400G 光模块中高低温测试检测方案(高低温试验箱)

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上海伯东美国 inTEST ECO-560 高低温测试机成功应用于研发 400G 光模块可靠性测试.

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‍‍上海伯东美国 inTEST ECO-560 高低温测试机成功应用于研发 400G 光模块可靠性测试.光模块客户案例: 上海伯东某制造高速光引擎及光模块客户, 其主要产品速率锁定在 10G (含) 以上25G /40G/ 100G/ 200G/ 400 Gbps, 光模块目前广泛应用于数据中心, 5G 移动通信和人工智能行业.光模块需要高低温测试原因: 客户 400G 新产品目前在研发阶段, 要求温度在 -40℃~80℃, 因为产品最终会应用于数据中心, 5G 移动通信和人工智能等行业, 对光模块的稳定性和可靠性要求较高, 因此需要做温度循环和温度的冲击测试.光模块高低温测试方法: 鉴于客户预算有限, 推荐使用上海伯东美国 inTEST 经济型高低温测试机 ECO-560, 测试温度 -60℃~150℃ , 变温速率 -40至 +105°C <15 s, 主要用于测试客户研发的 100G 和400G 光模块, 通电测试,单次测试一块板子.1. 将待测元件放置在测试治具 T-Cap2. 操作员设置需要测试的温度范围3. 启动机器, 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理, 然后空气经由外部管路到达加热头进行升温 若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生                    ‍‍

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伯东公司德国普发真空pfeiffer为您提供《400G 光模块中高低温测试检测方案(高低温试验箱)》,该方案主要用于电子元器件产品中可靠性测试检测,参考标准《暂无》,《400G 光模块中高低温测试检测方案(高低温试验箱)》用到的仪器有伯东 inTEST ThermoStream 热流仪高低温测试机。

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