的ISO 7799《金属材料 薄板和薄带 反复弯曲试验方法》在ISO/TC164/SC2正式立项
    7月12日,由中国专家提出的ISO 7799《金属材料 薄板和薄带 反复弯曲试验方法》国际标准修订项目在ISO/TC164/SC2“金属力学试验/延性试验”分技术委员会正式立项。ISO 7799:1985《金属材料 薄板和薄带 反复弯曲试验方法》适用于厚度等于或小于3mm的金属薄板和薄带反复弯曲塑性性能的测定,运行至今已近40年,在电工钢行业、铝合金行业和包装用钢带行业被广泛采用。本次修订主要计划增加关于拨杆狭缝宽度的规定,更改关于试样宽度和长度的条款,同时基于操作便利性和塑性变形性能差异材料的不同断裂特征,对试验终止判据条款进行细化。该国际标准由武汉钢铁有限公司和深圳信测标准技术服务股份有限公司提出修订,是继我国牵头修订ISO 7801《金属材料 线材 反复弯曲试验方法》后,继续牵头修订的金属材料薄板和薄带反复弯曲试验方法标准,该标准的成功立项也进一步提升了我国在金属材料力学试验领域标准化工作的国际影响力。
  • 薄膜拉伸强度测试仪如何区分弹性变形和塑性变形
    在薄膜拉伸强度测试中,准确区分弹性变形和塑性变形对于材料工程师、物理学家以及产品开发者而言,是至关重要的一环。这两种变形类型不仅决定了材料的基本性能,还直接关系到产品的使用寿命和安全性。本文旨在深入探讨薄膜拉伸强度测试中弹性变形与塑性变形的区分方法,以及它们在材料科学领域的应用。一、弹性变形与塑性变形的基本概念弹性变形,指的是材料在外力作用下产生变形,当外力消失时能够恢复到原始形状和尺寸的现象。这种变形是可逆的,不涉及材料的内部结构变化。而塑性变形则是指材料在外力作用下产生变形后,即使外力消失也不能完全恢复到原始形状和尺寸的现象。塑性变形是不可逆的,通常伴随着材料内部结构的改变。二、薄膜拉伸强度测试中的变形观察在薄膜拉伸强度测试中,我们可以通过观察材料的应力-应变曲线来区分弹性变形和塑性变形。在弹性变形阶段,应力与应变之间呈线性关系,即应力增加时,应变也按一定比例增加。当应力达到弹性极限时,材料开始进入塑性变形阶段,此时应力-应变曲线呈非线性关系,应变继续增加但应力增长缓慢或不再增长。三、区分弹性变形与塑性变形的具体方法应力-应变曲线分析:如前所述,通过分析应力-应变曲线的形状和变化,可以判断材料是否进入塑性变形阶段。在弹性变形阶段,曲线呈直线状;而在塑性变形阶段,曲线则呈现弯曲或平坦的趋势。卸载试验:在拉伸测试过程中,当材料达到一定的应力水平时,可以突然卸载并观察材料的恢复情况。如果材料能够迅速恢复到原始长度,则说明之前的变形主要是弹性变形;如果材料不能完全恢复,则说明存在塑性变形。残余应变测量:在拉伸测试结束后,通过测量材料的残余应变可以判断塑性变形的程度。残余应变越大,说明塑性变形越显著。四、弹性变形与塑性变形在材料科学中的应用材料选择:了解材料的弹性变形和塑性变形特性有助于选择合适的材料以满足特定需求。例如,在需要高弹性的场合(如橡胶制品),应选择弹性变形能力强的材料;而在需要承受大变形而不破裂的场合(如金属薄板),则应选择塑性变形能力强的材料。产品设计:在产品设计过程中,考虑到材料的弹性变形和塑性变形特性,可以优化产品结构以提高其性能和安全性。例如,在设计弹性元件时,需要充分利用材料的弹性变形能力;而在设计承力结构时,则需要考虑材料的塑性变形特性以确保结构的稳定性和安全性。质量控制:通过测量材料的弹性模量、屈服强度等力学性能指标,可以评估材料的性能是否满足要求。同时,通过观察材料的变形行为(如弹性变形和塑性变形)可以判断材料是否存在缺陷或质量问题。五、结论在薄膜拉伸强度测试中准确区分弹性变形和塑性变形对于材料科学领域具有重要意义。通过分析应力-应变曲线、进行卸载试验和测量残余应变等方法可以判断材料的变形类型。了解材料的弹性变形和塑性变形特性有助于选择合适的材料、优化产品设计和提高产品质量。未来随着材料科学的发展和技术的进步相信我们将能够更加深入地理解材料的变形行为并开发出更多高性能的材料。
  • 速普仪器取得光电版薄膜应力仪国产化突破
    近日,深圳市速普仪器有限公司在西安交通大学创新港校区顺利交付光电版薄膜应力测量仪FST2000。该项目系速普仪器今年继安徽某OLED显示屏公司和宁波大学两套已交付后的第三套FST2000,另外还有三套待交付及若干套即将执行采购。成功实现业界主流光电版薄膜应力仪的国产化替代。 薄膜应力作为半导体制程、MEMS微纳加工、光电薄膜镀膜过程中性能测试的必检项,其测试的精度、重复性、效率等因素为业界所重点关注。对应产品目前业界有两种主流技术流派:1)以美国FSM、KLA、TOHO为代表的双激光波长扫描技术(线扫模式),尽管是上世纪90年代技术,但由于其简单高效,适合常规Fab制程中进行快速QC,至今仍广泛应用于相关工厂。2)以美国kSA为代表的MOS激光点阵技术(2000年代技术,曾获业界R&D100大奖),抗环境振动干扰,精于局部区域内应力测量,这在研究局部薄膜应力均匀分布具有特定意义。做一个比喻,丘陵地貌,尽管整体平均地面是平整的,但是局部是起伏的。因此,第一种路线线扫模式主要测量晶圆薄膜整体平均应力,监控工序工艺的重复性有意义。但在监控或精细分析局部薄膜应力,第二种激光点阵技术路线具有特殊优势,比如在MEMS压电薄膜的应力和缺陷监控。作为国内同类产品的唯一供货商,速普仪器创造性的提出同时兼容测试效率和细节精度的方案,即激光点阵Mapping面扫模式(适合分析局部应力分布)和L-D线扫模式(适合快速QC质检)。并采用具有自主知识产权(CN201911338140.9)的新型光路设计(更简单可靠)。FST2000薄膜应力仪采用经典的激光曲率法,利用5×5激光点阵对样品表面进行扫描测量,自动获取样品表面曲率半径数值,并自动代入内置Stoney公式获取薄膜应力数值。FST2000薄膜应力测试范围:5MPa-5GPa;曲率半径/薄膜应力重复精度:<1%(曲率半径<20m),<3%(曲率半径<100m);扫描步长:Min. 0.1mm;扫描数据点:Max. 1万点;可视化2D/3D显示。另外,针对不平整表面样品,本仪器具有对减功能模式,即镀膜前后数据点阵根据坐标点逐点对减获得真实薄膜曲率半径和应力分布,通过数据处理校正样品原始表面不平整的影响。同时,本仪器还具有直观且简单的操作界面。本地化技术团队能够提供便捷的售后服务。 深圳市速普仪器有限公司简介:
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