longwood
第5楼2007/10/27
我觉得不是磁性造成的。
因为高分辨时,物镜工作,样品处磁场强度约为2T,且平行光轴, 因此样品应该被完全磁化至平行光轴方向,样品内部磁场不太可能对同样平行光轴方向的电子起作用。
即使是在低倍的lorentz microscopy模式,物镜关闭,还存在水平方向的磁场,那么电子强束穿过样品仅仅位相会受磁场影响有变化,幅度不会变化,因此聚焦情况下看不到磁畴壁处图像强度的变化,只有在深度欠焦或聚焦时,才可能观察到畴壁。这时欠焦或聚焦量达毫米级。
而高分辨焦距改变一般不过几十上百纳米,应该看不到强度的变化。而且强度的变化范围在微米级别以上区域。
我做过一些FeCo纳米晶软磁材料的TEM研究,在lorentz模式和全息模式下均清楚看到磁畴的分布和磁力线分布,但是在物镜工作的高分辨模式下,无定形区域,正确聚焦的情况下,均没有类似现象,和非磁样品一样。
而且楼主的照片,任意取一小区域,作傅立叶变换,仍然会有同样的现象。这就说明不是样品某一处衬度的特征造成的,而是整个图像的效应。
因此我觉得还是像散造成的,可能聚焦也不太正确。
当然还有一种可能,电压中心或电流中心没有调整好,那么电子束并不平行于光轴,但是这仅仅相当于样品内部磁场叠加于样品处物镜磁场,两者方向肯定是相同的,只是需要重新聚焦,也应该不会出图中的情况。
zs
第6楼2007/10/28
解释的非常棒,肯定是像散,我做过各种各样的Fe3O4纳米颗粒以及强磁性合金,做磁性样品就得首先严格合轴,再消像散,反复调整,有时甚至换一个地方就得重新调,做电镜讲究的是耐心!