薄膜样品

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薄膜样品相关的耗材

  • 样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜3018#
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Prolene膜、ROHS测试膜、XRF有方形托架的圆片薄膜--美国Chemplex--3018# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:3018产品信息:Prolene膜,厚度4.0μm,直径63.5mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • chemplex样品薄膜迈拉膜
    chemplex样品薄膜型号:090,250品牌:chemplex产地:美国 一、产品介绍: 在用x荧光光谱仪进行rohs检测,weee检测和一般材料成分分析时,由于样品的不规则(特别是液体、粉末等),需要借助样品杯和薄膜辅助检测;但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的x射线信号和检测结果。选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中,只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料?适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础: 使用方便快捷; 避免造成待测样品污染; 优越的分析物透射比与强度; 对待测样品的耐化学性。chemplex industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是x射线光谱仪(xrf)配件耗材领域的全球知名厂商。chemplex xrf样品杯和样品薄膜用于rohs、weee专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的x射线荧光光谱仪。chemplex样品薄膜薄膜张力特性极/佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得chemplex xrf样本杯、样品薄膜在xrf物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。chemplex的许多xrf样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。美同达作为美国chemplex公司的中国代理商,提供chemplex所有系列用于对应欧盟rohs和weee环保检测仪器——x射线荧光光谱仪(xrf)的检测实验消耗产品!我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器:德国斯派克spectro、英国牛津oxford、日本堀场horiba、飞利浦/帕纳科philips/panalytical、德国布鲁克 bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)thermo,瑞士arl及日本理学rigaku, siemens, spectrace,jordan, kevex, metorex,fisons, asoma,venus 200,valley等生产的x荧光光谱仪(xrf)。(适用x 射线荧光光谱仪品牌型号:所有x射线荧光光谱仪包括:尼通(niton):xlt797z 、xlt794、xlt898 ;伊诺斯(innov-x):alpha6000;牛津(oxford):met-5000;帕纳科(panalytical):minipal4、 minipal2;精工(seiko):sea1000a;斯派克(spectro):xepos、midex m;热电(thermo):arl quant’x;日本电子(jeol)jsx-3400r;horriba等。) 三、spectromembrane® 样品薄膜随着spectromembrane® 样本支撑托架的面世,在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外,薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成,托框能够在组装过程中自动分离,留下绷紧的薄膜样本平面。spectromembrane® 薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在xrf样本杯上时,薄膜物质并不会被直接处理,这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时,薄膜将自动从托架上分离,留下绷紧的无皱样本支撑窗。
  • 薄膜、样品膜、光谱仪膜、麦拉膜416#
    X-RAY样品膜、XRF測試用的Prolene膜、XRF样品膜、ROHS测试膜、迈拉膜--美国Chemplex 416# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:416产品信息:Prolene膜,卷轴,厚度4.0 μm,宽7.6cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 产品详细信息:Pre-Perforated Thin-Film Sampel SupportsPROLENE® FILMCAT. NO:416Gauge:0.00016”,4.0 μm;0.16mil,40,640ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, AlChemplex® INDUSTRIES,INC.ROLL:3” x 300’ (7.6cm x 91.4m); Lot No:082176。 现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。

薄膜样品相关的仪器

  • 苏州锂影科技有限公司 薄膜气氛保护样品台产品信息 薄膜气氛保护台可用于惰性气氛环境中,如手套箱内,将样品台放入气氛保护台,密封后,从手套箱取出,放到X射线衍射仪内进行测试,样品在运输和测试过程中不接触空气,不会受到水和氧气的影响。也可用于需气体氛围的原位X射线衍射测试过程中,得到依赖气体氛围变化随之变化的材料结构方面的信息等。适用于粉末、薄膜、片材等样品,反射模式或透射模式测试均适用。还可用于同步辐射等大科学装置等需要惰性气体保护的转运及测试过程中。薄膜气氛保护样品台置于X射线衍射仪中装有薄膜样品的薄膜气氛保护样品台 使用/未使用薄膜气氛保护样品台测试得到的XRD对比图 苏州锂影科技有限公司 为您提供高端衍射仪个性化定制服务联系电话:
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  • 岛津 UV 薄膜铝样品架 400-860-5168转2002
    岛津 UV 薄膜铝样品架 薄膜铝样品架(P/N 204-58909) 适用范围:所有机型通用 用途:用于夹住薄膜或滤光片等薄状样品进行测定的池架。 测定试样的?最小尺寸:16(W)*30(H)mm 测定试样的?最小尺寸:80(W)*40(H)*20(t)mm 请注意使用UVmini系列,MultiSpec-1500时,需用样品室组件(206-60184) 岛津 UV 薄膜铝样品架滤光片部件号描述适用范围202-30242钕镨混合稀土滤光片所有机型通用202-30242-05钬滤光片所有机型通用
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  • 岛津 UV 薄膜铝样品架 薄膜铝样品架(P/N 204-58909) 适用范围:所有机型通用 用途:用于夹住薄膜或滤光片等薄状样品进行测定的池架。 测定试样的?最小尺寸:16(W)*30(H)mm 测定试样的?最小尺寸:80(W)*40(H)*20(t)mm 请注意使用UVmini系列,MultiSpec-1500时,需用样品室组件(206-60184) 岛津 UV 薄膜铝样品架滤光片部件号描述适用范围202-30242钕镨混合稀土滤光片所有机型通用202-30242-05钬滤光片所有机型通用
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  • 【求助】SEM测试薄膜样品

