薄膜激光导热测量仪

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薄膜激光导热测量仪相关的厂商

  • 上海初炙仪器设备有限公司 银牌1年
    400-860-5168转5963
    主营产品：
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司
    东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售，技术培训，信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务，自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来，公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师，能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下：1.日本东京光电子（TOE）激光镭射测径仪。2.日本尼康（Nikon）工业测量仪器：投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计，3.日本三丰(Mitutoyo)系列：三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列：表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密（ACCRETECH）表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠（Rational）万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业，我们不但為客户提供优质的仪器设备，还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 烟台日特测量仪器有限公司广州分公司
    公司经销美国、德国、日本等国的进口仪器仪表，并全权代理日本测器株式会社在中国境内的产品制造、销售、修理、校正业务。　　烟台日特测量仪器有限公司注册于2005年11月，母公司日本测器株式会社有着6000多家仪器、仪表等设备厂家商品的经销业绩,并和美国、德国、日本等国的1200多家仪器、仪表厂家签订有1级代理合同。在日本19个城市设立有分支机构。 公司经营产品简介：1.工业仪器（压力、温度、流量、液位等） 2.电气、电子测量仪器（示波器、光谱分析、万能表、电磁波、超声波等） 3.分析、环境、检查、校正仪器（PH计、水质、大气分析、粘度、硬度、导电率、厚度、浓度、粘度等）4.系统仪器（无损探伤设备,信息管理、温湿度、激光加工、电力监控系统等）5.海洋、气象、阀门等其它产品（水文观测、气象观测、电磁防爆阀门、船舶仪表等）6.成套设备(纯净水处理成套设备、污水处理成套设备、列车检测设备、海水淡化设备、无损探伤设备)主要代理厂家：长野计器(NAGANO)、千野(CHINO)、德图(TESTO)、KAWAKI、山本电机(MANOSTAR)、金子产业、爱模系统、工装(Denso)、 E＋H 、日东精工、流体工业、东京流机、日置电机(HIOKI)、昭和机器计装、大阪FLOWMETER、佐藤计量器制作所、鹤贺电机、爱德万(advantest)、宇津木计器、鹤见精机、小野测器、能研、爱知时钟、新日电热工业、理化工业、武藏野机器、菊水电子、关西煤气meter、岛津制作所、管原研究所、兵田计器、A&D、日本电热计器、楠木化成、东和制电工业、金门制作所、NESSTECH、松岛机械研究所、仓本计器精工所、江州计器工业、昭和测器、理研电子、福禄克FLUKE、春日电机、高砂制作所、三和电气计器、安立计器、江藤电气、岩崎通信机、朝日计器、共立电气、冈野制作所、协立电子、TAZMO、东洋计器、横河M&C、东亚DKK、北川铁工所、能美防灾株式会社、山本光学、初田制作所、巴阀门(valve)、一濑、多摩川精机、涩川桑野、竹田特殊电线制作所等千余家公司产品。
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薄膜激光导热测量仪相关的仪器

