光谱测量仪

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光谱测量仪相关的厂商

  • 东莞市正盛测量仪器有限公司
    东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件，机床设备及配件，电子产品及配件，仪器耗材等产品，致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询，力求成为客户可信赖的伙伴。
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  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司
    昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业，行业经验30年，市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年，同中国三坐标测量行业一起成长，经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验，依托科学严谨的管理体系，配备完善的生产手段和检测条件，测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发，根据国际市场发展趋势研发的各类新产品，始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作，为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司
    东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售，技术培训，信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务，自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来，公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师，能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下：1.日本东京光电子（TOE）激光镭射测径仪。2.日本尼康（Nikon）工业测量仪器：投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计，3.日本三丰(Mitutoyo)系列：三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列：表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密（ACCRETECH）表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠（Rational）万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业，我们不但為客户提供优质的仪器设备，还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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光谱测量仪相关的仪器

  • PL Mapping测量仪 400-628-5299
    ◆PLMapping测量◆多种激光器可选◆Mapping扫描速度：优于20点/秒◆空间分辨率：10um（物镜），50um（透镜）◆光谱分辨率：0.1nm@1200g/mm◆Mapping结果以3D方式显示◆最大8吋的样品测量◆晶片精确定位◆样品真空吸附◆可做低温测量◆膜厚测量测试原理：PL是一种辐射复合效应。在一定波长光源的激发下，电子吸收激发光子的能量，向高能级跃迁而处于激发态。激发态是不稳定的状态，会以辐射复合的形式发射光子向低能级跃迁，这种被发射的光称为荧光。荧光光谱代表了半导体材料内部，一定的电子能级跃迁的机制，也反映了材料的性能及其缺陷。操作简便、全电脑控制PMEye-3000系列PL Mapping测量仪，是一款适合于半导体晶片和LED外延片科研、生产和质量控制环节的仪器；采用整机设计，用户只需要根据需要放置合适的检测样品，无需进行复杂的光路调整，操作简便；所有控制操作均通过计算机来控制实现。全新的样品台设计，采用真空吸附方式对样品进行固定，防止对样品的损伤；可对常规尺寸的晶圆样品进行精确定位，提高测量重复性。系统采用直流和交流两种测量模式，直流模式用于常规检测，交流模式用于微弱荧光检测。荧光测量一般的PL测量仪只是测量荧光的波长和强度。PMEye-3000系列增加对激光强度的监控，并根据监控结果来对荧光测量进行校正。