当前位置: 半导体材料 > 方案详情

高纯砷烷、磷烷中杂质分析检测方案(气相色谱仪)

检测样品 半导体材料

检测项目 杂质分析

关联设备 共1种 下载方案

方案详情

本文主要介绍配置DID氦离子化检测器、样品管道采取负压方式进样分析磷烷的原理及方法,一次进样同时检测出高纯磷烷中的微量杂质H2、O2+Ar、N2、CH4、CO、CO2、SiH4、AsH3。并验证方法的可行性。

智能文字提取功能测试中

本文主要介绍配置DID氦离子化检测器、样品管道采取负压方式进样分析磷烷的原理及方法,一次进样同时检测出高纯磷烷中的微量杂质H2、O2+Ar、N2、CH4、CO、CO2、SiH4、AsH3。并验证方法的可行性。详情见附件                    

关闭

产品配置单

爱尔兰AGC仪器有限公司北京代表处为您提供《高纯砷烷、磷烷中杂质分析检测方案(气相色谱仪)》,该方案主要用于半导体材料中杂质分析检测,参考标准《暂无》,《高纯砷烷、磷烷中杂质分析检测方案(气相色谱仪)》用到的仪器有AGC 600DID氦离子化气相色谱仪。

我要纠错

推荐专场

相关方案