  • 界面材料热阻及热传导系数测试 400-860-5168转5963
    热阻分析仪主要借助上下棒温度差计算得到通过的热流，再结合面积大小得到最终的接触热阻和热传导率等一系列参数。高端TIMA 5 热界面材料分析仪遵循ASTM D5470标准，具有集成化程度高、全自动分析测量、样品头切换简单、高精度厚度/温度/力值监控等特点，基于人体工学设计、用户体验好。可最终得到热阻抗、表观热导率和热界面阻抗等数据；除此之外，还可进行样品老化行为测试、生命周期评估、热机械稳定性、固化参数研究、界面状态研究、原位可靠性分析、极端条件下的测试等。样品种类包括液体化合物，如油脂、糊状物、相变材料；凝胶、软橡胶和硬橡胶和陶瓷、金属、塑料、复合物、胶粘剂固化、油脂和膏状样品、固化填充物和胶粘剂、各向异性复合物等。 技术参数：温度范围：RT-150°C(可提供更宽范围)力值范围：±300N(可提供更宽范围)温度准确度：±0.05K…欢迎联系我司，索要样本。
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    厂商： 上海初炙仪器设备有限公司
    品牌： Nanotest
    型号： TIMA
    价格： 面议
  • 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 400-601-1369
    耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 应用领域：可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 产品特点：- 精确的微米级薄膜导热测量方法- 可提供RF测量模式（后加热-前检测）和FF测量模式（前加热-前检测）- Nano TR遵循国际校准标准 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 技术参数：Nano TR温度范围RT，RT … 300°C（选配）测量模式RF/FF样品尺寸10×10 … 20×20mm薄膜厚度30nm … 20μm（取决于样品种类和测量模式）热扩散系数0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 1ns光束直径 100μm激光功率 100mW详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。
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    厂商： 德国耐驰热分析
    品牌： 耐驰/Netzsch
    型号： NanoTR
    价格： 面议
  • 林赛斯 薄膜激光导热测量仪 400-801-5339
    材料的热物理性质以及最终产品的传热优化在工业应用领域变得越来越重要。经过几十年的发展，闪射法已经成为常用的用于各种固体、粉末和液体热导率、热扩散系数的测量方法。薄膜热物性在工业产品中正变得越来越重要，如：相变光盘介质、热电材料、发光二极管（LED ） ，相变存储器、平板显示器以及各种半导体。在这些工业领域中，特定功能沉积膜生长在基底上以实现器件的特殊功能。由于薄膜的物理性质与块体材料不同，在许多应用中需要专门测定薄膜的参数。基于已实现的激光闪射技术，LINSEIS TF-LFA 薄膜导热测试仪(Laserflash for thin films)可以测量80nm——20μm厚度薄膜的热物理性质。 1.瞬态热反射法（后加热前检测（RF））:由于薄膜材料的物理性质与基体材料显著不同，必需要有相应的技术来克服传统激光闪射法的不足，即瞬态热闪射法。测量模型与传统激光闪射法相同：检测器和激光器在样品两侧。考虑到红外探测器测试薄膜太慢，因此检测是通过热反射方法完成的。该技术的原理是材料在加热时，表面反射率的变化可最终用于推导出热性能。测量反射率随时间的变化，得到的数据代入包含的系数模型里面并快速计算出热性能。2. 时域热反射法（前加热前检测（FF））:时域热反射技术是另一种测试薄层或薄膜热性能（热导率，热扩散率）的方法。测量方式的几何构造被称为“前加热前检测（FF）”，因为检测器和激光在样品上的同一侧。该方法可以应用于非透明基板上不适合使用RF技术的薄膜层。 3. 瞬态热反射法（RF）和时域热反射法（FF）相结合:两种方法可以集成在一个系统中并实现两者优点的结合。温度范围*RT RT -- 500°C-100°C -- 500°C 激光器 Nd:YAG 激光脉冲电流≤90mJ (软件控制)脉宽8 ns激光探头HeNe-激光器 (632nm), 2mW前端热反射 Si-PIN-Photodiode, 有效直径: 0.8 mm, 直流电压 … 400MHz, 响应时间: 1ns后端热反射quadrant diode, 有效直径: 1.1 mm直流电压 … 100MHz, 响应时间: 3.5ns测量范围0,01 mm2/s -- 1000 mm2/s样品直径圆形样品 φ10...20 mm 样品厚度80 nm -- 20 μm样品数量6样品自动进样器气氛惰性、氧化性、还原性真空度10E-4mbar电路板集成式接口USB *可更换炉体*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。
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    厂商： 德国林赛斯热分析
    品牌： 林赛斯/LINSEIS
    型号： TF-LFA
    价格： 150万 - 200万元
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薄膜激光导热测量仪相关的资讯

