光谱测厚仪

仪器信息网光谱测厚仪专题为您提供2024年最新光谱测厚仪价格报价、厂家品牌的相关信息， 包括光谱测厚仪参数、型号等，不管是国产，还是进口品牌的光谱测厚仪您都可以在这里找到。 除此之外，仪器信息网还免费为您整合光谱测厚仪相关的耗材配件、试剂标物，还有光谱测厚仪相关的最新资讯、资料，以及光谱测厚仪相关的解决方案。
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光谱测厚仪相关的厂商

  • 厚谱科学仪器有限公司
    厚谱科仪于2020这个特殊的庚子年“诞生”在我国北方明珠、浪漫之都—大连，是分析仪器行业升起的一颗新星。公司凝聚了一个朝气蓬勃、才华横溢、勇于创新的一流团队。公司始终聚焦广大客户客户的需求，在“严谨的态度、创新的理念及务实的精神”指引下，并凭借自身超强的研发力量，志在为广大客户提供有着准确、稳定、可靠、高效、安全、便捷服务的高新技术产品及技术服务。 厚谱科仪产品涵盖了水质实验室分析仪器、油品实验室分析仪器及水质在线分析仪器在内的众多门类，公司能为电力、石化、化工、钢铁、环保、高校以及质检等行业的广大客户提供便捷优质的产品服务。公司的全面详细的售前支持、安全信赖的产品设计及优质快速的售后服务定能为您提供焕然一新的使用体验。 厚谱科仪志在吸纳更多的有志于献身于分析仪器行业的新秀，公司竭尽全力的为他们的快速健康成长保驾护航，愿他们能在公司这片沃土里茁壮成长，最终成为行业翘楚。 厚谱科仪全体人员：怀着“厚德载物，佳谱传世；崇尚科学，智造精仪”的初心，用最“新”的技术，用最“心”的服务，用最“辛”的努力，智造让客户满意的产品，提供让客户满意的服务。公司努力向前，最终实现“始于大连、立足祖国、放眼世界”的这一宏伟目标！
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  • 苏州华谱科学仪器有限公司
    苏州华谱科学仪器有限公司是一家高科技分析仪器企业，总部坐落于风景秀丽的江南水乡花园城市苏州。是一家专业从事以进口设备的销售为主导，为客户提供具有国际竞争力的产品及配套服务。在分析仪器行业尤其是光谱分析领域享有盛誉主要产品包括：手持式X荧光光谱仪，台式X荧光光谱仪，波长色散X射线光谱仪，直读光谱仪，移动式光谱仪，X射线涂镀层测厚仪，电感耦合等离子体发射光谱仪，原子吸收光谱仪，激光诱导击穿光谱仪等等。
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  • 山东东仪光谱仪
    山东东仪光电仪器有限公司是国内最早生产直读光谱仪的专业厂家之一，成立于2000年，位于山东省烟台莱山经济开发区，是经山东省科技厅认定的高新技术企业。2002年推出中国最具竞争力的DF-100型仪器，多项技术填补国内空白，打破了国外仪器在中国市场的垄断地位，引入了国产仪器与进口仪器的竞争。经过十余年的迅猛发展，公司建立了专业化的研发团队，仪器生产已经系列化、多元化，市场已经全球化。
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光谱测厚仪相关的仪器