这样就可以消除激发光源的不稳定带来的测量误差，也使测量结果有可比性。Mapping功能PMEye-3000系列配置200X200mm的X-Y电控位移台，最大可测量8英寸的晶圆样品。用户可以根据不同的样品规格来设置扫描区域及空间分辨率，扫描速度优于每秒20个点，空间分辨率可达10um（物镜），50um（透镜）。扫描结果以3D方式显示，以不同的颜色来表示不同的荧光强度。激光器PMEye-3000系列有多种高稳定性的激光器可选，系统最多可内置2个激光器和一个外接激光器，标配为1个激光器。用户可以根据测量对象来配置不同的激光器，使PL检测更加灵活。PMEye-3000系列可内置的激光器波长有：266nm，405nm，442nm，532nm、785nm等，外置激光器波长有：325nm，632.8nm等。功能强大的软件我们具有多年的测量仪器操作软件的开发经验，熟悉用户的操作习惯，这使我们开发的这套PMEye-3000系列操作软件功能强大且操作简便。PMEye-3000系列操作软件提供单点PL光谱测量及显示，单波长的X-Y Mapping测量及显示，mapping结果以3D方式显示。同时具有多种数据处理方式来对所测量的数据进行处理。低温样品室附件该附件可实现样品在低温状态下的荧光检测。有些样品在不同的温度条件下，将呈现不同的荧光效果，这时就需要对样品进行低温制冷。如图所示，从图中我们可以发现在室温时，GaN薄膜的发光波长几乎含盖整个可见光范围，且强度的最高峰出现在580nm附近，但整体而言其强度并不强；随着温度的降低，发光强度开始慢慢的增加，直到110K时，我们可以发现在350nm附近似乎有一个小峰开始出现，且当温度越降越低，这个小峰强度的增加也越显著，一直到最低温25K时，基本上就只有一个荧光峰。GaN薄膜的禁带宽度在室温时为3.40Ev,换算成波长为365nm，而我们利用PL系统所测的GaN薄膜在25K时在356.6nm附近有一个峰值，因此如果我们将GaN薄膜的禁带宽度随温度变化情况也考虑进去，则可以发现在理论上25K时GaN的禁带宽度为3.48eV，即特征波长为357.1nm，非常靠近实验所得的356.6nm，因此我们可以推断这个发光现象应该就是GaN薄膜的自发辐射。性能及功能扫描模式单波长mapping摄谱模式峰值波长mapping；给定波长范围的积分光源405nm激光（标配）150W溴钨灯（可选，用于膜厚测量）光源调制斩波器光谱仪三光栅DSP扫描光谱仪光谱仪焦距500mm（标配）波长准确度± 0.2nm（1200g/mm，300nm）± 0.6nm（600g/mm，500nm）± 0.8nm（300g/mm，1250nm）探测器Si探测器，波长范围：200～1100nm （标配）数据采集设备带前置放大器的数字采集器DCS300PA锁相放大器SR830二维位移平台行程200*200mm，重复定位精度3&mu m样品台具有真空吸附功能，对主流的3&rsquo &rsquo ,4&rsquo &rsquo ,5&rsquo &rsquo ,6&rsquo &rsquo ，8&rsquo &rsquo 的晶片可进行精确定位Mapping扫描速度优于20点/秒Mapping位移步长最小可到1um空间分辨率10um（物镜方式），50um（透镜方式）重复定位精度3&mu m探测器选择探测器类型光谱响应范围R1527光电倍增管200～680nmCR131光电倍增管200～900nmDSi300硅光电探测器200～1100nmDInGaAs1700常温型铟镓砷探测器800～1700nmDInGaAs1900制冷型铟镓砷探测器800～1900nmDinGaAs2200制冷型铟镓砷探测器800～2200nmDinGaAs2600制冷型铟镓砷探测器800～2600nm
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    厂商： 北京卓立汉光仪器有限公司
    品牌： 卓立汉光/ZOLIX
    型号： PMEye-3000系列
    价格： 面议
  • 荧光光谱测量系统 400-628-5299
    组合式荧光光谱测量系统-OmniFluo系列荧光光谱测量系统介绍系统组成：在许多应用领域如材料学、生物学（叶绿素和类胡萝卜素）、生物医学（恶性病的荧光诊断）和环境应用中都需要用到荧光检测技术。荧光检测通常需要高灵敏度光谱仪，在大多数应用中荧光能量仅为激发光能量的0.1%，波长要长于激发光，而且是散射光。在荧光测量系统中，一定要避免激发光进入到光谱仪中。荧光实验光学布局中的一个重点是如何避免激发光进入光谱仪, 以下几种方法提供给各位参考:1. 选择TLS或TLSE系列可调单色光源作为荧光激发源，因其具有良好的单色性，杂散光低，能够较少的影响荧光的检测；2. 在光路上使用垂直90°配置，避免激发光直射或镜面反射至荧光光谱仪，可大幅降低激发光对荧光的干扰。可调单色光源+样品室＋荧光光谱仪＋数据采集及处理系统＋软件＋计算机系统优点：可同时做激发谱及发射谱,对于未知激发谱之材料可提供更有效分析工具。