  • 操作薄膜厚度测量仪时，有哪些步骤是容易被忽视的
    在精密制造与材料科学的广阔领域中，薄膜厚度测量仪作为一种关键的检测工具，其准确性与操作规范性直接影响到产品质量与科研结果的可靠性。然而，在实际操作过程中，一些看似微不足道的步骤往往容易被忽视，这些被忽视的细节正是影响测量精度与效率的关键因素。本文将从几个关键方面出发，探讨操作薄膜厚度测量仪时容易被忽视的步骤。一、前期准备：环境检查与设备校准的疏忽1.1 环境条件未充分评估在进行薄膜厚度测量之前，对测量环境的温湿度、振动源及电磁干扰等因素的评估往往被轻视。这些环境因素的变化可能直接导致测量结果的偏差。因此，应确保测量环境符合仪器说明书的要求，如温度控制在一定范围内，避免强磁场干扰等。1.2 设备校准的忽视校准是确保测量准确性的基础。但很多时候，操作者可能因为时间紧迫或认为仪器“看起来很准”而跳过校准步骤。实际上，即使是最精密的仪器，在使用一段时间后也会因磨损、老化等原因产生偏差。因此，定期按照厂家提供的校准程序进行校准，是保障测量精度的必要环节。二、操作过程中的细节遗漏2.1 样品处理不当薄膜样品的表面状态（如清洁度、平整度）对测量结果有直接影响。若样品表面存在油污、灰尘或凹凸不平，会导致测量探头与样品接触不良，从而影响测量精度。因此，在测量前应对样品进行彻底清洁和平整处理。2.2 测量位置的随机性为确保测量结果的代表性，应在薄膜的不同位置进行多次测量并取平均值。然而，实际操作中，操作者可能仅选择一两个看似“典型”的位置进行测量，这样的做法无疑增加了结果的偶然误差。正确的做法是在薄膜上均匀分布多个测量点，并进行统计分析。2.3 参数设置不合理薄膜厚度测量仪通常具有多种测量模式和参数设置选项，如测量速度、测量范围、灵敏度等。这些参数的设置应根据薄膜的材质、厚度及测量要求进行调整。若参数设置不当，不仅会影响测量精度，还可能损坏仪器或样品。因此，在测量前，应仔细阅读仪器说明书，合理设置各项参数。三、后期处理与数据分析的疏忽3.1 数据记录的不完整在测量过程中，详细记录每一次测量的数据、环境条件及仪器状态是至关重要的。但实际操作中，操作者可能因疏忽而遗漏某些关键信息，导致后续数据分析时无法追溯或验证。因此，应建立规范的数据记录制度，确保信息的完整性和可追溯性。3.2 数据分析的片面性数据分析不仅仅是计算平均值或标准差那么简单。它还需要结合测量目的、样品特性及实验条件等多方面因素进行综合考量。然而，在实际操作中，操作者可能仅关注测量结果是否达标，而忽视了数据背后的深层含义和潜在规律。因此，在数据分析阶段，应采用多种方法（如统计分析、图形表示等）对数据进行全面剖析，以揭示其内在规律和趋势。结语操作薄膜厚度测量仪时，每一个步骤都至关重要，任何细节的忽视都可能对测量结果产生不可忽视的影响。因此，操作者应时刻保持严谨的态度和细致的观察力，严格按照操作规程进行操作，确保测量结果的准确性和可靠性。同时，随着科技的进步和测量技术的不断发展，我们也应不断学习新知识、掌握新技能，以更好地应对日益复杂的测量任务和挑战。
    时间： 2024-09-06
    作者： 泉科瑞达仪器
  • 全自动薄膜孔径及渗透率测量仪新品发布暨技术讲座将于2010年12月14日在京举行
    2010年9月，美国康塔仪器公司隆重推出最新的薄膜孔径分析仪器， Porometer 3G。该仪器是一款独特的全自动多功能分析仪，该仪器的测试原理为毛细管渗透法，利用可浸润液体测定薄膜孔径及渗透率。该方法没有污染，无需实验室改造，更安全更便捷。同时该方法也是ASTM薄膜测定的标准方法 。为了使广大用户更多地了解美国康塔仪器公司最前沿的测量技术, 我公司将于2010年12月14日9:30时在北京理化分析测试中心（北京市西三环北路27号），举办全自动薄膜孔径及渗透率测量仪新品发布暨技术讲座，届时将由我公司总部的专家Mr. Jeff. Dixon详细介绍该仪器原理及应用并解答有关问题。欢迎您的光临！
    时间： 2010-12-02
    作者： 安东帕
  • 莱赛激光拟挂牌新三板 主营激光测量仪器
    1月3日消息，莱赛激光科技股份有限公司(以下简称：莱赛激光)已于近日正式申请新三板挂牌，全国股转系统披露的挂牌资料显示，莱赛激光董事长陆建红、副董事长张敏俐2人，通过直接和间接合计占股72%，为莱赛激光共同实际控制人。　　公告显示，莱赛激光2014年度、2015年度、2016年1-9月营业收入分别为1.11亿元、9961.31万元、8212.80万元 净利润分别为546.37万元、678.32万元、791.14万元。　　资料显示，莱赛激光主要业务为激光测量仪器设备的研发、生产和销售，主要为客户提供激光测量的整体解决方案。
    时间： 2017-01-03
    作者： 阳离子
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  • 德国PRIMES PocketMonitor PMT 70iag七千瓦银锥激光光束功率测量仪表