  • 3V光谱仪-金属镀层测厚仪 镀层厚度检测仪
    【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】专业供应镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，应对镀锌层、镀锡层、镀镉层、镀铬层、镀铜层、镀铅层、镀铜锡合金等等。1.6 技术性能及指标: 1.6.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 1.6.2 元素含量分析范围为 1PPm 到 99.99% 1.6.3 测量时间：60-200 秒 1.6.4 检测限度达 1PPM 1.6.5 能量分辨率为 149±5 电子伏特 1.6.6 温度适应范围为 15℃至 30℃ 1.6.7 电源：交流 220V±5V（建议配置交流净化稳压电源） 1.7 产品特点:● EDX6000E 是针对镀层测厚设计的一款产品 ● 打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方 ● 采用美国新型的 Si-PIN 探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确，维护成本低 ● 采用自主研发的 SES 信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确 ● 一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化 ● 七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换 ● 多重防辐射泄露设计，辐射防护级别优于同类产品。 ● 一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全 ● 机芯温控技术，保证 X 射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本 ● 多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全 ● 专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便 ● 本机采用 USB3.0 接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】2.仪器硬件部分主要配置2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器；分辨率：149±5 电子伏特 2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大2.2 X 射线激发装置2.2.1 灯丝电流输出：1mA2.2.2 属于半损耗型部件，使用寿命达 20000 小时2.3 高低压电源2.3.1 电压输出： 50kV2.3.2 5kv 可控调节2.3.3 自带电压过载保护2.4 多道脉冲幅度分析器2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件2.4.2 通道数： 40962.4.3 包含信号增强处理2.5 光路过滤模块 2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确2.5.2 将准直器与滤光片整合2.6 准直器自动切换模块2.6.1 多达 7 种选择，口径分别为 8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 4＃，2＃, 1＃, 0.5＃ 2.7 滤光片自动切换模块2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换 2.8 准直器和滤光片的自由组合模块2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合 2.9 工作曲线自动选择模块2.9.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 操作得更轻松，使操作更人性，更方便3. 专用软件配置 3.1 专用 镀层分析软件 3.1.1 专门针对镀层检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果 3.3 专用 FP 金属镀层分析软件3.3.1 元素分析范围：从硫（S）到铀（U）3.3.2 一次可同时分析 3 层以上镀层3.3.3 分析检出限可达 0.1μm3.3.4 分析厚度一般为 0.1μm 到 30μm 之间3.3.5 多次测量重复性可达 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.6 长期工作稳定性为 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.7 配置小孔准直器，测试光斑在 0.2mm 以内3.3.8 探测器能量分辨率为 149±5eV3.3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu 等 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】
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    厂商： 苏州三值精密仪器有限公司销售总部
    品牌： 未知
    型号： EDX6000E
    价格： 10万 - 20万元
  • 激光测厚仪 400-860-5168转6021
    ZY-GT025激光测厚仪高效、便捷、高精度在盖板玻璃行业，测量盖板玻璃厚度的常用工具是千分尺。千分尺的缺点主要表现在效率低，而且可能划伤盖板玻璃，不能满足批量检测的要求。随着行业内对盖板玻璃厚度检测要求的逐渐提高，盖板玻璃生产厂家希望找到一种高效、便捷、高精度的无损测量方式，ZY-GT025激光测厚仪应运而生。ZY-GT025激光测厚仪采用激光测量方式，对盖板玻璃没有损伤。测量响应速度快，操作简单，精度高。另外，这款仪器采用锂电池供电，设计人性化，适用于多种应用场合。技术参数1. 光源类型：红色半导体激光2. 激光波长：650nm（可见光）3. 厚度测量范围：0.15~3mm4. 厚度测量精度：±0.002mm5. 读数方式：LED数显或者电脑软件显示6. 读数分辨率：0.1/0.01/0.001/0.0001/0.00001mm7. 供电方式：可充电锂电池供电（DC 24V）8. 重量：约8kg9. 尺寸：约300mm(H)×220mm(W)×325mm(D)配置清单1. 激光测厚仪主机1台2. 充电器1个3. 数据线1根4. 测试电脑1台（含测试软件1套），可选
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    厂商： 东莞市科众精密仪器有限公司
    品牌： 科众精密/kezon
    型号： ZY-GT025
    价格： 2.9万元
  • 激光测厚仪
    在盖板玻璃行业，测量盖板玻璃厚度的常用工具是千分尺。千分尺的缺点主要表现在效率低，而且可能划伤盖板玻璃，不能满足批量检测的要求。随着行业内对盖板玻璃厚度检测要求的逐渐提高，盖板玻璃生产厂家希望找到一种高效、便捷、高精度的无损测量方式，ZY-GT200激光测厚仪应运而生。ZY-GT200激光测厚仪采用激光测量方式，对盖板玻璃没有损伤。测量响应速度快，操作简单，精度高。另外，这款仪器采用锂电池供电，设计人性化，适用于多种应用场合。 技术参数1. 光源类型：红色半导体激光2. 激光波长：655nm（可见光）3. 厚度测量范围：0.5~3mm4. 厚度测量精度：±0.002mm5. 读数方式：LED数显6. 读数分辨率：0.1/0.01/0.001/0.0001/0.00001mm7. 供电方式：可充电锂电池供电（DC 24V）8. 重量：约8kg9. 尺寸：约300mm(H)×220mm(W)×325mm(D) 配置清单1. 激光测厚仪主机1台2. 充电器1个3. 标定用USB数据线1根
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    厂商： 深圳市振越科技有限公司
    品牌： 未知
    型号： ZY-GT200
    价格： 面议
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光谱测厚仪相关的资讯