OmniFluo系列组合式荧光光谱测量系统OmniFluo 系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成，通过不同配件的选择，不仅可以实现荧光光谱测量，还能够实现功能的多样化，如PL、拉曼、透射反射吸收、探测器定标等光谱测量；系统采用一体化的光学调校，可以完全固定在一块精密光学平板上，只需要在初次安装时进行调校，实际应用过程中只需要对样品进行简单调整，确保在仪器使用中始终保持高效率的操作。OmniFluo-113型光子计数级稳态荧光光谱系统主要技术参数:● 激发光源：TLSE1805i-X150可调单色光源，采用150W氙灯● 激发光功率：0.3mW（@500nm，单色）● 激发光谱范围：250-1500nm（可选200-1500nm）● 激发光谱带宽：0.15-10nm（连续可调@1200g/mm光栅）● 荧光光谱仪光谱范围：200-2500nm● 荧光光谱带宽：0.1-8nm（连续可调@1200g/mm光栅）● 波长准确度：±0.25nm（Ex），±0.2nm（Em）● 波长重复性：±0.1nm（Ex，Em）● 光探测器：光子计数级光电倍增管，200-850nm● 数据采集器：DCS200PC单光子计数器，计数率：100Mcps● 系统灵敏度：纯水拉曼峰信噪比：1,000:1（RMS@带宽5nm，积分时间1s）● 超大样品室设计，便于操作，并可选配多种滤光片附件及偏振附件● 提供荧光量子产率测量附件● 可选配闭循环超低温制冷机，最低温度可达2K● 系统扩展性：采用模块化设计，可扩展至近红外波段光谱测量● 可选配锁相放大器，特别适合红外波段测量时提升系统信噪比● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能，可随时储存和提取图谱，并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算
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    厂商： 北京卓立汉光仪器有限公司
    品牌： 卓立汉光/ZOLIX
    型号： OmniFluo系列
    价格： 20万 - 30万元
  • OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统 400-628-5299
    荧光光谱仪在许多领域中被广泛应用，如：材料学（宽禁带半导体材料发光特性检测）、生物学（叶绿素和类胡萝卜素检测）、生物医学（恶性病的荧光诊断）和环境监测中都可以用到荧光检测技术。 OmniFluo “卓谱”系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成，吸收了我公司 15 年的光谱系统设计、制造经验，通过不同配件的选择，不仅可以实现荧光光谱测量，还能够实现功能的多样化，如 PL、拉曼、透射反射吸收、探测器定标等光谱测量，有效解决了传统荧光分光光度计光谱范围有限及拓展功能不足的问题。 OmniFluo “卓谱”系统采用高性能“谱王”Omni-λ系列光谱仪 / 单色仪、高灵敏度单通道或多通道探测器，采用单光子计数技术或锁相放大技术，极大的提高了荧光探测的灵敏度，使得纯水拉曼信噪比达到 1000:1 以上的水平。 OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统将 PL 和 PLE 两种荧光测试需求完美结合，采用模块化设计，可以根据需要进行系统架构的灵活调整，实现常温及低温下的荧光光谱、激发光谱测量。 OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统性能特点 ■ 模块化的结构设计——各功能模块完美结合，根据需要进行选择，后续升级方便■ 合理的空间布局——在满足功能需求的前提下尽可能占用更少的空间，且方便测量操作■ 超宽光谱范围*——200nm-2500nm■ 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性■ 宽波段、高输出功率光源——150W、500W氙灯光源可选■ 多种激光器波长可选*——266nm/325nm/375nm/405nm/442nm/532nm/785nm/1064nm等■ 量子产率测量功能可选**——扩展选项■ 电致发光(EL)功能可选**——扩展选项■ 超低温测量附件可选**——可提供≤10K的超低温测量*需根据实际需要进行配置确定；**选配项，请详细咨询。OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统参数规格表(*) 主型号OmniFluo光谱测量范围200-2500nm荧光光谱分辨率0.1nm激发光源基于150W或500W氙灯可调单色光源激发光输出带宽0.1nm-30nm激光器可选波长266nm/325nm/375nm/405nm/442nm/532nm/785nm /1064nm等探测器类型制冷型CCD 2000×256制冷型InGaAs 512×1单点 PMT 单点制冷型 InGaAs探测光谱范围200- 1000nm800-2200nm200-870nm800- 2500nm数据采集器--单光子计数器或锁相放大器锁相放大器
