高分辨率激光干涉仪

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高分辨率激光干涉仪相关的厂商

  • 长春海洋光电有限公司坐落在光电技术发达的长春市,公司地理位置优越比邻长春光机所,是一个新型的集研发,生产,销售为一体的高科技光电技术企业。海洋光电公司员工和团队以光电技术学,光学,化学,计算机软件学等专业多学科的老中青三代科技人员为主体,包括博士生导师、教授和科研人才,多名高级工程技术人员。  海洋光电拥有自主创新,自主研发的激光器、激光功率计、光源、太阳模拟器、光学晶体、高分辨率红外激光卡、高精密滤光片、高密度激光护目镜及可定制尺寸光学积分球等产品,为光电科学工作者提供一个较好的产品平台。为了国家光电技术的发展,为了中华民族的光学前景,海洋光电公司员工义不容辞地承担起光电革命的责任,在当代光电技术学艰难攀登,在光电技术全球化激烈竞争中,艰苦奋斗,奋发图强。海洋光电公司员工要以创新性的先进实用技术、优质产品、以自己的学识服务于我国光电技术学,服务于我工作在光电技术行业的众多辛劳的科研工作者,同时更要成为我国高技术光电产业的坚固基石和砥柱。
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  • 青岛航天海鹰环境科技有限责任公司以卓越的技术为先导,提供完善的运营服务,搭建良好的共赢平台。公司依托北京华航无线电测量研究所,树立“军民融合、创新驱动、人才强企、质量制胜”的发展理念,继续发扬航天三大精神和“团结奋进、负重拼搏、科学求实、敢为一流”的飞航精神,积极探索专业化、规模化的发展之路,实现军民融合发展。 公司为一家从事激光遥感传感器研发、生产和销售的高科技企业,业务领域涉及气象、大气环境、海洋环境激光传感器技术。发展城市和海上高分辨率的风、温、能见 度监测和应用技术。特别是为风力发电、海上工程、港口航运特色气象服务和高精度临近预报提供新一代传感器和技术服务手段。监测和分析温室气体、低空气溶 胶、可吸入颗粒物、污染物分布和传输规律,为工业环境监测、城市环境保护和发展规划提供新型传感器和技术服务。海洋环境激光探测技术为近海海域污染、地质 勘测、海水水质监测提供服务。水下生态环境激光原位探测技术,为海洋环境监测和工厂排污执法提供新的仪器设备和技术服务。企业产品以气象及环境监测雷达为 主,发展涵盖城市精细气象、环境监测、航天遥感等多领域、多平台应用。
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高分辨率激光干涉仪相关的仪器

  • 高分辨率激光干涉仪 400-860-5168转2831
    高分辨率激光干涉仪所属类别: ? 光学/激光测量设备 ? 波前分析仪 所属品牌:法国Phasics公司 产品简介高分辨率激光干涉仪便携式、高分辨率、高动态范围激光干涉仪! 法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪(High-resolution Interferometer)是一款便携式、高灵敏度、高精度的波前分析仪。法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪基于波前分析的四波剪切干涉技术,与传统干涉仪相比较具有结构紧凑,使用方便,无需标准件,优秀的检测稳定性,直接测量任意的波前、高分辨率(300x400采样点),3D显示等优点。 关键词:干涉仪、激光干涉仪、球面干涉仪、激光平面干涉仪、干涉光刻、传函仪、白光干涉仪、Zygo、波前分析仪、波前传感器、迈克尔逊干涉仪、便携式干涉仪、光学传函仪法国Phasics公司超分辨激光干涉仪基于便携式、高灵敏度、高精度波前分析仪。该激光干涉仪采用四波剪切干涉专利技术,与传统干涉仪相比较具有结构紧凑,使用方便,无需标准件,优秀的检测稳定性,直接测量任意的波前、高分辨率(300x400采样点)、激光波长覆盖400-1100nm、消色差、高动态范围(500um)等优点。 法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪可用于激光波前检测、激光强度检测、等离子体密度检测、透镜检测、高功率激光自适应、光刻机检测、精密光学元器件检测、光学系统装调、镜头模组检测、传递函数(MTF)检测等。法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪并可实时检测为客户提供最优化的数据支持。 产品特点:1、直接测量、无需标准件 图一、检测光路 2、高灵敏度(是普通白光干涉仪的8.4倍)、对振动不敏感 图二 与传统的干涉仪检测结果对比3、三维立体显示 图三、波前三维检测视图4、实时显示泽尼克系数 图四、多阶泽尼克显示界面5、传递函数(MTF)检测 图五、传递函数检测界面 干涉仪应用领域: ? 激光光束性能、波前畸变、M^2、强度等的检测 ? 红外透镜检测? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 光刻机物镜检测? 大口径高精度光学元器件检测? 透镜、镜头模组检测? 传递函数测量? 等离子体密度检测? 高功率激光自适应 产品系列: 相关产品 超高速液晶空间光调制器 PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器
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  • 中图仪器SuperViewW高分辨率3d白光干涉仪能够以优于纳米级的分辨率,测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。SuperViewW高分辨率3d白光干涉仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。中图高分辨率3d白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:在3C领域,可以测量蓝宝石屏、滤光片、表壳等表面粗糙度;在LED行业,可以测量蓝宝石、碳化硅衬底表面粗糙度;在光纤通信行业,可以测量光纤端面缺陷和粗糙度;在集成电路行业,可以测量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度;在EMES行业,可以测量台阶高度和表面粗糙度;在军事领域,可以测量蓝宝石观察窗口表面粗糙度。性能特色1、高精度、高重复性1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;2)隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性;2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰,在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,最大限度的保护仪器,降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 高分辨率近红外光纤光谱仪产品特点* 波长范围:900-2600 nm(11000–3800cm-1)* 高分辨率 4cm-1(0.6nm @1.0μm,0.95nm @1.55μm 1.6nm @2.0μm)* 高信噪比:30' 000:1(@8cm-1分辨率, 1 min积分时间)* 内置二级TE制冷探测器,高灵敏度* 光纤输入,灵活易用典型应用* 激光光谱测量* 近红外光谱分析* 材料检测* 矿物,宝石鉴定* 材料表征 型号FTNIR-L1-026-0TE FTNIR-L1-025-2TE 探测器扩展型非制冷 InGaAs 扩展型2级TE制冷 InGaAs 光谱范围0.9?2.6μm (11000?3850cm-1) 0.9?2.5μm (11000?4000cm-1) 干涉仪类型免校准的双Retro反射镜内置参考激光器全固态795nm激光器分辨率4 cm-1测量时间(Min)1 sec信噪比 (SNR) 30’000:1波数重复性20 PPM光纤输入接口SMA 905接头, 芯径可达1mm, NA=0.25通信接口USB 2.0供电7.5-12V (1-6W)软件Windows 7/10 software工作温度/湿度5 to 35℃ / non condensing储藏温度-10 to 60oC尺寸180 x 126 x 78 mm3重量1.7 KG 扫描微信,快速咨询
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高分辨率激光干涉仪相关的资讯