    我们这边测试薄膜样品时,以前都是用的20KV的电压,可最近发现一些薄膜样品上出现裂痕的现象,是不是电压设置高了还是怎么回事呢?可是以前都是好的啊!请教各位了

  • TEM薄膜对粘样品制备

    从开始学电镜,一直做得是薄膜对粘样品,偶尔做粉末,陶瓷块体的,但是对粘样品到现在也没做出来几个满意的样品,先说下我的过程,对粘后两面磨到30um以下,以前钉薄过,但是总是不小心钉碎,就直接磨薄上PIPS了,PIPS先是4kev 6°打一段时间,后来改成4°,出洞后低能清损伤。我的经验是:(1)薄膜对粘时,涂的G2胶尽量少且均匀,最后电镜下看到中间胶的厚度为500nm左右,否则胶太多,PIPS时胶都把薄膜粘掉了。(2)样品对粘后磨第二面一定要小心,不能出现大的划痕,否则PIPS很容易碎掉。(3)用内孔径小一点的铜环或钼环支撑时不容易磨碎。(4)PIPS时有的样品加液氮会好一些目前想起来也就这些,大家能不能分享下各自的经验啥的,PIPS时用的能量大小,角度大小啥的,这个对粘样品太纠结了,总是出现各种状况,我做的样品,磨得时候还好,PIPS后,要么碎掉一块,就没有薄区,要么洞周围薄区很少,完美的样品没有几块。

