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CMOS 图像传感器测试
全光谱的波长范围：300 – 1100 纳米或 350 – 1000 纳米（PTC）
量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流 / 噪声、信噪比、饱和容量、线性误差（LE）、DCNU（暗电流不均匀性）、PRNU（光响应不均匀性）、CRA（首席射线角）
- d-ToF 传感器，i-ToF 传感器
光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪产品简介：
光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪是商用CMOS图像传感器测试仪，可以提供全面的CMOS图像传感器参数表征。被测设备可以是几种类型的CMOS图像传感器模块。检验程序符合EMVA 1288标准。因此，可用于进行晶圆级光学检测、加工参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS图像传感器测试仪的高度准直光束（<1°）可以克服传统光学系统（如积分球系统）无法解决的新制造工艺的检测困难。
特色
*无损光学检测。
*高度准直梁角 /高准直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,9<3度 (不同型号)
*高均匀光束点：≥ 99%。
*光的不稳定性≤1%。
*高动态范围测试能力：80dB~140dB（不同型号）。
*可以测试CMOS图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流/噪声、信噪比、饱和容量、线性误差（LE）、DCNU（暗电流不均匀性）、PRNU（光响应不均匀性）、CRA。
*全光谱波长范围:300nm-1100nm或350nm~1000nm（PTC）。
*波长可扩展至1700纳米以上。
*DUT 封装：CIS 模块，PCB 板级，CIS 摄像头，有/无微透镜。
*SG-A和DUT之间的 “直接 “或 “握手 “通信协议。
*定制的测试夹具和平台（手动或自动，最多6轴）。
*功能完整的分析软件ARGUS®。
*应用：指纹识别（CIS+镜头，CIS+准直器，TFT阵列传感器）
*CIS的微透镜设计，
*晶圆级光学检测，CIS DSP芯片算法开发，Si TFT传感器面板，
*飞行时间相机传感器，接近传感器（量子效率，灵敏度，线性度，SNR等），
*d-ToF传感器，i-ToF传感器，多光谱传感器，
*环境光传感器（ALS），指纹显示（FoD）传感器。
系统设计
规格
光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪的功能很好，因此相关的规格和配件也很齐全。更多细节可再了解。
以下是主要的能力规格:
– 全光谱的波长范围：300-1100nm或350-1000nm（PTC）
– 波长范围可以扩展到1700 nm或更高
– 单一波长源：470nm、530nm、630nm、940nm（±5nm），或自定义
– 动态范围：80dB、100dB或140dB
– 测试夹具：DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制
– 平台：非、手动3轴，或6轴（手动+自动）平台（可定制）
应用范围
光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪可用于：
*指纹识别（CIS+镜头、CIS+准直器、TFT-阵列传感器)
*CIS的微透镜设计，晶圆级光学检查
*CIS DSP 芯片的算法开发
*Si TFT 传感器面板
*飞行时间相机传感器
*近距离感应器 (量子效率、灵敏度、线性度、SNR等。)
*d-ToF传感器、i-ToF传感器
*多光谱传感器
*环境光传感器 (ALS)
*指纹显示（FoD）传感器
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否
有
有
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