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CMOS 图像传感器测试仪SG-A快速安装和快速部署可以帮助您加快上市时间 SG-A 系统是世界上第一个商用 CMOS 图像传感器测试仪。SG-A 可以提供最全面的 CMOS 图像传感器参数表征，如全光谱量子效率 QE、整体系统增益 K、时间性暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、DSNU、PRNU、线性误差和首席射线角 CRA。被测设备可以是几种类型的 CMOS 图像传感器模块。检验程序符合 EMVA 1288 标准。因此，SG-A CMOS 图像传感器测试仪可用于进行晶圆级光学检测、加工参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS 图像传感器测试仪的高度准直光束（<1°）可以克服传统光学系统（如积分球系统）无法解决的新制造工艺的检测困难。这些工艺包括小像素（< 1 um）、BSI 和 3D 堆叠、微透镜、新的拜耳阵列设计特色无损光学检测。高度准直梁角 / 高准直波束角 < 0.05 度, < 0.1 度, < 0.5 度, < 1 度, < 3 度 (不同型号)高均匀光束点：≥ 99%。光的不稳定性 ≤1%。高动态范围测试能力：80dB ~ 140dB（不同型号）。可以测试 CMOS 图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流 / 噪声、信噪比、饱和容量、线性误差（LE）、DCNU（暗电流不均匀性）、PRNU（光响应不均匀性）、CRA（首席射线角）。全光谱波长范围：300nm – 1100nm 或 350nm ~ 1000nm（PTC）。波长可扩展至 1700 纳米以上。DUT 封装：CIS 模块，PCB 板级，CIS 摄像头，有 / 无微透镜。SG-A 和 DUT 之间的 “直接 “或 “握手 “通信协议。定制的测试夹具和平台（手动或自动，最多 6 轴）。强大的分析软件 ARGUS®。应用：指纹识别（CIS + 镜头，CIS + 准直器，TFT 阵列传感器）CIS 的微透镜设计，晶圆级光学检测，CIS DSP 芯片算法开发，Si TFT 传感器面板，飞行时间相机传感器，接近传感器（量子效率，灵敏度，线性度，SNR 等），d-ToF 传感器，i-ToF 传感器，多光谱传感器，环境光传感器（ALS），指纹显示（FoD）传感器。
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光焱科技股份有限公司为您提供《Enlitech的SG-A量子效率检测与传统CIS缺陷检测有何不同?》，该方案主要用于信息技术类设备中AOI检测 成像质量检测检测，参考标准《暂无》，《Enlitech的SG-A量子效率检测与传统CIS缺陷检测有何不同?》用到的仪器有光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪。
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