  • 阿拉巴马大学研究人员设计出一种混合超高分辨率干涉仪
    近日,阿拉巴马大学亨茨维尔分校 (UAH) 的研究人员设计了一种超高分辨率干涉仪,它基于混合设计,结合了双路径配置和光学谐振器两者的优点,灵敏度非常高,可以检测到其他传感器无法检测的微弱声学信号。 该项目的主要研究者Nabil Md Rakinul Hoque将基于光学谐振器的法布里-珀罗干涉仪嵌入道双路径马赫-曾德尔干涉仪之中,并把该设备称之为马赫曾德尔-法布里珀罗(MZ-FP)干涉仪。 类似于法布里-珀罗之类的基于光学谐振器的干涉仪,它们可以使特定的谐振频率通过干涉仪或从干涉仪反射。尽管其尺寸非常紧凑,但由于反射镜的高反射率,它们的光路长度非常长,从而在光流之间建立了可测量的干涉模式。 第二种干涉仪基于公共路径或双路径结构,它的灵敏度取决于其干涉臂的长度,最长可达数十甚至数百米,导致干涉仪体积较为笨重。马赫-曾德尔干涉仪和迈克耳逊干涉仪就是典型的传统双路径干涉仪。 MZ-FP 干涉仪的混合方案使得研究人员能够将传统的双路径配置与光纤谐振器相结合。Hoque 和他的同事研发了一种紧凑型干涉式光纤传感器,可在热噪声水平下工作,同时使用现成的商用二极管激光器进行检测。图1 Nabil Md Rakinul Hoque 的新型干涉仪结合了马赫-曾德尔干涉仪和迈克耳逊干涉仪的优点。该设备结构紧凑,灵敏度高,可在各种生物医学和物理领域中使用。 Hoque 表示,新型干涉仪的主要优点是其前所未有的高信号分辨率。 团队使用相同的光纤法布里-珀罗干涉仪作为光路倍增器,使 MZ-FP 干涉仪能够在一系列频率范围内达到破纪录的应变分辨率。在测试中,MZ-FP 干涉仪实现了1飞秒应变的分辨率,探测精度达到微米级。 据该团队称,如果适当放大干涉仪,MZ-FP的应变分辨率可以扩展到超声波范围。阿拉巴马大学的教授Lingze Duan表示,他们的传感器分辨率在次声波到超声波的频率范围内创造了最高记录。设备检测超弱信号的能力在将来有望应用于预测环境事件、武器检测、控制气候变化研究等领域。 此外,基于 MZ-FP 干涉仪的光学传感器可用于辅助声学医学诊断。“比如,基于我们的混合干涉仪的声学传感器能够检测非常微弱的生理声学信号,从而反映人体健康状况,然而目前的传感器是无法检测到这些信号的”,Hoque 讲到。 “在我看来,这项研究最重要的影响是它为无源光纤传感器达到前所未有的应变分辨率水平找到了一条可行的道路,”Lingze Duan说。“如此高的传感分辨率使得光纤传感器可以接收比现在更弱的信号,大大拓宽了应用范围。” 该研究发表在Scientific Reports(www.doi.org/10.1038/s41598-022-16474-y)。
  • 皮米精度激光干涉仪如何在众多前沿领域中大显神通?
    1.IDS3010激光干涉仪在自动驾驶高分辨调频连续波(FMCW)雷达中的应用自动驾驶是目前汽车工业为前沿和火热的研究,其中可靠和高分辨率的距离测量雷达的开发是尤为重要的。德国弗劳恩霍夫高频物理和雷达技术研究所(Wachtberg,D)Nils Pohl教授和波鸿鲁尔大学(Bochum,D)的研究小组提出了一种全集成硅锗基调频连续波雷达传感器(FMCW),工作频率为224 GHz,调谐频率为52 GHz。通过使用德国attocube公司的皮米精度激光干涉仪FPS1010(新版本为IDS3010),该雷达测量系统在-3.9 um至+2.8 um之间实现了-0.5-0.4 um的超高精度。这种新型的高精度雷达传感器将会应用于许多全新的汽车自动驾驶领域。更多信息请了解:S. Thomas, et al IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 67, 11, (2019)图1.1 紧凑型FMCW传感器的照片图1.2 雷达测距示意图,左边为雷达,右边为移目标,attocube激光干涉仪用来标定测量结果 2. IDS3010激光干涉仪在半导体晶圆加工无轴承转台形变测量上的应用半导体光刻系统中的晶圆轻量化移动结构的变形阻碍了高通吐量的半导体制造过程。为了补偿这些变形,需要的测量由光压产生的形变。来自理工大学荷兰Eindhoven University of Technology 的科学家设计了一种基于德国attocube干涉仪IDS3010的测量结构,以此来详细地研究由光压导致的形变特性。图2.1所示为测量装置示意图,测量装置是由5 x 5 共计25个M12/F40激光探头组成的网格,用于监测纳米的无轴承平面电机内部的移动器变形。实验目的是通过对无轴承平面的力分布进行适当的补偿,从而有效控制转台的变形。实验测得大形变量为544 nm,小形变量为110 nm(如图2.2所示)。更多信息请了解:Measuring the Deformation of a Magnetically Levitated Plate displacement sensor图2.1 左侧为5X5排列探头测量装置示意图,右图为实物图图2.2 无轴承磁悬浮机台形变量的测量结果,大形变量为544 nm 3.IDS3010在提高X射线成像分辨率中的应用在硬X射线成像中,每个探针平均扫描时间的减少对于由束流造成的损伤是至关重要的。同时,系统的振动或漂移会严重影响系统的实时分辨率。而在结晶学等光学实验中,扫描时间主要取决于装置的稳定性。attocube公司的皮米精度干涉仪FPS3010(升后的型号为IDS3010),被用于测量及优化由多层波带片(MZP)和基于MZP的压电样品扫描仪组成的实验装置的稳定性。实验是在德国DESY Photon Science中心佩特拉III期同步加速器的P10光束线站上进行的。attocube公司的激光干涉仪PFS3010用来检测样品校准电机引起的振动和冲击产生的串扰。基于这些测量,装置的成像分辨率被提高到了±10 nm。更多信息请了解:Markus Osterhoff, et at. Proceedings Volume 10389, X-Ray Nanoimaging: Instruments and Methods III 103890T (2017)图3.1 实验得到的系统分辨率结果 4.IDS3010激光干涉仪在微小振动分析中的应用电荷化理论能够描述中性玻色子系统的布洛赫能带,它预言二维量子化的四缘体具有带隙、拓扑的一维边缘模式。全球研究机构苏黎世邦理工大学的Sebastian Huber教授课题组巧妙地利用一种机械超材料结构来模拟二维的拓扑缘体,次在实验上观测到了声子四拓扑缘体。