  • JASIS 2018新品发布之大塚电子：测厚仪和粒度仪
    p 　　 strong 仪器信息网讯 /strong 2018年9月5日，日本最大规模的分析仪器展JASIS 2018在东京幕张国际展览中心盛大开幕，吸引来自全球各地的万余名观众参观出席。 br/ /p p 　　作为用于光学特性评价?检查的装置制造商，大塚电子在展会期间带来其测厚仪新品和粒度仪新品——nanoSAQLA。 /p p style=" text-align: center " img title=" 大塚电子非接触光学测厚仪.jpg" style=" width: 400px height: 267px " alt=" 大塚电子非接触光学测厚仪.jpg" src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201810/uepic/70d4e4a6-1e05-4247-ac98-a97f9d543eec.jpg" height=" 267" border=" 0" vspace=" 0" width=" 400" / /p p style=" text-align: center " strong 大塚电子非接触光学测厚仪 /strong /p p 　　是一种旨在缩短检测过程的装置，无需校准曲线，容易测得绝对厚度。基于其独特的光谱干涉方法，可以在短时间内非接触地轻松测量厚度(10μm至5 mm)，且外形紧凑，占用空间小。主要特点包括： 可以无接触地测量不透明、粗糙表面、易变形的样品 高重复性· 再现性 无需校准曲线测得绝对厚度 由于测量直径非常小，因此不受不均匀性的影响 不必调整样品的位置，可以通过“单独放置”来测量 由于稳定性高，操作简单 是一个光学系统，更安全。 /p p style=" text-align: center " img title=" 大塚电子多检体纳米粒度检测系统nanoSAQLA.jpg" style=" width: 400px height: 267px " alt=" 大塚电子多检体纳米粒度检测系统nanoSAQLA.jpg" src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201810/uepic/e9696875-6d17-49ce-b7ba-f09007b5607d.jpg" height=" 267" border=" 0" vspace=" 0" width=" 400" / /p p style=" text-align: center " strong 大塚电子多检体纳米粒度检测系统nanoSAQLA /strong /p p 　　nanoSAQLA为动态光散射法(DLS法)的粒度测量(粒径0.6nm-10μm)仪器。配置了进一步追求质量控制需求的各种功能。 /p p 　　实现了一种新的光学系统，兼容多种样品测量，从稀到浓的更广泛样品浓度范围，轻巧紧凑，适合实验室使用，标准为1分钟高速测量。此外，对于非浸入式样品，“5样品连续测量”配置为无自动进样器的标准设备。主要特点包括：使用一个装置轻松进行五样品连续测量 广泛浓度范围样品检测系统 高速测量，标准测量时间为1分钟 简单的测量功能(测量一键完成) 配备温度梯度功能。 /p p & nbsp /p
    时间： 2018-10-30
    作者： 段寒冰
  • 喜爱72DL PLUS超声波测厚仪的8个理由
    72DL PLUS™ 超声波测厚仪，一款能够测量超薄和多层材料的高频高速仪器。这款便携式、易于操作的仪器可以解决各行业的广泛性的棘手的厚度测量应用，比如汽车、航空航天、制造和发电等行业。为了帮助您熟悉，本文将探讨我们在您的检测工作流程中采用72DL PLUS测厚仪的主要原因。精密测厚：如何开始与如何进行更高的频率使您能够测量更薄的测试材料。过去，大多数精密超声波测厚仪的最大频率限于为20 MHz左右，最小测量厚度仅为0.005英寸（0.127 mm）左右。现在，72DL PLUS测厚仪驱动频率高达125 MHz，您可以进行超过传统超声波测厚仪最小厚度能力的测量，最小测量厚度为0.001英寸（0.025 mm）或更薄。72DL PLUS测厚仪的高速（高达2 kHz测量速率和60 Hz屏幕刷新）足以优化您的测量工作流程，无论您使用的是高频或低频的探头。这个能力结合用户友好的界面，使72DL PLUS测厚仪成为支持不同频率的大厚度范围测量的利器。以下是推荐采用72DL PLUS测厚仪的八个原因：测量比以往更薄的材料使用72DL PLUS测厚仪，基于应用，可以测量单层材料低至约0.0005英寸（0.0127 mm）。