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  • 专家报告视频-刘芬(中国科学院化学研究所)-XPS中绝缘样品和薄膜样品分析
    p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 5月8日,由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会及仪器信息网联合举办,为期一天的 a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200509/538052.shtml" target=" _blank" span style=" color: rgb(84, 141, 212) " strong “第四届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”暨“表面化学分析国家标准宣贯会”主题网络会议圆满落 /strong /span /a a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200509/538052.shtml" target=" _blank" strong span style=" color: rgb(84, 141, 212) " 幕! /span /strong /a 会议为广大网友提供了一个免费学术交流平台,进一步拓展表面科学技术的应用领域。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 会议特别邀请到清华大学李景虹院士、中国科学技术大学朱俊发教授、中国科学院兰州化学物理研究所毕迎普研究员、中国计量科学研究院王海副研究员、中国科学院化学研究所刘芬研究员、北京师范大学吴正龙教授级高工等6位表面分析领域大咖及3家仪器厂家进行了报告分享,国家电子能谱中心副主任姚文清老师主持会议。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 会议受到了5000余人次的关注,同时与蔻享学术共享平台合作实时同步转播,参会人数累计超过4000人次。创历届新高! /p p style=" text-align: center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 395px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/f07353a7-beba-4387-b345-d91e56ec1a5e.jpg" title=" 刘芬1-1.jpg" alt=" 刘芬1-1.jpg" width=" 395" height=" 395" / /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " 中国科学院化学研究所 刘芬 副研究员 /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " 报告题目:XPS中绝缘样品和薄膜样品分析 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 报告中,刘芬副研究员凭借她在表面分析领域多年的丰富经验,结合绝缘样品和薄膜样品XPS分析中的特点,对《GB/T 25185-2010表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告》、《GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱薄膜分析结果的报告》和《GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱薄膜分析结果的报告》三项国家标准进行了解读。 /p p style=" text-indent: 2em " 报告视频: /p script src=" https://p.bokecc.com/player?vid=E91C1BAA5EBAC0ED9C33DC5901307461& siteid=D9180EE599D5BD46& autoStart=false& width=600& height=350& playerid=621F7722C6B7BD4E& playertype=1" type=" text/javascript" /script
  • 元素测定、薄膜分析、样品制备,巧用GDS实现多方位分析【GDS微课堂-8】
    运营一个公司需要不同部门的合作,打好一场胜仗,需要不同的兵种配合。在分析仪器世界里,如果将仪器巧妙组合,让它们充分发挥各自特长,也会事半功倍。因为各种仪器的侧重点不同,单一技术只能得到表面某一方面的信息,但不同仪器亲密合作,就可以对样品进行多方位、多角度、多层次的检测,终得到全面准确、甚至超出预期的科研结果。那你知道GDS都有哪些小伙伴吗?他们怎么相互合作呢?今天我们请了三位小伙伴,来认识一下他们吧!01拉曼光谱仪GDS可以获取不同深度处元素的含量分布信息,结合拉曼光谱仪能够进一步得到物质的化学结构信息。接下来,让我们一起看下两者是如何配合的。GDS和小曼今天收到了一份委托,需要测定不同实验条件下产物是什么,以及怎样分布。实验条件如下:采用阳溅射法在含氟乙二醇溶液中制备了具有纳米孔结构的氧化铁薄膜。在不同的温度(350℃、400℃、450℃)下进行退火。GDS和小曼分别对三份实验产物进行了检测,结果如下:GDS我测定了不同深度处实验产物的元素浓度变化,以350℃退火温度下的实验结果为例,可以明显看出:随着溅射时间的增加,不同深度处(X轴)Fe元素的浓度不断变化,其他元素亦是。综合400℃和450℃退火温度下的实验结果,元素浓度(谱峰强度)相近,可见实验产物较为类似。但产物是什么?还需让小曼揭晓。GDS分析图拉曼光谱仪将不同退火温度下强拉曼峰与拉曼谱图库做对比,我发现:350℃退火温度下主要产物是磁铁矿,400℃和450℃退火温度下是赤铁矿,与上图GDS的结果吻合。拉曼光谱图综合上述结果,我们获取了Fe、C等元素随深度改变的浓度变化信息,并在此基础上,进一步测得不同退火温度下产物分别为磁铁矿和赤铁矿。