    德国PRIMES PocketMonitor PMT 70iag是一款专为高功率激光应用设计的七千瓦级银锥激光光束功率测量仪表，其卓越的测量性能、便携性以及广泛的应用领域，使得它在激光加工、科研实验及工业制造等多个领域发挥着重要作用。以下是对该产品的详细介绍： 一、产品概述 型号与定位：PMT 70iag作为PRIMES PocketMonitor系列的一员，以其七千瓦的测量范围和银锥吸收体的独特设计，成为高功率激光光束功率测量的理想选择。它不仅能够覆盖从350W到7kW的广泛功率范围，还支持高达5 kW/cm2的功率密度检测，满足了对高精度、高稳定性测量的需求。 设计理念：该仪表采用便携式设计，结合坚固耐用的材料和精密的工艺制造，旨在为用户提供一款既方便携带又能在恶劣环境下稳定工作的激光功率测量工具。银锥吸收体的应用更是提升了测量的准确性和可靠性。 二、主要特点 高精度测量：PMT 70iag采用先进的测量技术和算法，能够实现高精度的激光功率测量。其测量精度达到行业领先水平，确保用户能够获取到准确可靠的测量数据。 宽功率范围覆盖：从低功率的350W到高功率的7kW，PMT 70iag均能提供稳定的测量性能。这一特点使得该仪表能够满足不同应用场景下的测量需求，从微加工到重工业加工领域均有广泛应用。 高功率密度支持：支持高达5 kW/cm2的功率密度检测，使得PMT 70iag在处理高功率密度的激光光束时同样表现出色。这一特性对于需要精确控制激光能量分布的应用场景尤为重要。 便携式设计：机身紧凑且轻便，易于携带和移动。无论是在实验室、生产线还是现场，用户都能轻松地进行快速测量，提高工作效率。 坚固耐用：采用高质量的材料和精密工艺制造，具有优异的抗压、抗摔性能。即使在恶劣环境下也能保持稳定运行，延长使用寿命。 三、应用领域 PMT 70iag广泛应用于激光加工、科研实验及工业制造等领域。在激光切割、焊接、打标、钻孔等加工过程中，该仪表可用于实时监测激光器的输出功率，确保加工过程的稳定性和产品质量。同时，在科研实验和工业制造领域，PMT 70iag也为研究人员和工程师提供了可靠的测量工具，帮助他们深入了解激光光束的特性并进行精确的工艺调整。 四、使用与维护 使用注意事项：在使用PMT 70iag进行测量时，应确保激光束不会直接照射到眼睛或皮肤，以免造成伤害。同时，测量前应对仪表进行预热和校准，以确保测量结果的准确性。在使用过程中，应避免仪表受到强烈的震动和冲击，以免影响其测量精度和使用寿命。 定期维护：定期对仪表进行清洁和维护是保持其性能稳定的关键。用户应定期清洁镜头、检查连接线和电池等部件，确保仪表能够正常工作。此外，建议用户按照产品说明书中的指导进行定期校准和维护工作。 综上所述，德国PRIMES PocketMonitor PMT 70iag七千瓦银锥激光光束功率测量仪表是一款功能强大、便携耐用的高精度测量工具。它的出现为激光加工、科研实验及工业制造等领域提供了更加准确可靠的测量解决方案。

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薄膜激光导热测量仪相关的耗材

  • 薄膜溶解测量仪配件
    薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
  • 显微薄膜测量仪配件
    显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
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