这一具有重要意义的结果时间被刊登在Nature上(doi:10.1038/nature25156)。研究人员通过测试一种机械超材料的体、边缘和拐角的物理属性,发现了理论预言的带隙边缘和隙内拐角态。这为实验实现高维度的拓扑超材料奠定了重要基石。德国attocube公司的激光干涉仪IDS3010被用于超声-空气转换器激励后的机械超材料振动分析。IDS3010能到探测到机械超材料不同位置的微小振动,以识别共振频率。终实现了11.2 pm的系统误差,为声子四拓扑缘体的实验分析提供了有力的支持。更多信息请了解:Marc Serra-Garcia, et al. Nature volume 555, pages 342–345 (2018)图4.1 实验中对对机械超材料微小振动的频率分析5. IDS3010激光干涉仪在快速机床校准中的应用德国亚琛工业大学(Rwth Aachen University,被誉为“欧洲的麻省理工”)机床与生产工程实验室(WZL)生产计量与质量管理主任的研究人员利用IDS3010让机床自动校准成为可能,这又将大的提高机床的加工精度和加工效率。研究人员通过将IDS3010皮米精度激光干涉仪和其他传感器集成到机床中,实现对机床的自动在线测量。这使得耗时且需要中断生产过程的安装和卸载校准设备变得多余。研究人员建立了一个单轴装置的原型,利用IDS3010进行位置跟踪。其他传感器如CMOS相机被用来检测俯仰和偏摆。校准结果与常规校准系统的结果进行了比较,六个运动误差(位置、俯仰、偏摆、Y-直线度、Z-直线度)对这两个系统显示出良好的一致性。值得指出的是,使用IDS3010的总时间和成本显著降低。该装置演示了自动校准机床的个原型,而且自动程序减少了机器停机时间,从而在保持相同的精度水平下大的提高了生产率。更多信息请了解:Benjamin Montavon et al J. Manuf. Mater. Process. 2(1), 14 (2018)图5.1 自动校准激光探头安装示意图6.IDS3010激光干涉仪在工业C-T断层扫描设备中的应用工业C-T断层扫描被广泛用于材料测试和工件尺寸表征。几何测量系统是设计的锥束C-T系统的一大挑战。近期,瑞士联邦计量院(METAS)的科学家采用德国attocube公司的IDS3010皮米精度激光干涉仪用于X射线源、样品和探测器之间的精密位移跟踪。该实验共有八个轴用于位移跟踪。除了测量位移之外,该实验装置还能够进行样品台的角度误差分析。终实现非线性度小于0.1 um,锥束稳定性在一小时内优于10 ppb的高精度工业C-T。更多信息请了解:Benjamin A. Bircher, Felix Meli, Alain Küng, Rudolf Thalmann: "A geometry measurement system for a dimensional cone beam CT", 8th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2018), At Wels, AU6.1激光干涉仪在系统中的测量定位示意图7.IDS3010激光干涉仪在增材制造3D打印中的应用微尺度选择性激光烧结(u-SLS)是制造集成电路封装构件(如微控制器)的一种创新方法。在大多数的增材制造中需要微米量的精度控制,然而集成电路封装的生产尺寸只有几微米,并且需要比传统的增材制造方法有更小的公差。德克萨斯大学和NXP半导体公司开发了一种基于u-SLS技术的新型3D打印机,用于制造集成电路封装。该系统包括用于在烧结站和槽模涂布台之间传送工件的空气轴承线性导轨。为满足导轨对定位精度高的要求,该系统采用德国attocube公司的皮米精度干涉仪IDS3010来进行位置的跟踪。更多信息请了解:Nilabh K. Roy, Chee S. Foong, Michael A. Cullinan: "Design of a Micro-scale Selective Laser Sintering System", 27th Annual International Solid Freeform Fabrication Symposium, At Austin, Texas, USA 7.1系统示意图,其中激光干涉仪被用作位移的测量和反馈8. IDS3010激光干涉仪在扫描荧光X射线显微镜中的应用在搭建具有纳米分辨率的X射线显微镜时,对系统稳定性提出了更高的要求。在整个实验过程中,必须确保各个组件以及组件之间的热稳定性和机械稳定性。德国attocube的IDS3010激光干涉仪具有优异的稳定性和测量亚纳米位移的能力,在40小时内表现出优于1.25 nm的稳定性,并且在100赫兹带宽的受控环境中具有优于300 pm的分辨率。因此,IDS3010是对上述X射线显微镜装置的所有部件进行机械控制的不二选择,使得整个X射线显微镜实现了40 nm的分辨率,而在数据收集所需的整个时间内系统稳定性优于45 nm。更多信息请了解:Characterizing a scanning fluorescence X ray microscope made with the displacement sensor 8.1荧光X射线显微镜的高分辨成像结果
  • 高分辨率激光外差光谱技术研究取得进展
    近期,中国科学院合肥物质科学研究院安徽光学精密机械研究所副研究员许振宇团队在激光外差光谱技术研究中获进展。相关研究成果发表在《光学通信》(Optics Letters)上。激光外差光谱仪因具有高光谱分辨率、体积小、易集成等优点,已经逐渐发展成为与地基傅里叶变换光谱仪互补的温室气体柱浓度与廓线测量工具。激光外差光谱技术因受限于光学天线理论,无法通过增加光学接收口径的方法提高外差信号信噪比,这导致高分辨率激光外差探测中气体廓线测量精度受限。对此,研究人员提出基于半导体光放大技术的微弱太阳光放大方法,解决了高分辨率激光外差探测中光学天线理论限制的外差信号信噪比提高问题。研究结果表明,相比于传统的高分辨率激光外差光谱仪,所研发的基于半导体光放大的高分辨率激光外差光谱仪的弱光信号探测和气体浓度测量精度得到大幅提升。该研究有助于提高高分辨率激光外差光谱仪的性能,在大气温室气体传感等方面具有巨大应用潜力。相关研究工作获得国家自然科学基金、国家重点研发计划等项目的资助。基于半导体光放大技术的激光外差光谱仪实验装置示意图信号对比测量结果