02椭圆偏振光谱仪由上文我们知道GDS能够得到薄膜在不同厚度的元素含量分布,此外,GDS还能从元素深度的变化来获取镀层的结构、均一性、厚度等信息。结合椭偏仪擅长解析薄膜厚度和其光学常数的优势,两者合作就能够准确获得镀层的结构,并对镀层光学特性有更全面的了解。椭圆偏振光谱仪Hi,我是椭小偏,做表面分析的同学应该对我很熟悉吧!我和GDS是老朋友了,我们经常协作完成测试。近我们对薄膜太阳能电池进行了分析,下面一起看下实验结果。GDS先来说说我的发现,下图我们可以看到电池镀层不同深度处各元素的含量变化,并且我发现Mo基底表面还有两层镀层:层主要含Cu、Se、Sn,而第二层含S、Zn,由此我得到了镀层的元素分布信息。椭圆偏振光谱仪我测试的是一款Cu2ZnSnS4太阳能光伏电池。下图张是电池的光学常数折射率n和消光系数k随波长的变化曲线;第二张图是我模拟出的镀层模型,由图可知:底层为Mo基底;中间是Cu2ZnSnS4层,厚度1472nm;上层厚度为227nm且镀层内存在孔隙,从上往下孔隙率从95%下降到6.8%。Cu2ZnSnS4太阳能电池的折射率n和消光系数k随波长的变化各镀层的厚度和表层孔隙率模型综合上面两种太阳能电池的实验结果,可知GDS能够测得镀层元素分布,椭偏仪可测得光学常数和镀层结构,两者合作为我们进一步解析材料提供了更为丰富的信息。03能谱仪(EDS)能谱仪(EDS)主要是利用不同元素X射线光子特征能量不同,来获取材料的元素种类以及含量等信息,如材料表面微区成分的定性和定量分析、固体材料的表面涂层分析等等,常和SEM扫描电镜、GDS等合作,来获取更为全面的镀层信息。EDS能谱仪大家好,我能够分析材料元素组成和含量等信息,但我获取的是镀层表面信息,无法探测较深的镀层,SEM姐姐推荐我来找GDS帮忙。GDS没问题,快将测定样品告诉我,我来帮你把表层剥蚀掉,你再分析~让我们来见证一下当GDS遇到EDS后产生的花火吧:GDS测试结果从上图的GDS结果可以看出,0~5.8μm为纯锌层,5.8~7.8μm为含有锌、铁和铝的合金层。为了方便能谱仪对合金层进行测试,GDS剥蚀掉了表面的纯锌层,露出铁铝合金层,以便EDS进一步剖析该层元素分布,结果图如下:EDS在GDS剥蚀后测试的结果从测试结果可以看出,在合金层中,Al、Fe、Zn元素的浓度比例分别为3.64%、71.32%和25.05%。铁铝合金层电镜图由上述实验结果可知,GDS能够帮助EDS和SEM剥蚀表面,制作可供分析的合格样品,全面立体地展示出样品结构信息和元素分布,并得到元素随深度变化的分布曲线,为进一步解析镀层提供了更为全面的信息。今天的测试结果到这里就结束了,至此我们知道GDS跟拉曼光谱仪、椭圆偏振光谱仪、EDS能谱仪合作,能够对物质进行全面表征,综合获得材料的化学结构、元素分布、光学常数等信息,这也为深入剖析材料提供了可供参考的方式。通过上面的几个例子,大家是不是对GDS与其他分析技术的合作有了更直观的认识呢?如果还有别的联用方式,也欢迎大家跟我们分享~至此,GDS微课堂全部结束啦!在这个系列里,我带大家了解了GDS的基本原理、基本功能、常用概念、应用范围,并详细讲解了GDS在钢铁、锂电池、太阳能电池以及LED行业中的应用,后,还和大家分享了GDS与其它表面分析技术是如何协作的。不知道同学们掌握的如何了?可以点击往期回顾,再复习一遍。不仅限于GDS,之后我们还将带来一系列其他光谱技术,请一直关注我们哟!往期回顾【GDS微课堂-1】随Dr.JY掀起GDS神秘面纱【GDS微课堂-2】七问七答,掌握GDS常用概念
  • “曼”谈光谱 | 熟悉又陌生的金刚石薄膜
    一提到金刚石这个词想必大家都不陌生了,今天要说的也是金刚石家族的一个成员——金刚石薄膜。什么是金刚石薄膜?金刚石薄膜是20世纪80年代中后期迅速发展的一种优良的人工制备材料。通常以甲烷、乙炔等碳氢化合物为原料,用热灯丝裂解、微波等离子体气相淀积、电子束离子束轰击镀膜等技术,在硅、碳化硅、碳化钨、氧化铝、石英、玻璃、钼、钨、钽等各种基板上反应生长而成。几乎透明的金刚石薄膜(图片来源:网络)集诸多优点于一身的金刚石薄膜,它不仅具有金刚石的硬度,还有良好的导热性、良好的从紫外到红外的光学透明性以及高度的化学稳定性。在半导体、光学、航天航空工业和大规模集成电路等领域拥有广泛的应用前景。至今为止,已在硬质切削刀具、X射线窗口材料、贵重软质物质保护涂层等应用中具有出色的表现。随着金刚石薄膜的研发需求和生产规模不断壮大,是否有一套可靠的表征方法呢?当然有!拉曼光谱用于碳材料的分析已有四十多年,时至今日也形成了很多比较完善的理论。对于不同形式的碳材料,如金刚石、石墨、富勒烯等,其拉曼光谱具有明显的特征谱线差异。此外,拉曼光谱测试是非破坏性的,对样品没有太多要求,不需要前处理过程,可以直接检测片状、固体、微粉、薄膜等各种形态的样品。金刚石薄膜的应力值是非常重要的质量指标。金刚石薄膜和基体之间热膨胀的差异以及其他效应(如点阵错配、晶粒边界的成键和薄膜生长过程中的成键变化等)导致了生长后的薄膜存在残余应力。典型可见光激光激发的拉曼光谱在1000-2000cm-1包含了金刚石薄膜的应力信息。对于较小的应力,拉曼谱图表现为偏离本征频率的一个单峰,并且谱峰会变宽。在高达140GPa的压力下,拉曼位移甚至能够偏移到1650cm-1,与此同时线宽增加了2cm-1。下图是安东帕Cora5001拉曼光谱仪检测的一张典型的非有意掺杂的金刚石薄膜的拉曼谱图。图中可以发现,除了位于1332cm-1的一阶拉曼谱线以外,也能够观测到其他很多拉曼谱峰,典型谱峰的位置和指认如表1中所示。Cora 5001系列拉曼光谱仪在金刚石材料的检测中具备很大优势:碳材料分析模式:智能分析软件中的Carbon Analysis Model可以自动进行寻峰、进行峰形拟合,再计算碳材料特征拉曼峰的信息。一级激光:金刚石材料的拉曼检测多使用532nm激发,有时也需要使用785nm激光激发,Cora5001可以做到一级激光的安全性能。自动聚焦:Cora5001 (Direct)样品仓室内配置了自动聚焦调整样品台,根据仪器自带的聚焦算法可以轻松实现聚焦,使拉曼测试变得简单便捷。双波长可选:金刚石家族的拉曼光谱与入射激光波长密切相关,多一种波长选择也许会得到不同的信息,这为信息互补提供必要条件。“双波长拉曼”每个波长都配置独立的光谱系统,只需按一下按键即可从一个波长轻松切换到另一个波长,无需额外调整样品。
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