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    厂商： 北京卓立汉光仪器有限公司
    品牌： 卓立汉光/ZOLIX
    型号： Omni
    价格： 20万 - 30万元
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光谱测量仪相关的资讯

  • 天大科研团队在无创血糖测量仪研制上获新进展
    p 　　日前从天津大学获悉，该校徐可欣教授团队在研制无创血糖测量仪器方面取得新进展，采用光学技术可实现无创伤、快速、连续监测人体的血糖水平，其新测量技术属于国际领先水平。 /p p 　　目前，糖尿病人采用针刺取血的方法测量血糖值，疼痛且有创伤。经验证，一般人体在摄入食物后，血糖水平会在1小时左右达到峰值，2至3小时后回归正常水平。在此期间内，血糖变化会引起皮肤对光的吸收、散射变化，这些光学信号可以间接反映人体血糖水平。 /p p 　　徐可欣团队创造性地提出采用多位置环状接收光谱信号以及差分数据处理的新技术，用于抑制体温波动、皮肤出汗、人机接口变化等干扰因素影响，大大提高了测量准确性。团队还在世界上首次提出了基于浮动基准点、散射基准点等特殊测量位置进行光谱测量的新技术，用于抑制皮肤状态变化或个体差异对测量的影响。目前，该团队研制的无创血糖监测仪器，成功实现了进食后2至3小时内可以连续监测血糖变化的曲线，检测误差水平约为0.5至1毫摩尔/升，并将实现通过可穿戴式设备实现无创伤、快速、连续监测人体的血糖水平。 /p
    时间： 2018-11-16
    作者： 叶子
  • 量子点问鼎诺奖 | 滨松量子产率测量仪助力量子点测量研究
    图1 来源：诺贝尔奖委员会官网。北京时间10月4日17时45分，有着“理科综合奖”之称的诺贝尔化学奖揭晓。瑞典皇家科学院决定将2023年诺贝尔化学奖授予美国科学家Moungi G.Bawendi、Louis E Brus，俄罗斯科学家Alexei l.Ekimov ，以表彰他们对量子点的发现和研究。该奖项的授予充分表明了量子点技术在科学领域中的又一重要突破。 01量子点是一种纳米级半导体发光材料，通过施加一定的电场或光压，这些纳米半导体就会发出特定频率的光，而发出光的频率会随着半导体的尺寸的改变而变化。因此，我们通过控制它们的尺寸和形状，就可以控制其发出的光的颜色（如图2），从而获得独特的光学和电子特性（如图2）。 图2 量子点荧光随尺寸的变化示例。 由于量子点丰富的物理化学性质，吸引了很多学者投身其中，目前已经形成了很多重要的前沿技术。除了我们熟知的已经商业化的量子点液晶显示以外，量子点还可以用于未来显示、光伏发电、高性能激光光源应用、单光子光源应用以及作为荧光探针用于生物成像等。 02 作为一种独特的纳米材料，在量子点的研究中，首先会关注其光谱特征和量子产率；在一些情况下，电致发光效率和荧光寿命也是需要被测量的参数。 #宽广的光谱测量 在生物荧光探针等应用的量子点研究中，不仅需要测量可见光区的光谱，还可能需要测量近红外红外光的光谱。 图3 从可见到近红外连续光谱测量的双探测器方案。为了契合这样的需要，滨松Quantaurus-QY plus中不仅配备了高灵敏度高信噪比背照式CCD探测器（探测范围从紫外至约1100nm的近红外，如图3上左），而且配备了专门用于近红外波段的InGaAs探测器（从850nm至1650nm，如图3上右）。作为在光电行业深耕细作几十年，光探测器产品线非常宽广的技术型公司，滨松在Quantaurus系列产品中均选用了自产的探测器。并基于对探测器的深刻理解与定制，开发出了特有的“光谱无缝缝合”技术，使得通过可见光探测器和近红外探测器所得到的光谱能够衔接在一起（如图3），从而使用户可以在350-1650nm的范围内，横跨可见及近红外区域得到完整且精准的光谱和真实的量子产率数值。(如图4） 图4 文献案例：横跨可见到红外的光谱测量。500nm左右的峰为吸收光谱，1300nm左右的峰为发射光谱。(N. Hasebe, et al. Anal. Chem.&ensp 87&ensp (2015), 2360)。 #精准的量子产率测量滨松量子产率测试仪对上至100%，下至1%以下的量子产率都具有非常准确的测量能力（如图5）。 图5 滨松量子效率分析仪对一些标准样品的测试值与文献值的对比(K. Suzuki, et al. Phys. Chem. Chem. Phys. 11 (2009), 9850)。 为了得到精确的结果，除了在硬件方面精益求精，滨松也一直在研究量子产率测量中的各种误差来源。