高分辨率激光干涉仪相关的方案

  • IDS3010激光干涉仪在自动驾驶高分辨调频连续波(FMCW)雷达上的应用
    自动驾驶是目前汽车工业为前沿和火热的研究,而自动驾驶尤为重要的是需要可靠和高分辨率的距离测量雷达。德国弗劳恩霍夫高频物理和雷达技术研究所(Wachtberg,D)Nils Pohl教授和波鸿鲁尔大学(Bochum,D)的研究小组提出了一种全集成硅锗基调频连续波雷达传感器(FMCW),工作频率为224 GHz,调谐频率为52 GHz。通过使用德国attocube公司的皮米精度激光干涉仪FPS1010(新版本为IDS3010)证明了测量系统在-3.9μ m至+2.8μ m之间达到了-0.5-0.4μ m的超高精度。这种全新的高精度雷达传感器将会应用于许多全新的汽车自动驾驶领域。
  • 激光干涉仪精确测量的局限性
    激光干涉测试方法常用于高精度测量和定位,这是由于这种方法具有较高的测量分辨率和精度,甚至可以用于大尺寸范围的测量。本文重点讨论了外差式和单频式干涉仪的基本原理,并进行了相应的计量分析来描述激光干涉法的优势和局限性。本文还讨论了光纤耦合式微型干涉仪的设计和功能,以及在显微技术、纳米技术和高精度机电一体化等方面的广泛应用。
  • IDS3010在X射线成像中提高分辨率的应用
    在硬X射线成像中,每个探针平均扫描时间的减少对于因为束流造成的损伤是至关重要的。此外,系统的振动或漂移会严重影响系统的实时分辨率。而在结晶学等光学实验中,扫描时间主要取决于装置的稳定性。Attocube公司的皮米精度干涉仪FPS3010(升之后的型号为IDS3010),被用于优化由多层波带片(MZP)和基于MZP的压电样品扫描仪组成的实验装置的稳定性的测量。实验是在德国DESY Photon Science中心佩特拉III期同步加速器的P10光束线站上进行的。Attocube公司的激光干涉仪PFS3010用来检测样品校准电机引起的振动和冲击产生的串扰。基于这些测量,装置的成像分辨率被提高到了± 10nm。