例如，您可以测量低至0.008英寸（0.20 mm）单层钢片和约0.0005英寸（0.0127 mm）单层塑料膜。要注意的是，最小厚度测量能力取决于探头频率、探头类型和待测试材料。一次显示多达6层的厚度激活多层测量软件选项，72DL PLUS测厚仪可以测量一系列多层材料，包括油漆、塑料、金属和涂层。它甚至具有同时显示多达六层厚度的能力，比38DL PLUS ™ 多出两层测量能力。高速厚度测量高速厚度测量对于时间敏感应用（如涡轮叶片测量）非常重要。作为一款测量速度高达2 kHz的高速仪器，极大地提高了生产车间的周转率。通过5种多功能测量视图监测厚度变化虽然我们的手持式测厚仪的屏幕较小，但72DL PLUS测厚仪采用全彩7英寸的触摸屏，具有高可视性。仪器支持五种不同测量视图—A扫描、B扫描、A/B扫描、趋势线和缩放，以帮助发现和跟踪厚度变化。简易设置简化厚度测量该测厚仪简化了日常厚度测量的仪器设置过程，无需在每次测量之前手动选择和调整设置。只需进入启动屏幕上的“我的应用”菜单，菜单将引导您完成创建应用程序的每个步骤。或者，您可以使用PC接口应用程序从电脑创建应用程序。易于收集、回顾和管理厚度数据内置数据记录和机载文件管理实现了高效的厚度数据采集和处理，而电脑端的PC界面应用程序支持交互工具，便于查看和管理多个设备和部件的数据。通过无线进行连接，仪器可以支持连接到‘云’端，实现工业4.0实践。它能够连接到奥林巴斯科学事业云™ （OSC），助您访问基于云的免费的的功能。工业环境中的更耐用与我们所有的测厚仪一样，该仪器的设计目标是在恶劣的工业环境中延长运行时间。它具有较好的坚固性（MIL-STD-810G），做好意外跌落或冲击的防护，并可抵抗灰尘和湿气（设计符合IP65）。该仪器可在高温和寒冷气候下进行可靠测量，工作温度范围广（–10°C至50°C或14°F至122°F）。兼容各种探头于不同厚度应用72DL PLUS测厚仪与标准频率（0.2–30 MHz）和高频（20–125 MHz）探头兼容。为了支持超薄材料测量的应用，我们扩大了高频探头的产品线。M2102（75 MHz）和M2104（125 MHz）是耐用的接触式探头，可实现非常小的频率衰减和理想的检测范围。其它探头解决方案，包括改进的给水耦合装置，均在开发中，以支持客户的特定需求。OLYMPUS现有的用于超薄材料测量的高频探头的一部分。从左到右：B126给水耦合装置和M2104探头
    时间： 2022-07-18
    作者： 仪景通光学科技
  • 发布欧屹球坑测厚仪新品
    产品简介：球坑法是一种简易实用的镀层厚度测试方法，是镀层产品质量控制或研发检测不可或缺的小型装置，用于硬质膜、固体润滑膜、陶瓷膜、金属膜等各种镀层的检测。不仅可对标准试样进行测量，也可对小型的工件进行测量。球坑法球坑仪是实现球坑法测量技术的必要仪器。球磨后，在镀层样品上形成一球坑，通过正确的测量分析，可快速得出镀层的准确厚度。主要特点：球坑法可用于分析镀层厚度、单层厚度及复合厚度。此外，配合POD销盘磨损试验机，可快速准确地测量出镀层磨损率。采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作，使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层（1 μm）的厚度。技术参数：技术规格 参数膜厚测试范围 0.5-100 μm 膜厚测试精度 0.1μm 磨球 标配直径 GCr15 钢球30mm抛光介质 W1级金刚砂研磨膏转速 10~160rpm可调定时范围 1秒~99小时电源电压 220 V AC 50/60 Hz功耗 100 Watts Maximum工作温度 0~40oC外形尺寸 ~400×250×180 mm重量 ~10K g操作电脑 选配CCD数码显微镜 选配/500万像素CCD/20-100倍放大倍数/同轴光源球坑测量软件 选配/适用于32位Windows XP/Windows 7系统质量保证 一年免费/终身维护备注 以上所列技术规格与参数更新恕不另行通知，如有疑问请联系我们创新点：采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作，使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层（1 μ m）的厚度. 欧屹球坑测厚仪
    时间： 2020-07-02
    作者： 新品发布
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  • C型架的激光测厚仪有哪些优势？

