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电子产品做高温老化性能测试方法：高温老化试验是指在一定的环境温度下经过高温老化可使产品在生产过程中出现缺陷、焊接、装配等安全隐患提前暴露，老化后再进行电气参数测量，筛选出失效或变值元件，尽可能将产品的早期失效消灭在正常使用中，从面保证产品出厂的产品能经得起时间考验。电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题有两类：第1类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；第2类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、焊接空洞、组织不稳定、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行1000个小时左右才能全部被激活（暴露）。显然，对每只元器件测试1000个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可靠的稳定期。1、升温时间的测试 将温度传感器置于高温老化试验箱工作空间内任意一点，用全功率加热，记录工作室温度从室温升至第一次达到最高工作温度的时间，其结果应不超过120min。2、表面温度测试 在高温老化试验箱工作温度第一次达到最高工作温度并稳定2h后，用温度计测试箱体表面的温度，其最高工作温度不超过200℃的试验箱，表面温度应不大于室温加35℃;最高工作温度超过200℃，表面温度应按式决定。
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产品配置单
上海荣计达仪器科技有限公司为您提供《电子产品做高温老化性能测试方法》，该方案主要用于电子元器件产品中电子产品做高温老化性能测试检测，参考标准《暂无》，《电子产品做高温老化性能测试方法》用到的仪器有高温老化试验箱温度老化测试试验机荣计达仪器、高温试验箱高温老化试验室1000L荣计达仪器。
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