高分辨率激光干涉仪相关的资料

高分辨率激光干涉仪相关的试剂

高分辨率激光干涉仪相关的论坛

  • 高分辨率光镊系统特点及应用

    [url=http://www.f-lab.cn/microscopes-system/picotweezers.html][b]高分辨率光镊系统[/b][/url]采用了德国picotweezers技术的细胞单分子力学捕获系统,是全球领先的超高分辨率激光光镊系统,是进口光镊品牌中具有超低光镊价格Optical Tweezers产品.[b]高分辨率光镊系统[/b]不仅具有光镊功能,还提供微视图像计算能力,非常方便单细胞生物力学分析.[b]高分辨率光镊系统通[/b]常与德国蔡司Axiovert、AxioA1或D1型显微镜配套使用,配备1W或5W的红外光纤激光器,提供激光捕获力高达400pN~2nN范围。高分辨率光镊系统配备压电定位位移台,在XYZ三轴三个方向具有200μm分辨率的扫描能力.[b]高分辨率光镊系统[/b]还具有视频分析功能,至少2.5nm的横向和轴向分辨率,其图像拍摄速率为200帧/秒,X、Y、Z互相成像速度为400赫兹,可对生物大分子进行0.1PN作用力分辨率的实时分析。[img=高分辨率光镊系统]http://www.f-lab.cn/Upload/ionovation-explorer.jpg[/img] [b]高分辨率光镊系统特色[/b]定量分析,在三维方向实现0.1 PN分辨率的生物为微力分析最大光阱捕获力可在1 W光纤激光器下达到400 PN通过光镊实现对捕获对象精度为纳米级别的操控 [b][b]高分辨率光镊系统[/b]应用[/b]单分子与活细胞的操控和分析 弹性模量分析、微流控分析 分子相互作用、纳米孔分析 [color=#666666][color=#000000]高分辨率光镊系统:[url]http://www.f-lab.cn/microscopes-system/picotweezers.html[/url][/color][/color]