    C型架的激光测厚仪有哪些优势？

    蓝鹏激光测厚仪采用C型架结构，可以实现高精度的厚度检测，在对板形材料的厚度测量中，C形结构是采用最到的一种结构，C型架结构的激光测厚仪优势多，并且适合大多数的板材厚度检测使用。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/04/201704121700_01_3193000_3.jpgC形结构激光测厚仪的优势：★ 采用激光光源，相较于射线光源成本低，无污染。★ 采用一组测头，测量整个板型材料的厚度。★ 测量方式为横向覆盖式测量。★ 采用一组测头，相较于多组测头的测厚仪，有效的降低了成本。★ 可以动态实时的扫描测量板材厚度。★ 便于维修，C形架推出导轨，不影响生产。★ C型设计，可以安装在挤出线上使用而不影响生产。★ C型架结构坚固，水冷、风吹、多层隔热和防护。★ 良好的C型架驱动系统为测厚仪稳定工作提供了保证。★ 安装简单方便，对测厚仪可调整位置。★ 成本更低，检测点数多，性价比高。

  • 高精度测厚仪哪个好

    在选择高精度测厚仪这样大型的机械设备时，往往都通过比较做出选择，知名品牌也是参考的一点，但是设备的质量也尤为重要。大成精密高精度测厚仪就符合这两点的厂家，在国内来说，他们做的是相当不错的，自主研发生产，质量高，得到了得到了消费者的大力认可，下面我们就来介绍一下，它好在哪些方面吧： 　　1、操作简单方便　　简单方便的设备仪器不管是谁，都会非常喜欢的。如果设备仪器的操作比较繁琐或是需要专业人员来操作。厂家就会考虑很多方面，一来操作繁琐要对工作人员进行一系列的培训，二来请来的专业人员所需要的成本就会有所上升，利益就会相应减少。高精度测厚仪操作十分简单方便，这是厂家选择他们的其中一个理由。　　2、能连接数据进行打印　　测厚仪有电脑连接接口，在使用的时候可以购买相关软件，从而实现对测两次数据的储存打印，而且相关的软件还能够对测量数据进行统一，用专业的方式显示出来，从而让我们更加简单的了解测量数据机器所具有的特点。　　http://www.dcprecision.cn/Uploads/201601/56a1a0aa23fb3.jpg　　3、采用国外进口的优质元件　　专业的测厚仪传感器部件通常采用的都是国外进口的优质元件，这些优质传感器元件能够让测厚仪的测厚分辨率比普通测厚仪增加很多，这种仪器对于零点一微米的距离都能精准的测量。然而测厚仪里面的优质传动元件也是确保测厚仪工作稳定性和准确性的重要因素。　　激光测厚仪是近年来开发出的高科技实用型设备，是用于热轧生产线上实时在线式连续测量成材厚度的非接触式测量设备。它有效地改善了工作环境，具有测量准确、精度高、实用性好、安全可靠、无辐射、非接触式测量等人工测量及其它测量方法无法比拟的优点，并为轧制钢材厚度控制提供了准确的信息，从而提高了生产效率和产品质量，降低了劳动强度。　　使用大成精密激光测厚仪以来，具不完全统计，因板厚误差造成的废品率下降了50%以上，创经济效益近千万元，受到各级部门和工作人员的肯定与赞赏。

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光谱测厚仪相关的耗材

  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
  • 手持式薄膜测厚仪配件
    手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
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