比如对于许多量子点，激发光谱和发射光谱会有所重叠（如图6）；这意味着量子点发出的荧光有可能被自身再次吸收——这种自吸收（reabsorption)现象会导致量子产率的测量值低于真实值，而且越浓的溶液低估得越厉害（如图7）。图6 几种量子点的吸收及发射光谱。实线为吸收光谱，多点连线为发射光谱；蓝绿黑红对应着量子点尺寸从小到大。(U. Resch-Genger, et al. Nat. Methods 5 (2008), 763)。 针对这种低估量子产率的可能，滨松运用了对应的自动测量流程及算法（K. Suzuki, et al. Phys. Chem. Chem. Phys.&ensp 11&ensp (2009), 9850）保证得到最为准确的量子产率读数（如图7）。 图7 自吸收（Reabsorption)校正结果示例(K. Suzuki, et al. Phys. Chem. Chem. Phys. 11 (2009), 9850)。#滨松量子产率测量仪Quantaurus-QY plus
    时间： 2023-10-23
    作者： 睿光科技
  • 支撑碳达峰碳中和 山东将突破碳排放直接测量仪器、方法等
    山东省政府新闻办今天举行新闻发布会，省市场监管局等解读《关于贯彻落实的实施意见》。《实施意见》提出，加强省级计量科学研究机构能力建设。发布会上，有记者问到，在贯彻落实《实施意见》、提升计量能力方面，山东省计量科学研究院有哪些具体落实措施？山东省计量科学研究院理事长公茂龙回答时说，山东省计量科学研究院是唯一的省级依法设置法定计量检定机构，承担建立社会公用计量标准、开展计量科学技术研究、进行量值传递和溯源等工作。近年来，山东省计量科学研究院持续强化计量能力建设，积极服务市场计量检测需求，认真履行强制检定、型式评价等法定职责，年平均检测计量器具60多万台件，服务客户2万多家，保障量值准确可靠。现有社会公用计量标准401项，国家级型式评价实验室13个，资质能力居全国同行前列。围绕《实施意见》贯彻落实，重点开展以下工作：开展重大计量科技项目研发。聚焦计量科技前沿，开展太赫兹功率、光谱测量仪器等量值传递溯源技术和量子传感、微纳米等先进测量技术研究，推动太赫兹成像等先进技术在食品药品监测、生物医学成像和国防建设等领域的应用。支撑碳达峰碳中和目标实现，开展含碳产品热值计量、元素碳计量测试方法研究，重点突破碳排放直接测量仪器、测量方法及量值溯源技术。研发用于VOCs（挥发性有机物）、NOx（氮氧化物）等现场自动监测的便携式紫外差分吸收光谱仪，实现环境监测仪器的国产化替代。实施标准物质提升工程，研制成品油快检标准物质，以及有机污染物、微（纳）米尺度颗粒物、致病菌检测、传染病筛查等标准物质。提升服务市场的能力和水平。“十四五”期间，山东省计量科学研究院将以服务市场需求、保障法制计量为出发点，持续加强计量能力建设。一是突破“高精尖”计量检测难题，研制国际领先的30MN帕斯卡式液压力标准机，填补超大力值测量及量值溯源空白；研制低浓度颗粒物校准装置，解决颗粒物浓度检测仪器的溯源难题。二是保障大众健康与安全，建立生命体征模拟仪、呼吸机标准器、血液透析装置检测仪等标准装置。三是提升法制计量保障能力，新建非接触式眼压计、测听设备耳声阻抗/导纳测量仪器、三相组合互感器等计量检定装置。搭建计量科技创新载体。在已有省级重点实验室、工程研究中心、工程技术研究中心和国家级市场监管技术创新中心基础上，申请建设国家标准物质量值核查实验室，强化标准物质量值和不确定度水平核查，提升标准物质全寿命周期监管能力。打造智慧计量实验室，建立智能计量管理系统，提升计量数据系统化水平。
    时间： 2022-10-28
    作者： 情绪波动
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  • 【孙素琴专家系列讲座】：6月3日 红外光谱测量仪器

    【专家讲座】：红外光谱测量仪器【讲座时间】：2015年06月03日 10:00【主讲人】：孙素琴 （现任清华大学分析中心研究员。从事红外光谱分析工作30年。借助于化学计量学创建了复杂体系的多级红外光谱宏观指纹分析法。）【会议简介】第三讲：红外光谱测量仪器内容提要：红外光谱仪的发展历史，傅里叶变换红外光谱仪的原理与优势，迈克尔逊干涉仪的基本结构与工作原理，傅里叶变换计算方法，红外光谱仪的光源与检测器，红外光谱仪的性能指标评价，便携式与在线式红外光谱仪。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名截止时间：2015年06月03日 9:303、报名参会： http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/14594、报名及参会咨询：QQ群—379196738

  • 各种光谱测量仪要如何区别

    目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？

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