  • 高分辨率激光共焦显微成像技术新进展

    共焦显微镜因其高分辨率和能三维立体成像的优点被广泛应用在生物、医疗、半导体等方面。文章首先分析了影响共焦显微镜分辨率的因素,主要有光源、探测器孔径和杂散光等;并结合这些因素介绍了双光子共焦碌微镜、彩色共焦显微镜、荧光共焦显微镜、光纤共焦显微镜;然后从提高系统成像速度的方面介绍了波分复用共焦显微镜和频分复用共焦显微镜;最后分析了共焦显微镜的发展趋势。一、引言随着人们对于生物医学的研究,传统的光学显微镜已经无法满足研究的需要,人们需要可以实现三维成像的显微镜。1957年Marvin Minsky提出了共焦扫描显微镜的原理。1969年,耶鲁大学的Paul Davidovits和M.David Egger设计了第一台共焦显微镜,1987年第一台商业化共焦显微镜的问世,真正实现了三维立体成像。与普通光学显微镜相比,共焦显微镜具有极其明显的优点:能对物体的不同层面进行逐层扫描,从而获得大量的物体断层图像;可以利用计算机进行图像处理;具有较高的横向分辨率和纵向分辨率;对于透明和半透明物体,可以得到其内部的结构图像;还可以对活体细胞进行观察,获取活细胞内的信息,并对获得的信息进行定量分析。自共焦显微原理被提出以来,引起了研究者的广泛关注,提高显微系统的分辨率和改善系统的性能是研究者开发新型显微镜时考虑的主要因素。近几十年,国内外学者通过对共焦显微成像系统的三维点扩散函数、光学传递函数等方面的分析,得出影响显微系统分辨率的因素,主要包括系统的激励光源、探测器孔径、杂散光等。此外,共焦显微镜的成像速度也是决定系统性能的一个重要因素,专家们也一直在进行提高系统成像速度的研究。本文主要从提高显微系统分辨率和系统成像速度这两个方面来介绍共焦显微镜的发展情况。二、共焦扫描显微镜分辨率的提高光源、探测器孔径和杂散光等是影响共焦显微镜分辨率的几个主要因素,因此可以通过改善这些方面来提高显微系统的分辨率。1.光源显微镜的成像性质在很大程度上取决于所采用光源的相干性,有关研究表明,光源相干性好的系统其分辨率要比相干性差的系统要好,并且照明光源对分辨率的改变范围达到了26.4%。因此,选取适合的照明光源对提高显微系统的分辨率有很大帮助。常规的共焦扫描显微镜主要使用普通单色激光作为光源,随着技术的进步,目前已经出现了使用飞秒激光、超白激光、高斯光束作为光源的共焦显微镜,以提高系统性能,获得更高的分辨率。①飞秒激光为光源的双先子扫描共焦显微镜双光子扫描共焦显微镜通常使用近红外的飞秒激光作为激发光源,由于红外光具有较强的穿透性,它能探测到生物样品表面下更深层的荧光图像,并且生物组织对红外光吸收少,随着探测深度的增加衰减会变小,另一方面红外光的衍射低,光束的形状保持性好。2005年,Wild等人利用双光子扫描共焦显微技术实时观察和定量分析了PAHs在植物叶片表面和内部的光降解过程。后来又进一步研究了菲从空气到叶片的迁移过程、菲在叶片内部的运动及其分布情况等,该技术可观测PAHs在叶片内部的最大深度约为200μm。②白激光( supercontinuum laser)为光源的彩色共焦显微镜彩色共焦显微镜是利用光学系统的彩色像差,光源的不同光谱成分会聚焦到样品的不同深度,通过分析由样品反射的光谱能有效地获得样品的扫描深度。2004年,美国宾夕法尼亚州立大学的Zhiwen Liu课题小组使用光子晶体光纤产生的超连续谱白光作为彩色共焦显微镜的光源,这种超连续谱白光具有大的带宽,能够提高系统的扫描范围,能达到7μm扫描深度。另外超白激光有较高的空间相干性,无斑点噪声,能提高系统的信噪比和扫描速度。③使用高斯光束的荧光共焦显微镜荧光共焦显微镜是通过激光照射样品激发样品发出荧光,再通过探测器接受荧光对样品进行观察的共焦显微镜。华南农业大学的杨初平等人研究了不同光源孔径和束斑尺寸的高斯光束对荧光共焦显微镜分辨率的影响表明:与一定孔径尺寸的平行光束相比,采用高斯光束系统可以获得更好的分辨率。 2. 探测器孔径和杂散光共焦显微镜中探测器孔径能滤除部分杂散光,提高系统的分辨率和信噪比。根据相关文献对共焦扫描显微镜的三维光学传递函数与探测器孔径之间的依赖关系的研究,可以得到探测小孔直径为:d=β*1.22λ/NA,式中,β为物镜的放大率,λ为光的波长,NA为物镜的数值孔径。由该公式确定探测器小孔的直径,一方面满足了共焦扫描系统对探测器小孔直径的要求,从而保证高的横向和纵向分辨率,另一方面,又最大限度地使由试样中发射的荧光能量被探测器接收。为了更进一步提高系统分辨率,许多研究者对共焦显微镜中探测孔径进行了改进,例如使用单模光纤代替普通针孔孔径,还有双D型孔径等。① 使用单模光纤的光纤共焦显微镜在光纤共焦显微镜中用光纤分路器代替传统共焦显微镜中的光束分路器,并以单模光纤来代替光源和探测器的微米尺寸针孔孔径。使用单模光纤的优点在于:首先,在采用寻常针孔制作的共焦显微镜中,光源、针孔、探测器等有可能不在一条直线上从而会引起像差;但是在光纤作为针孔的共焦显微镜中,即使有的部件偏离直线时也不会引入像差。其次,使用单模光纤代替微型针孔,容易清除针孔的污染,而且不易受污染。第三,在使用光纤的系统中,可以自由移动显微镜部分而不必挪动探测器。2006年德克萨斯大学使用光纤共焦显微镜进行口腔病变检测,测得的系统横向和轴向分辨率分别为2. 1µm和10µm,成像速度为15帧/s,可观测范围为200µm×200µm。② 具有D型孔径的共焦显微镜近几年,具有对称D型光瞳的共焦显微成像技术引起广泛的关注,图1所示是该系统示意图。2006年美国东北大学的Peter J.Dwyer等人使用这种共焦显微镜进行了人体皮肤内部成像的实验,测得横向分辨率为1.7士0.1µm。2009年新加坡国立大学的Wei Gong等人采用傍轴近似方法理论分析了在共焦显微镜中使用双D型孔径对轴向分辨率的影响。分析表明在图1中的d值给定时,进入瞳孔的光信号强度l会随着探测器尺寸的增加而增加;但是在探测器尺寸给定时,光信号强度I会随着d的增加而单调递减。在使用有限大小的探测器时,改变d的大小,轴向分辨率可以得到改善。 http://www.biomart.cn//upload/userfiles/image/2011/11/1321512815.png 图1 双D型孔径共焦成像系统示意图在共焦成像光学系统中,到达像面的杂散光会在像面上产生附加的强度分布,从而进一步降低了像面的对比度,限制了系统分辨率的提高,因此在显微系统设计时,杂散光的影响也是不容忽视的。一般除了使用探测小孔来抑制杂散光,其他的一些设备例如可变瞳滤波器等对杂散光也有很好的过滤作用。最近以色列魏茨曼科学研究所的O.sipSchwartz and Dan Oron等人提出在系统中使用可变瞳滤波器,这个滤波器能够使多光子荧光共焦显微镜达到分辨率阿贝极限的非线性模拟,从而改善系统的分辨率。三、共焦扫描显微成像速度的提高共焦显微镜快速的成像速度为研究者观察生物细胞中快速动态反应提供了良好的条件。在共焦扫描显微成像系统中,传统的方法是通过改善扫描探测技术来提高成像速度。现有的扫描探测技术主要有Nipkow转盘法、狭缝共焦检测法、多光束的微光学器件检测法。这些方法可以改善扫描速度,但是与系统分辨率,视场之间都存在矛盾,因此又诞生了两种提高成像速度的新型显微镜:波分复用共焦显微镜和频分复用共焦显微镜。

  • 光谱仪分辨率是什么,怎么选择

    1、什么是光谱仪分辨率光谱分辨率为探测光谱辐射能量的最小波长间隔,而确切的讲,为光谱探测能力。它是仪器对于紧密相邻的峰可以分辨的最小波长差值,表示仪器实际分开相邻峰的能力,即ν/△ν或(λ/△λ),ν为两峰中任一峰的波数,△ν为两峰波数之差。光谱仪分辨率又称波段宽度,它是指探测器在波长方向上的记录宽度,又称波段宽度(band width)。光谱分辨率被严格定义为仪器达到光谱响应最大值的50%时的波长宽度。它是最主要的仪器指标之一,也是仪器质量的综合反映。 http://www.wiyiqi.cn/uploads/allimg/150528/1-15052Q14I11Q.jpg2、限制光谱仪分辨率的因素各种光学仪器成像的清晰程度不仅要从几何光学的定律来考虑,选择透镜焦距、多个透镜的组合等,最终还要受光的衍射现象的限制.当放大率大到一定程度后,仪器分辨物体细节的性能不会再提高了.这是由于衍射的限制,光学仪器的分辨能力有一个最高的极限.根据瑞利准则,当两条强度分布轮廓相同的谱线#1的最大值和#2的最小值相重叠时,它们刚好能被分辨.入射狭缝宽度为W,出射狭缝宽度为W ,狭缝无限细时,W∃0,W ∃0.最大分辨率时的谱线轮廓如图3(a).此时理论上最大分辨率为http://www.wiyiqi.cn/uploads/allimg/150528/1-15052Q1543CT.jpg但狭缝不可能是无限细的,所以谱线会因狭缝的宽度而使光谱变宽,分辨率降低.3、如何提高光谱仪分辨率仪器的分辨率主要取决于仪器分光系统的性能。对于色散型仪器而言,其分辨率取决于分光后狭缝截取的波段精度,狭缝越小截取的波段越窄,分辨率越高。但随之而来的是能量急剧下降,灵敏度不断降低,为了兼顾检出灵敏度,就不能让狭缝无限制地缩小来提高分辨率,因此,要想让色散型的仪器分辨率达到0.1cm-1,又能得到一张质量良好的谱图是很困难的事。而对于傅里叶型的近红外光谱仪,由于有多路通过的特点,无狭缝的限制,因此仪器的分辨率仅取决于干涉采样数据点的多少,即对一定波长的光束来说,仪器的分辨率只与干涉仪动镜的移动距离有关.要想获得高分辨率,就要使动镜移动较大的距离,而移动距离越大,干涉仪制作起来就越困难.因此,就要改变光谱仪的设计,利用较短的移动来获得较大的光程差.4、如何选择光谱仪分辨率分得愈细,波段愈多,光谱分辨率就愈高,现在的技术可以达到5~6nm(纳米)量级,400多个波段。细分光谱可以提高自动区分和识别目标性质和组成成分的能力。传感器的波谱范围,一般来说波谱范围窄,则相应光谱分辨率高。举个例子:可以分辨红外、红橙黄绿青蓝紫紫外的传感器的光谱分辨率就比只能分辨红绿蓝的传感器的光谱分辨率高。一般来说,传感器的波段数越多波段宽度越窄,地面物体的信息越容易区分和识别,针对性越强。

高分辨率激光干涉仪相关的耗材

  • 中红外法布里-珀罗F-P干涉仪( F-P标准具/多光束干涉仪 2.5-14um)
    总览法布里-珀罗干涉仪(英文:Fabry–Pérot interferometer),是一种由两块平行的玻璃板组成的多光束干涉仪。其中两块玻璃板相对的内表面都具有高反射率。当两块玻璃板间用固定长度的空心间隔物来间隔固定时,它也被称作法布里-珀罗标准具或直接简称为标准具。F-P(法布里-珀罗)标准具因为平板反射率高,多光束等倾斜干涉条纹极窄,所以是一种高分辨率的光谱仪器。可用于高分辨光谱学,和研究波长非常靠近的谱线,诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移,原子移动引起的谱线多普勒位移,和谱线内部的结构形状;也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计;在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行,可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件,分析、检测激光中的光谱(纵模、横模)成分.技术参数产品特点适用于中红外平行度好端面平整度高表面质量好产品应用波长锁定器 波分复用电信网 手持光谱分析仪 光纤光栅传感系统 可调谐滤波器激光器 可调谐滤光片技术参数技术参数技术指标工作波段近红外1.3-2.0um,中红外2.5-14um直径25.4mm+/-0.05mm通光孔径22.9mm长度100mm+/-0.2mm平行度5-10 arc sec端面平整度中红外 1/4 lambda;近红外 1/10 lambda表面质量中红外80-50;近红外60-40管壳铜精细度(FSR)0.012cm-1实验测试:测试步骤:1,安装1532nm激光器,连接电源,USB线2,激光器输出连接到光纤准直器3,用BNC转BNC线连接信号发生器到激光器驱动的低频调制端口4,用BNC转BNC线连接探测器到示波器的通道2端口5,打开激光器,打开信号发生器(三角波调制,频率1KHZ,电压幅值500mW)6,激光器发出的光通过标准具,打在探测器光敏面上,通过调整标准具的角度,在示波器上查看调制波形测试结果:
  • HR4000高分辨率光谱仪
    HR4000高分辨率光谱仪我们的新一代的高分辨率光谱仪,是全新的光学和电子学器件组合。适合应用于激光特征分析,气体吸光度测量和确定原子散射线等领域。HR4000配有全新的Toshiba3648像素CCD阵列探测器,光学分辨率可达0.2 nm(FWHM)。特点: 高分辨率,最高分辨率可达0.02nm(FWHM) 电子快门避免饱和度问题 板载微控制器 即插即用USB接口 光学平台 采样附件光谱分辨率(FWFM)可达0.02nmHR4000是我们新一代高分辨率的光谱仪,它采用了Toshiba的3648像元的线阵CCD,光学分辨率可达0.02nm(FWHM)。HR4000光谱范围为200-1100nm,具体的光谱范围和分辨率配置取决于实际光栅和狭缝的选择。HR4000适用于激光测量、气体吸收测量以及原子辐射线的测量等领域。电子快门避免饱和度问题软件中积分时间的可由用户设定,它类似于一个照相机的快门速度:积分时间值即是探测器“察看”所进入光子的总体时间。因为,Toshiba探测器有一个电子快门,你可通过软件设定最小积分时间到3.8毫秒,这样就允许你可以测量像激光脉冲如此短暂的事件。使光谱仪的积分时间缩短的能力也消除了在高光水平应用领域如激光分析的饱和度问题。板载微控制器 HR4000的板载微控制器使得对光谱仪的控制非常方便。通过一个30针的连接器,您可以在软件中设置所有的光谱仪操作参数:控制光源、操作进程以及从外部对象获取信息等。配备有10个用于外部设备接口的用户可编程I/O端口、一个模拟输入和一个模拟输出接口,以及一个用于触发其它设备的脉冲发生器。即插即用USB HR4000通过USB2.0或RS-232串口和PC、PLC或其它嵌入式系统相连。在串口模式下,HR4000需要额外的5伏供电电源(不包含在产品中)。每台光谱仪特有的参数被编程存储在系统的内存芯片中,可以非常方便地被光谱仪操作软件读取。光学平台 用户通常要求光谱仪可以适合他们的特殊需要,所以HR4000光谱仪可以根据您的应用需要配置光学平台。您可以选择狭缝尺寸,探测器,滤光片和光栅等。采样附件 HR4-BREAKOUT 是一个被动模块,提供HR2000+不同功能的接口。BREAKOUT盒可与多种与光谱仪的连接如:外触发器、GPIO、光源、RS-232和模拟输入/输出。Specifications
  • BrightLine® λ /2 平整度超高分辨率激光
    BrightLine® λ/2 平整度超高分辨率激光显微镜激发块盒超高分辨率显微镜激发块盒为基于激光器的显微镜设立了新标准。这些激发块盒经过了优化处理,可以装配λ/2 平整度的1 mm 厚的超高分辨率二向色镜分光镜。zui大化信噪比、zui小化以下应用的失真。如TIRF、共聚焦、PALM、STORM、SIM 及其他超高分辨率技术。1)使用 1 mm厚的二向色镜分光镜,装配后保证达到 λ/2 P-V 每英寸的平整度2)zui大化切换速度、zui小化光斑变形、zui小化发射光的散射3)即使在使用较大直径的照明光斑时,也可zui小化反射波前扭曲4)可广泛应用于常规的激光线 & 显微镜激发块盒 (例如 奥林巴斯 U-MF2 & U-FF, 蔡司 FL Cube EC P&C, 尼康 TE 2000)传统的显微镜镜盒会显著降低二向色镜分光镜的平整度,因此会带来偏差,但是超高分辨率成像系统对光学波前扭曲非常敏感,需要zui高质量的部件以取得zui佳的系统敏感度。相对于标准的二向色镜分光镜,我们新推出的工业ling先的λ/2 平整度(厚度 1 mm )的激光二向色镜分光镜可以zui小化聚焦偏移、zui小化反射光斑的变形,但是,为了实现这些产品的全部平整度性能,这些二向色镜分光镜需要小心的安装进显微镜激发块盒中。Semrock 研发了合适的方法,可以在激发块盒中安装 λ/2 平整度的超高分辨率 1 mm 厚的二向色镜分光镜,从而保证平整度性能。该产品作为标准目录产品提供,亦可购买适用于通用显微镜型号的激发块盒。单带通 & 长通滤光片组Olympus U-MF2Olympus U-FFZeiss FL Cube& EC P&CNikon TE 2000LF405-C现货库存现货库存现货库存现货库存LF405/LP-C现货库存现货库存现货库存现货库存LF442-C现货库存现货库存现货库存现货库存LF488-D现货库存现货库存现货库存现货库存LF488/LP-D现货库存现货库存现货库存现货库存LF514-C现货库存现货库存现货库存现货库存LF561-C现货库存现货库存现货库存现货库存LF561/LP-D现货库存现货库存现货库存现货库存LF594-D现货库存现货库存现货库存现货库存LF594/LP-D现货库存现货库存现货库存现货库存LF635-C现货库存现货库存现货库存现货库存LF635/LP-C现货库存现货库存现货库存现货库存多带通滤光片组Olympus U-MF2Olympus U-FFZeiss FL Cube& EC P&CNikon TE 2000LF488/561-B现货库存现货库存现货库存六月发布LF488/561-2X-C现货库存现货库存现货库存六月发布LF488/561-2X2M-C现货库存现货库存现货库存六月发布LF405/488/532/635-B现货库存现货库存现货库存六月发布LF405/488/532/635-4X-B现货库存现货库存现货库存六月发布LF405/488/561/635-B现货库存现货库存现货库存六月发布LF405/488/561/635-4X-B现货库存现货库存现货库存六月发布LF405/488/561/635-4X4M-B现货库存现货库存现货库存六月发布
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